Fabricació de Lents Zonals de Fresnel per aplicació als raigs X tous

Estudi elaborat a partir d’una estada al Paul Scherrer Institut del Maig a l’Octubre del 2006 amb l’ajuda i supervisió dels Dr. Konstantins Jefimovs i Dr. Christian David. Focalitzar raigs X tous és una necessitat essencial per al microanàlisis, la microscopia, i fer imatges en moltes Instal·lacions de Radiació Sincrotró. Les Lents Zonals de Fresnel (FZP, de la denominació anglesa “Fresnel Zone Plates”) han demostrat donar uns punts focals amb una resolució espacial destacada i una baixa il·luminació de fons. Tanmateix, la fabricació de FZP és complexa i no totalment reproduïble. A més a més, el temps de vida de les FZP és força curt, ja que estant situades sobre membranes de nitrur de silici molt fines i altament absorbents. Per tant, hem fet esforços per implementar FZP de silici, que s’espera que siguin més resistents. L’element està fet d’una oblia de cristall de silici poc absorbent, i no presenta cap interfase entre materials. Així doncs, aquestes lents són especialment adequades per a aguantar les extremes càrregues de radiació de les fonts de raigs X més brillants. Particularment, això és molt important per a les aplicacions a les pròximes generacions de fonts de raigs X, com els Làsers d’Electrons Lliures (FEL, de la denominació anglesa “Free Electron Laser”). El silici també garanteix que no hi hagi cap banda d’absorció en el rang d’energies de la finestra de l’aigua (200-520 eV), fent aquestes lents ideals per a fer imatges de mostres biològiques. En aquest informe, hi ha una descripció detallada de tots els passos involucrats en la fabricació de les Lents Zonals de Fresnel de silici. En resum, les estructures de FZP es modelen sobre una resina utilitzant litografia per feix d’electrons i llavors el patró es transmet al silici mitjançant un gravat d’ions reactius (RIE, de la denominació anglesa ‘Reactive Ion Etching’) utilitzant una fina (20 nm) màscara de Crintermitja. Les membranes de silici es poden aprimar després de la fabricació de les estructures per a garantir una transmissió suficient fins i tot a baixes energies. Aquest informe també inclou l’anàlisi i la discussió d’alguns experiments preliminars per avaluar el rendiment de les Si FZPs fets a la línia de llum PolLux del Swiss Ligth Source amb l’ajuda dels Dr. Jörg Raabe i Dr. George Tzvetkov.

Anàlisi de la composició en metalls pesants de sòls adjacents a carreteres per fluorescència de raigs X portàtil

L’objectiu del present estudi és la caracterització i avaluació del grau de contaminació per metalls pesants dels sòls adjacents a una carretera de l’àrea metropolitana de Barcelona. Aquesta caracterització inclou la comparació dels valors mesurats amb els nivells màxims legals i la determinació de l’origen antropogènic o litogènic dels metalls mitjançant mètodes estadístics. Per a assolir aquest objectiu, s’emprarà la tècnica de la fluorescència de raigs X portàtil (FPXRF), de manera que l’estudi també inclourà la validació dels resultats obtinguts mitjançant aquesta tècnica per comparació amb un mètode de referència, així com l’estudi de la principal limitació que presenta la tècnica, que és la presència d’humitat a les mostres.

Energy dispersive X-Ray fluorescence : measuring elements in solid and liquid matrices

The subject of this project is about “Energy Dispersive X-Ray Fluorescence ” (EDXRF).This technique can be used for a tremendous variety of elemental analysis applications.It provides one of the simplest, most accurate and most economic analytical methods for thedetermination of the chemical composition of many types of materials.The purposes of this project are:- To give some basic information about Energy Dispersive X-ray Fluorescence.- To perform qualitative and quantitative analysis of different samples (water-dissolutions,powders, oils,..) in order to define the sensitivity and detection limits of the equipment.- To make a comprehensive and easy-to-use manual of the ‘ARL QUANT’X EnergyDispersive X-Ray Fluorescence’ apparatus

Quantitative x-ray photoelectron spectroscopy study of Al/AlOx bilayers

An x-ray photoelectron spectroscopy (XPS) analysis of Nb/Al wedge bilayers, oxidized by both plasma and natural oxidation, is reported. The main goal is to show that the oxidation state¿i.e., O:(oxidize)Al ratio¿, structure and thickness of the surface oxide layer, as well as the thickness of the metallic Al leftover, as functions of the oxidation procedure, can be quantitatively evaluated from the XPS spectra. This is relevant to the detailed characterization of the insulating barriers in (magnetic) tunnel junctions

Aplicación de la técnica de espectrometría de fluorescencia de rayos-X en el estudio de la dispersión de metales en áreas mineras

One critical factor for success in characterizing metals polluting mining environments so as to be able to eliminate them and subsequently recover these areas depends upon a speedy and correct response in the analysis of samples. Rapid, simultaneous, multi-element analysis can be undertaken using X-ray fluorescence spectrometry, a versatile, non-destructive analytical technique commonly employed to identify both major and minor elements in samples related to environmental studies. An additional advantage of this technique is the possibility of conducting the analysis directly on solid samples, which is extremely convenient when dealing with environmental samples that are difficult to dissolve, such as soils, sediments and mining wastes. Moreover, in recent years the development of spectrometers equipped with digital-signal processors combined with enlarged X-ray production, using better designs for excitation-detection, has contributed to an improvement in instrumental sensitivity, thus allowing us to detect important polluting elements such as Cd and Pb at trace levels. In this paper the authors describe, on the basis of their own experience, some interesting applications of XRF spectrometry for the analysis of several types of environmental samples related to the study of the dispersion of metals within mining environments: (A) analysis of mining wastes, soils and sediments; (B) analysis of samples of vegetation used as bioindicators or related to phytoremediation studies; and (C) analysis of water samples related to mining operations

Estrelles binàries de raigs-X amb emissió ràdio

Les binaries o estrelles dobles fisiques son sistemes formats per dues estrelles lligades gravitatoriament. Avui en dia sabem que aquest és un fenomen molt comú a la galaxia, on aproximadament la meitat de les estrelles s'han format i han donat lloc a aquesta mena de sistemes...

