998 resultados para febre recurrente


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En un libro cuyo título es Miradas sobre España, treinta intervenciones tratan de responder a una vieja demanda, a una pregunta que ha ido atravesando, desde finales del siglo XIX (y de manera recurrente), el espacio intelectual español: ¿qué es España, qué fue durante el siglo XX y en las centurias anteriores?, ¿desde cuándo existe España?, ¿qué España? Los treinta textos aquí convocados tratan de facilitar unos muy valiosos materiales ante tales interrogantes. Sin embargo, un hilo común parece promover la necesidad de seguir formulándose de nuevo las mismas preguntas

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El volumen de cuentos Los que se van (1930), escrito por Demetrio Aguilera Malta, Enrique Gil Gilbert y Joaquín Gallegos Lara, es considerado por la crítica ecuatoriana como el gran hito de la modernización literaria en Ecuador. La obra ha sido leída como una elocuente intervención en los debates políticos y estéticos sobre la literatura y la sociedad ecuatoriana de los años 30. No obstante, su arquitectura formal presenta una serie de particularidades que tornan a la perspectiva sociológica limitada al momento de articular una lectura orgánica del texto. En este sentido, el análisis de los procedimientos narrativos permite afirmar que el recurrente montaje de tiempos, personajes y escenas, estructura la serie de relatos y los coloca en distintas coordenadas de un mismo espacio literario: el construido por la violencia social desatada en el seno de una comunidad rural sin justificación alguna. La figura del machete funciona en este sentido como la condensación estética de las operaciones literarias desarrolladas: en primer lugar, la asunción del cuento como artificio y la renuncia a la explicación didáctica de injusticias sociales (el machete como metáfora poética). Luego, la construcción de la trama a través de la sucesión de fragmentos (el machete como corte). En tercer lugar, el borramiento de descripciones, introspecciones y narradores omniscientes (el machete como desmonte retórico). Finalmente, la figura del machete resalta la fatalidad de la violencia social, lo que exime al texto de voluntariosos afanes militantes (el machete como sobredeterminación). La puesta en relación de estos procedimientos con el contexto histórico en que fue producida la obra permite una reflexión que, partiendo de su materialidad textual, reconstruye su sentido en diálogo con el valor de intervención que sus propios autores le atribuyeron, pero sin limitarla a su carácter referencial o revelador de verdades ocultas

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La vertiente polémica fue una modalidad historiográfica recurrente en el Río de la Plata durante el siglo XIX. Su naturaleza controversial permite la contraposición de ideas y posiciones en torno a temas concretos, o, lo que es más importante, a metodologías y concepciones sobre el pretérito. La oposición de pareceres es instancia fermental en la evolución de la disciplina; su análisis, un compromiso ineludible para contextualizar un panorama historiográfico amplio y completo de la misma en el siglo XIX. El objetivo de este artículo es analizar uno de los debates más trascendentes de su época, el sostenido en Uruguay por Francisco Berra y Carlos María Ramírez -contemporáneo al de Vicente Fidel López y Bartolomé Mitre en Argentina- para rescatar su significación discursiva y sus implicancias teórico-metodológicas. Proponemos un estudio de la dimensión dialógica de la construcción nacionalista del pretérito uruguayo: de la exposición de ideas e intereses enfrentados surgen "verdades patrióticas", es decir axiomas históricos o dogmas nacionalistas. Circunscriptos a los mismos se desarrolló la producción y docencia histórica.

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Entre los relatos de Antonio Muñoz Molina, quizá sea Ventanas de Manhattan (2004) aquel que explora con mayor intensidad un motivo recurrente en su obra: la observación del entorno y de las huellas del pasado. En este texto híbrido, que participa de la crónica periodística, el libro de viajes, el ensayo y la novela, dividido en secuencias que a veces constituyen verdaderos microrrelatos, Nueva York se presenta como el espacio del anonimato y la indiferencia, donde "estar viendo y no mirar es un arte supremo"; sin embargo, el sujeto que la recorre se empeña en asomarse a otras vidas y en buscar a través de ellas una suerte de iluminación o autoconocimiento. Cobra una relevancia especial la observación de diversas manifestaciones artísticas (como la arquitectura urbana, los espectáculos musicales, la pintura, la fotografía y la escultura), lo que permite acceder en ocasiones a otro espacio y a otro tiempo y volver a plantear el tema de las vidas posibles. De esta forma, se lleva a cabo a través de la observación de lo externo una exploración de las inclinaciones del sujeto mismo: sus afectos, sus sensaciones, sus sentimientos. Es decir, de la propia intimidad.

