迎风紧致格式的混淆误差分析及其同谱方法的比较

对运用迎风紧致格式求解非线性方程时混淆误差产生的机理进行了研究，通过算例对五阶迎风紧致格式与谱方法进行了比较，发现在混淆误差的处理上迎风紧致格式优于谱方法。

石英波片偏光干涉谱的研究

根据石英晶体双折射率的色散特性,对石英波片的偏光干涉谱进行了理论分析和数值模拟,提出了一种石英波片延迟量和厚度的偏光干涉标定法。即由偏光干涉谱,可以得出石英波片在200～2000 nm宽光谱范围内的延迟量；通过对长波段的偏光干涉谱极值波长的精确判断,可以准确地计算出该石英波片的厚度。利用Lambda 900 紫外可见近红外分光光度计对一片石英波片的偏光干涉谱进行了测量。在波长精度为0.1 nm的情况下,测量的厚度精度为0.1 μm。误差分析结果表明,通过提高光谱的最小分辨力及选择较长的光谱波段进行测量计算

平行平板角位移干涉测量仪的优化设计

提出一种可提高平行平板角位移干涉测量仪测量精度的优化设计方法。对角位移干涉测量系统进行了误差分析，讨论了影响角位移测量精度的主要因素。分析了在干涉仪光路中入射到平行平板上的初始入射角度、平行平板的折射率以及厚度等参数的选取对角位移测量精度的影响。结果表明，优化选取最佳的初始入射角度以及元件参数，并在干涉光路中附加引入一平面反射镜形成光程差放大系统，可实现的角位移测量精度达10-8 rad数量级。

波片相位延迟的精确测量及影响因素分析

提出一种精确测量波片相位延迟的方法。将待测波片置于起偏器和检偏器之间,转动待测波片和检偏器至不同的位置并探测输出的光强,得到波片的相位延迟。采用光源调制技术和解调技术,抑制了连续光所无法克服的背景光干扰和电子噪声的干扰;将光路分为测量光路和参考光路,采用软件除法技术,消除了光源波动的影响,从而实现波片相位延迟的精确测量。详细分析了影响测量精度的误差因素,主要有光源波长变化、温度变化、入射角倾斜、转台转角误差和光源波动,计算了1064 nm波长时厚度为0.52 mm的λ/4多级结晶石英波片产生的相位延迟误差

外差干涉仪混频误差分析

共光路外差干涉仪具有很高的分辨率．但因为安装、调试误差会产生非线性误差．影响系统的测量精度。着重分析了在共光路外差干涉仪中由激光光源的椭圆偏振化和沃拉斯顿棱镜的安装方位角误差同时存在的情况下，引起的频率混叠综合误差的大小及变化规律。结果发现其造成的非线性误差可达2．2nm，同时还发现两者造成的误差在某些情况下存在一定程度的相互抵消作用。讨论了提高测量系统精度的有效措施，对正确设计和调试激光外差测试系统、提高测量系统精度具有重要意义。

LBO晶体上1064nm，532nm二倍频增透膜的设计及误差分析

采用矢量合成法设计了LiB3O5（LBO）晶体上1064nm，532nm二倍频增透膜，在1064nm处的反射率为0．0014％，532nm处的反射率为0．0004％。根据误差分析，薄膜制备时沉积速率精度控制在＋6．5％时，1064nm处的反射率增加至0．22％，532nm处增加至0．87％。材料折射率的变化控制在＋3％时，1064nm处的反射率达0．24％，532nm处达0．22％。沉积速率和折射率控制的负变化不增大特定波长处的剩余反射率。与膜层折射率相比，薄膜物理厚度对剩余反射率的影响小。低折射率膜层的

光学薄膜中界面层和表面吸附层对相位延迟的影响

多层介质反射镜在非正入射的时候，两个不同的偏振态之间会产生不同的相移．根据空气与膜层、膜层之间的实际情况，建立了界面层和表面吸附层模型，并运用它分析相位延迟产生误差的原因．通过优化设计，入射角为54°，在1285～1345nm之间p，s波获得了270±1°的相移，同时也使反射率在99．5％以上．用离子束溅射技术制备相位延迟膜，用分光光度计测试了光谱特性和用椭偏仪测试了相位特性，在相应波段获得了262．4±1．8°的相移，同时也使反射率在99．6％以上．误差的主要来源是离子源工作特性会产生不均匀的过渡层和最

氧碘激光器相位延迟片的制备与性能研究

多层介质反射镜在非正入射的时候，两个不同的偏振态之间会产生不同的相移。利用矩阵法，根据菲涅耳公式和电磁场边界条件，推导出p，s波的相移。通过优化设计．入射角为54°，在1285～1345nm之间p，s波获得了270°±1°的相移，同时也使反射率在99．5％以上。用离子束溅射技术制备相位延迟膜，用分光光度计测试了光谱特性和用椭偏仪测试了相位特性，在相应波段获得了262．4°±1．8°的相移，同时也使反射率在99．6％以上。误差的主要来源是离子源工作特性会产生不均匀的过渡层和最外层会吸收一些水气、灰尘等也产生

