Sistema automático para determinar estructuras cristalinas por difracción de rayos-X
| Contribuinte(s) |
Universitat de Barcelona |
|---|---|
| Data(s) |
26/07/2011
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| Resumo |
Se desarrolla en este trabajo un sistema de calculo para la determinación de estructuras cristalinas por difracción de rayos-X. Las caracteristicas de este sistema son: Incorporar los métodos y las técnicas más recientes. Obtener la máxima velocidad de ejecución posible. Obtener la total automatización del proceso. Y conseguir la mínima ocupacion de memoria posible. |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
spa |
| Publicador |
Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cièncias de la Terra Jaume Almera (ICTJA) |
| Direitos |
(c) Solans et al., 1978 |
| Palavras-Chave | #Estructura cristal·lina (Sòlids) #Raigs X #Radiocristal·lografia #Layer structure (Solids) #X-rays #X-ray crystallography |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/article |
