Determinación de alturas del cable de guarda para minimizar el número de salidas de una línea de alta tensión de 230kV por descargas atmosféricas

Tesis (Ingeniera Eléctrica).--Universidad de La Salle. Facultad de Ingeniería. Programa de Ingeniería Eléctrica

Análisis no convencional por fluorescencia de Rayos X (Estudio de superficies y análisis con resolución espacial)

[El presente proyecto] aborda el tema de espectroscopía por fluorescencia de Rayos X (FRX) no convencional, en particular el estudio de superficies por reflexión total y el análisis con resolución espacial (mapping) mediante capilares para Rayos X. Objetivos generales y específicos Este proyecto consta de objetivos teóricos y experimentales. Se planea construir y caracterizar sistemas de condensación de haces de fotones por medio de capilares de Rayos X. (...) Se concluirá con el desarrollo e implementación del sistema para análisis superficial por perfiles de profundidad. Este sistema, cuyo estado de avance se encuentra ya muy adelantado, comenzará a utilizarse para realizar estudios de capas superficiales, perfiles superficiales de densidad y concentración, etc. El citado dispositivo es un sistema mixto mecánico-elástico que permite efectuar variaciones angulares con precisión de centésimas de milirradián. Con el objeto de llevar a cabo estudios de perfiles de profundidad cuantitativos se desarrollarán métodos y algoritmos para análisis de datos basados en las estructuras teóricas del análisis por EXAFS (Extended X Ray Analysis Fine Structure). Este enfoque surge de la similitud entre los espectros obtenidos en una experiencia de EXAFS y los correspondientes a una medición de "Depth Profiling" y tiene su fundamentación sobre la base de las ecuaciones elementales para intensidad fluorescente en condiciones de onda estacionaria. Ya que las técnicas por FRX no convencionales están invariablemente asociadas a fuentes de irradiación no convencionales, otro de los objetivos importantes de este proyecto es llevar a cabo experiencias en laboratorios sincrotrón. (...)

Espectroscopía de emisión de rayos x. Aplicación a la caracterización de materiales. X-ray emission spectroscopy. Application to materials characterization

La idea principal del proyecto abarca el estudio de parámetros y fenómenos físicos. Los avances logrados se aplicarán al desarrollo de software y metodologías para cuantificación de materiales mediante microanálisis con sonda de electrones y microscopía electrónica de barrido. El microanálisis no es una técnica absoluta, sino que requiere de estándares de referencia, para obviar el uso de ciertos parámetros geométricos y atómicos difíciles de conocer con una precisión adecuada. Para contar con un método sin estándares debe abordarse la determinación de parámetros atómicos e instrumentales, que es uno de los aspectos que se desea encarar en este proyecto. Por otro lado, también se pretende incluir los parámetros estudiados en un software de cuantificación desarrollado por integrantes del proyecto. Otro de los propósitos del plan de trabajo es estudiar la potencialidad de la resolución espacial de una microsonda de electrones con el fin de desarrollar una metodología para caracterizar interfases, bordes de granos e inclusiones, con resolución submicrométrica, ya que los métodos tradicionales de cuantificación se restringen al caso de muestras planas y homogéneas dentro del volumen de interacción, pero la caracterización de inhomogeneidades a nivel micrométrico no ha sido desarrollada todavía, salvo algunas excepciones. The main idea of this project involves the study of physical parameters and phenomena. The concretion of the different goals will permit the elaboration of softeare and methodologies for materials characterization by means of electron probe microanalysis and scanning microscopy. Electron probe microanalysis is not an absolute technique, but requires reference standards in order not to involve certain geometrical and atomic parameters for which high uncertainties cannot be avoided. In order to have standardless method, the determination of atomic and instrumental parameters must be accomplished, as will be faced through this project. Complementary, the parameters studied will be included in a quantification software developed in our research group of FaMAF. Another objective of this activity plan is to study the spatial resolution potentiality of a focalized electron beam, with the aim of characterizing interphases, grain boundaries and inclusions with submicron sensitivity, since the traditional quantification procedures are restricted to flat homogeneous samples, whereas the characterization of inhomogeneities has not been developed yet.

Rediseño del Servicio de Difracción de Rayos X de la UAB

Estudio de la ampliación de los espacios del Servicio de Difracción de Rayos X de la UAB a partir de una sala adyacente tras la compra de nueva maquinaria. Rediseño de los espacios disponibles para difracción y para oficinas para su actualización adaptando la zona a las nuevas tecnologías. El estado actual del Servicio y sus usuarios establecen los requisitos de la reforma y las necesidades que presenta este proyecto. Se justificarán las soluciones adoptadas para cada uno de los ámbitos de estudio como son la distribución en planta, seguridad estructural, insonorización, ventilación e iluminación.