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Los incendios forestales son un problema recurrente en España que produce cada año grandes pérdidas económicas, ambientales y en ocasiones humanas. A la complejidad de los siniestros en España por múltiples factores (clima, fisiografía, propiedad), hay que sumarle la descentralización política, pues las comunidades autónomas tienen la competencia de los incendios forestales, bajo las directrices de una legislación básica del Estado. La estadística de incendios forestales es una herramienta fundamental para el análisis de este fenómeno. Gracias a ella se puede lograr un profundo conocimiento del problema que permita lograr una mejora de los resultados y una optimización de los recursos empleados en su extinción. A partir de los datos de siniestros desde 2001 a 2010 se han elaborado unos indicadores que tienen como objetivo la realización de planes de actuación y prevención para un futuro.

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La discusión sobre el origen de los balcones canarios y coloniales ha sido un tema recurrente en los estudios sobre arquitectura canaria y colonial. En muchos de los últimos se observa un olvido o desconocimiento de los balcones canarios. El artículo desarrolla un estudio crítico sobre la discusión del origen de estos balcones a través de las fuentes que tratan sobre las arquitecturas canaria y colonial y relaciona los balcones con sus antecedentes en las arquitecturas tradicionales de la península ibérica. En primer lugar, se analizan los balcones abiertos como solanas y galerías y, en segundo lugar, se estudian las carpinterías cerradas con celosías de influencia oriental: el ajimez y el mucharabí.

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Los incendios forestales son un problema recurrente en España que produce cada año grandes pérdidas económicas, ambientales y en ocasiones humanas. A la complejidad de los siniestros en España por múltiples factores (clima, fisiografía, propiedad), hay que sumarle la descentralización política, pues las comunidades autónomas tienen la competencia de los incendios forestales, bajo las directrices de una legislación básica del Estado. La estadística de incendios forestales es una herramienta fundamental para el análisis de este fenómeno. Gracias a ella se puede lograr un profundo conocimiento del problema que permita lograr una mejora de los resultados y una optimización de los recursos empleados en su extinción. A partir de los datos de siniestros desde 2001 a 2010 se han elaborado unos indicadores que tienen como objetivo la realización de planes de actuación y prevención para un futuro.

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Es recurrente lo transmitido en la mayoría de los escritos y por los estudiosos, en el sentido de que el Movimiento Moderno tanto en Latinoamérica como particularmente en Chile, ha sido un movimiento de carácter exógeno, con un alto contenido de desarraigo, sin considerar factores sociales, culturales ni territoriales y que en nuestro país ha sido impuesto como un acto de imitación sin más. Esta tesis pretende dar a conocer a través de la muestra de algunas obras realizadas desde las décadas del cuarenta hasta el sesenta, por un arquitecto reconocido internacionalmente como eximio representante del Movimiento Moderno, cómo esta visión reduccionista queda contradicha en estos trabajos, en los que exhibe notables acercamientos a la problemática social, política, territorial y regional. Con el objeto de precisar mejor el estudio, ha parecido pertinente entregar una visión genérica de nuestro variado territorio, su geografía, las raíces étnicas y su arquitectura; asimismo, se ha considerado importante la comprensión de los procesos históricos, y la forma cómo este movimiento se ha incorporado al territorio y su circunstancia, evoluciones y procesos, frente a los estilos y los acontecimientos políticos, sociales, culturales, guerras y terremotos, comprendidos tanto antes como durante su instauración, consolidación y puesta en marcha o desarrollo, desde las décadas de los veinte al sesenta. Analizaremos algunos ejemplos de obras diseñadas por el arquitecto Emilio Duhart, en diferentes épocas, comenzando por el Proyecto de fin de carrera, y otros tipos de proyectos; urbanos, institucionales, viviendas; que dan cuenta de situaciones y compromisos con la estructura, el territorio, la sociedad, la cultura o la producción local; que permitan comprobar el distanciamiento de este arquitecto con el Movimiento Moderno reduccionista. Además, se mostrarán comparativamente, obras de otros autores, de manera de conformar un cuerpo más sólido, donde se estima han involucrado aspectos similares de territorio, cultura y sociedad.

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Las medidas orientadas a la movilidad sostenible se encuentran generalmente bien desarrolladas, al menos en el plano teórico, para entornos urbanos convencionales, esto es, para ciudades donde la movilidad sigue una pauta esencialmente recurrente y vinculada a motivos como el trabajo y el estudio. Sin embargo, en entornos donde el turismo es una componente predominante, la movilidad es claramente diferente. Las motivaciones de los viajes son diferentes, la valoración del tiempo es diferente, las pautas espacio-temporales son diferentes. Por tanto, las medidas para la sostenibilidad de la movilidad han de ser diferentes.

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Contiene la h. pleg.: Plan demostrativo del Estado de la epidemia de Tercianas que tuvo principio por el otoño de 1784, en los pueblos del Reyno de Valencia ..