三硼酸锂晶体上1064 nm, 532 nm, 355 nm三倍频增透膜的设计

采用矢量法设计了三硼酸锂晶体上1064 nm、532 nm和355 nm三倍频增透膜,结果表明1064 nm、532 nm和355 nm波长的剩余反射率分别为0.0017％、0.0002％和0.0013％。根据误差分析,薄膜制备时沉积速率精度控制在＋5.5％时,1064 nm、532 nm和355 nm波长的剩余反射率分别增加至0.20％、0.84％和1.89％。当材料折射率的变化控制在＋3％时,1064 nm处的剩余反射率增大为0.20％,532 nm和355 nm处分别达0.88％和0.24％。与薄膜

4H-SiC基底Al_2O_3/SiO_2双层减反射膜的设计和制备

在4H-SiC基底上设计并制备了Al2O3/SiO2紫外双层减反射膜,通过扫描电镜(SEM)和实测反射率谱来验证理论设计的正确性。利用编程计算得到Al2O3和SiO2的最优物理膜厚分别为42.0nm和96.1nm以及参考波长λ=280nm处最小反射率为0.09%。由误差分析可知,实际镀膜时保持双层膜厚度之和与理论值一致有利于降低膜系反射率。实验中应当准确控制SiO2折射率并使Al2O3折射率接近1.715。用电子束蒸发法在4H-SiC基底上淀积Al2O3/SiO2双层膜,厚度分别为42nm和96nm。SEM截面图表明淀积的薄膜和基底间具有较强的附着力。实测反射率极小值为0.33%,对应λ=276nm,与理论结果吻合较好。与传统SiO2单层膜相比,Al2O3/SiO2双层膜具有反射率小,波长选择性好等优点,从而论证了其在4H-SiC基紫外光电器件减反射膜上具有较好的应用前景。

高性能193nm反射膜的制备与误差分析

分析了膜厚控制误差对反射膜设计曲线的影响，发现高低折射率材料厚度反方向变化时（高折射率膜层厚度增加，低折射率膜层厚度减小），反射膜的反射率变化不明显，设计的膜系结构对这种膜厚变化方式的制造误差宽容。在此基础上制备了193nm反射膜，结果表明退火前光学损耗相对较大，实验结果与理论计算结果存在一定差距，并且散射损耗在总的光学损耗中所占比例很小，而吸收损耗占光学损耗的主要部分，起主导作用。退火后光学损耗明显下降，实验结果与理论计算结果更为接近，193nm反射膜的反射率达98％以上。散射损耗增加至接近吸收损耗的水平，不过在总的光学损耗中仍然占比较小的比例。说明当吸收损耗下降到一定程度时，散射损耗所起的作用也是不可忽视的。

分布式水文模型的误差分析

分布式水文模型以其具有明确物理意义的参数结构和对空间分异性的全面反映,能够准确详尽地描述和模拟流域内真实的降水径流过程而被广泛需求和关注。在模拟土地利用、土地覆盖、水土流失等各种变化过程的水文响应,面源污染、陆面过程、气候变化影响评价等诸多领域都有广泛的应用。模型的预报精度和误差至关重要,决定了模型的应用和推广。在分析分布式水文模型建立和验证过程的基础上,提出了模型的4类误差来源:被排除在外的因素引起的误差,实测历史记录资料的随机或系统误差,参数误差和模型结构误差,讨论了各类误差的分析与计算方法,为模型的发展和成长提供了依据。

加速器高频误差分析系统的设计与实现

兰州重离子加速器冷却储存环的控制系统由磁场电源控制系统、真空控制系统、高频控制系统等许多子控制系统所组成。 本文所论述的对象是高频控制系统。本文所研究的主要问题，就是如何在对高频信号合理采样后，从得到的数字信息中提取出信号的有用信息。采用普通的通信接收机结构难以实现对高频信号的分析，因此应用软件无线电接收机原理，针对高频信号的特殊情况，设计实现了一个高频信号信息的分析系统。系统主要使用DSP处理器

传感器网络中无线电干涉定位系统的多径误差分析

根据多径信号的物理特性,从理论上推导了镜反射的多径误差简便模型,基于该模型进行了无线电干涉定位系统的多径误差分析.讨论了衰减因子、天线高度和水平距离等多径参数对测量结果的影响,并且进行了仿真计算和分析.结果表明,高精度定位必须考虑多径效应.

基于模型差分析的旋翼飞行机器人航向与垂向预测控制方法

本文针对旋翼飞行机器人全包线机动飞行中的驱动器滞后以及动力学模型时变的问题,提出了应对不确定性动力学模型的基于模型差分析的增量平稳预测控制方法。该方法首先通过建立增量平稳预测过程模型来应对驱动器输出滞后与稳态模型以及系统工作点的不确定性,并提升控制系统鲁棒性。然后通过自适应集员滤波器在线估计系统瞬态动力学与名义模型的偏差来补偿全包线飞行中时变模型对于名义控制器跟踪性能的影响。最后,通过实际的飞行试验验证了此方法能够有效的解决全包线飞行中航向与垂向的驱动器滞后与动力学时变问题,并且可以实用于旋翼机器人航向与垂向的全包线自主飞行控制。