Estudio de cerámicas nanoestructuradas mediante difracción de rayos X y microscopía electrónica de alta resolución

Este proyecto trata sobre la determinación de las relaciones epitaxiales que se dan entre una capa de NGO (Oxido de Neodimio-Galio) y una capa depositada de CGO (Óxido de Cerio dopado con Gadolinio). Con ello buscamos estudiar indirectamente como podemos producir las dislocaciones antes citadas mediante la tensión superficial que se crea al dar lugar un crecimiento heteroepitaxial auto-ensamblado de nanohilos sobre un substrato. Para utilizar en el futuro esta cerámica nanoestructurada como plantillas de superconductores. Abordaremos este objetivo mediante dos vertientes distintas. Por un lado, mediante el estudio de una muestra mediante difracción de rayos X en dos dimensiones (DRX2). Y paralelamente mediante su visualización usando Microscopía Electrónica de Transmisión (MET).

Diseño de una plataforma de lectura, test y caracterización para ROICs de rayos X basada en el microprocesador LEON

Aquest project es situa dins del marc del CNM-IMB (CSIC). Consisteix en el disseny d'un sistema de biòpsia mamaria en temps real. Per realitzar aquest sistema s’ha dissenyat una plataforma de lectura, test y caracterització pel ROIC Medipix2 que es basa en el microprocessador LEON3 i és programat sobre una FPGA.

Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X

Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatización del proceso. Y conseguir la mínima ocupacion de memoria posible.

Estudio mediante rayos X de las maclas de la microclina

Se efectúa un estudio teórico y experimental de la difraccion de rayos X por maclas de microclina. Se comparan los resultados al orientar de distintas maneras los cristales. Se llega a la conclusión de que el método permite la diferenciación de los feldespatos potásicos segun su modo de formación.

Aplicación de la técnica de espectrometría de fluorescencia de rayos-X en el estudio de la dispersión de metales en áreas mineras

One critical factor for success in characterizing metals polluting mining environments so as to be able to eliminate them and subsequently recover these areas depends upon a speedy and correct response in the analysis of samples. Rapid, simultaneous, multi-element analysis can be undertaken using X-ray fluorescence spectrometry, a versatile, non-destructive analytical technique commonly employed to identify both major and minor elements in samples related to environmental studies. An additional advantage of this technique is the possibility of conducting the analysis directly on solid samples, which is extremely convenient when dealing with environmental samples that are difficult to dissolve, such as soils, sediments and mining wastes. Moreover, in recent years the development of spectrometers equipped with digital-signal processors combined with enlarged X-ray production, using better designs for excitation-detection, has contributed to an improvement in instrumental sensitivity, thus allowing us to detect important polluting elements such as Cd and Pb at trace levels. In this paper the authors describe, on the basis of their own experience, some interesting applications of XRF spectrometry for the analysis of several types of environmental samples related to the study of the dispersion of metals within mining environments: (A) analysis of mining wastes, soils and sediments; (B) analysis of samples of vegetation used as bioindicators or related to phytoremediation studies; and (C) analysis of water samples related to mining operations

Caracterizacion por difraccion de rayos-X, analisis termico y espectroscopia Raman de los cristales mixtos Li(NH4)(1-x)KxSO4

En este trabajo se estudia la preparació n y caracterizació n de las fases de los cristales mixtos de f órmula Li(NH4)1-xKxSO4. La caracterizacói n se ha efectuado por aná lisis té rmico con DSC y ATD, difracci ón de rayos-X sobre polvo cristalino con temperatura variable, difracci n de rayos-X sobre muestra monocristalina a temperatura variable a fin de determina su estructura cristalina y por espectroscop"a Raman a temperatura variable. Se han obtenido dos tipos de fases. Una soluci n s lida con 0.94 < x < 1 que presenta los mismos tipos estructurales que el LiKSO4, pero seg n el m todo de cristalizaci n pueden aparecer nuevas fases que no presenta el LiKSO4. El segundo tipo de compuesto tiene por f rmula Li(NH4)0.53K0.47SO4, el cual presenta una estructura hexagonal con par metro a » 3 aLiKSO4. Este compuesto tiene por encima de la temperatura ambiente una sola transici n a 463K.

Aplicación de los rayos X en la industria como prueba no-destructiva.

Tesis (Maestría en Ciencias de la Ingeniería Mecánica con Especialidad en Diseño Mecánico) UANL

Medición del espectro de neutrones y rayos gamma, de la fuente de californio 252, en un medio de tejido equivalente

Tesis (Maestria en Ciencias en Ingenieria Nuclear) U.A.N.L

Diseño de un monitoreo de la dispersión de rayos X en radiografía dental

Tesis (Maestro en Ciencias con especialidad en Metrología de la Radiación) U.A.N.L.

Análisis de la dispersión de rayos-X en el aire en radiografía dental [por] Guillermo Escobedo Valle

Tesis (Maestría en Ciencias con Especialidad en Metrología de la Radiación) U.A.N.L.