Hydrogen-induced changes in the breakdown voltage of InP HEMTs

In this work, electrical measurements show that the breakdown voltage,BVDG, of InP HEMTs increases following exposure to H2. This BVDG shift is nonrecoverable. The increase in BVDG is found to be due to a decrease in the carrier concentration in the extrinsic portion of the device.We provide evidence that H2 reacts with the exposed InAlAs surface in the extrinsic region next to the gate, changing the underlying carrier concentration. Hall measurements of capped and uncapped HEMT samples show that the decrease in sheet carrier concentration can be attributed to a modification of the exposed InAlAs surface. Consistent with this, XPS experiments on uncapped heterostructures give evidence of As loss from the InAlAs surface upon exposure to hydrogen.

Identifiació arqueològica i arqueomètrica de noves produccions de Terra Sigillata Hispànica a l'àrea dels Pirineus catalans

Les excavacions realitzades a la Cerdanya han proporcionat l'evidencia arqueologica de la possible existencia d'una producció local de TSH, que inc10u les fonnes tradicionals i d'altres formes noves. Per tal de contrastar aquesta hipotesi, s'ha desenvolupat un estudi arqueometric per FRX i DRX. EIs resultats mostren l'existencia de diverses produccions desconegudes fins el present, sense que cap deis materials estudiats hagin pogut associar-se al taller d' Abella ni a les produccions de l'area de Tricio. Aquestes noves produccions ofereixen, a més, una important diversitat tecnologica.

Método de diferenciación de Caolinitas y Cloritas

En el presente trabajo se hace una revision bibliografica de 10s distintos mtodos de identificacin de Caolinita y Clorita en mezclas naturales y artificiales, valorando la distinta problematica que presentan cada uno de ellos, y aplicandolos a muestras patrones y mezclas naturales que presentan esta problematica a fin de obtener una mejor valoraci6n de 10s distintos mtodos expuestos.

Electron probe microanalysis: principles and applications

This article summarizes the basic principles of electron probe microanalysis, with examples of applications in materials science and geology that illustrate the capabilities of the technique.

Caracterizacion por difraccion de rayos-X, analisis termico y espectroscopia Raman de los cristales mixtos Li(NH4)(1-x)KxSO4

En este trabajo se estudia la preparació n y caracterizació n de las fases de los cristales mixtos de f órmula Li(NH4)1-xKxSO4. La caracterizacói n se ha efectuado por aná lisis té rmico con DSC y ATD, difracci ón de rayos-X sobre polvo cristalino con temperatura variable, difracci n de rayos-X sobre muestra monocristalina a temperatura variable a fin de determina su estructura cristalina y por espectroscop"a Raman a temperatura variable. Se han obtenido dos tipos de fases. Una soluci n s lida con 0.94 < x < 1 que presenta los mismos tipos estructurales que el LiKSO4, pero seg n el m todo de cristalizaci n pueden aparecer nuevas fases que no presenta el LiKSO4. El segundo tipo de compuesto tiene por f rmula Li(NH4)0.53K0.47SO4, el cual presenta una estructura hexagonal con par metro a » 3 aLiKSO4. Este compuesto tiene por encima de la temperatura ambiente una sola transici n a 463K.

Rediseño del Servicio de Difracción de Rayos X de la UAB

Estudio de la ampliación de los espacios del Servicio de Difracción de Rayos X de la UAB a partir de una sala adyacente tras la compra de nueva maquinaria. Rediseño de los espacios disponibles para difracción y para oficinas para su actualización adaptando la zona a las nuevas tecnologías. El estado actual del Servicio y sus usuarios establecen los requisitos de la reforma y las necesidades que presenta este proyecto. Se justificarán las soluciones adoptadas para cada uno de los ámbitos de estudio como son la distribución en planta, seguridad estructural, insonorización, ventilación e iluminación.

Estudio de cerámicas nanoestructuradas mediante difracción de rayos X y microscopía electrónica de alta resolución

Este proyecto trata sobre la determinación de las relaciones epitaxiales que se dan entre una capa de NGO (Oxido de Neodimio-Galio) y una capa depositada de CGO (Óxido de Cerio dopado con Gadolinio). Con ello buscamos estudiar indirectamente como podemos producir las dislocaciones antes citadas mediante la tensión superficial que se crea al dar lugar un crecimiento heteroepitaxial auto-ensamblado de nanohilos sobre un substrato. Para utilizar en el futuro esta cerámica nanoestructurada como plantillas de superconductores. Abordaremos este objetivo mediante dos vertientes distintas. Por un lado, mediante el estudio de una muestra mediante difracción de rayos X en dos dimensiones (DRX2). Y paralelamente mediante su visualización usando Microscopía Electrónica de Transmisión (MET).