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La fiabilidad está pasando a ser el principal problema de los circuitos integrados según la tecnología desciende por debajo de los 22nm. Pequeñas imperfecciones en la fabricación de los dispositivos dan lugar ahora a importantes diferencias aleatorias en sus características eléctricas, que han de ser tenidas en cuenta durante la fase de diseño. Los nuevos procesos y materiales requeridos para la fabricación de dispositivos de dimensiones tan reducidas están dando lugar a diferentes efectos que resultan finalmente en un incremento del consumo estático, o una mayor vulnerabilidad frente a radiación. Las memorias SRAM son ya la parte más vulnerable de un sistema electrónico, no solo por representar más de la mitad del área de los SoCs y microprocesadores actuales, sino también porque las variaciones de proceso les afectan de forma crítica, donde el fallo de una única célula afecta a la memoria entera. Esta tesis aborda los diferentes retos que presenta el diseño de memorias SRAM en las tecnologías más pequeñas. En un escenario de aumento de la variabilidad, se consideran problemas como el consumo de energía, el diseño teniendo en cuenta efectos de la tecnología a bajo nivel o el endurecimiento frente a radiación. En primer lugar, dado el aumento de la variabilidad de los dispositivos pertenecientes a los nodos tecnológicos más pequeños, así como a la aparición de nuevas fuentes de variabilidad por la inclusión de nuevos dispositivos y la reducción de sus dimensiones, la precisión del modelado de dicha variabilidad es crucial. Se propone en la tesis extender el método de inyectores, que modela la variabilidad a nivel de circuito, abstrayendo sus causas físicas, añadiendo dos nuevas fuentes para modelar la pendiente sub-umbral y el DIBL, de creciente importancia en la tecnología FinFET. Los dos nuevos inyectores propuestos incrementan la exactitud de figuras de mérito a diferentes niveles de abstracción del diseño electrónico: a nivel de transistor, de puerta y de circuito. El error cuadrático medio al simular métricas de estabilidad y prestaciones de células SRAM se reduce un mínimo de 1,5 veces y hasta un máximo de 7,5 a la vez que la estimación de la probabilidad de fallo se mejora en varios ordenes de magnitud. El diseño para bajo consumo es una de las principales aplicaciones actuales dada la creciente importancia de los dispositivos móviles dependientes de baterías. Es igualmente necesario debido a las importantes densidades de potencia en los sistemas actuales, con el fin de reducir su disipación térmica y sus consecuencias en cuanto al envejecimiento. El método tradicional de reducir la tensión de alimentación para reducir el consumo es problemático en el caso de las memorias SRAM dado el creciente impacto de la variabilidad a bajas tensiones. Se propone el diseño de una célula que usa valores negativos en la bit-line para reducir los fallos de escritura según se reduce la tensión de alimentación principal. A pesar de usar una segunda fuente de alimentación para la tensión negativa en la bit-line, el diseño propuesto consigue reducir el consumo hasta en un 20 % comparado con una célula convencional. Una nueva métrica, el hold trip point se ha propuesto para prevenir nuevos tipos de fallo debidos al uso de tensiones negativas, así como un método alternativo para estimar la velocidad de lectura, reduciendo el número de simulaciones necesarias. Según continúa la reducción del tamaño de los dispositivos electrónicos, se incluyen nuevos mecanismos que permiten facilitar el proceso de fabricación, o alcanzar las prestaciones requeridas para cada nueva generación tecnológica. Se puede citar como ejemplo el estrés compresivo o extensivo aplicado a los fins en tecnologías FinFET, que altera la movilidad de los transistores fabricados a partir de dichos fins. Los efectos de estos mecanismos dependen mucho del layout, la posición de unos transistores afecta a los transistores colindantes y pudiendo ser el efecto diferente en diferentes tipos de transistores. Se propone el uso de una célula SRAM complementaria que utiliza dispositivos pMOS en los transistores de paso, así reduciendo la longitud de los fins de los transistores nMOS y alargando los de los pMOS, extendiéndolos a las células vecinas y hasta los límites de la matriz de células. Considerando los efectos del STI y estresores de SiGe, el diseño propuesto mejora los dos tipos de transistores, mejorando las prestaciones de la célula SRAM complementaria en más de un 10% para una misma probabilidad de fallo y un mismo consumo estático, sin que se requiera aumentar el área. Finalmente, la radiación ha sido un problema recurrente en la electrónica para aplicaciones espaciales, pero la reducción de las corrientes y tensiones de los dispositivos actuales los está volviendo vulnerables al ruido generado por radiación, incluso a nivel de suelo. Pese a que tecnologías como SOI o FinFET reducen la cantidad de energía colectada por el circuito durante el impacto de una partícula, las importantes variaciones de proceso en los nodos más pequeños va a afectar su inmunidad frente a la radiación. Se demuestra que los errores inducidos por radiación pueden aumentar hasta en un 40 % en el nodo de 7nm cuando se consideran las variaciones de proceso, comparado con el caso nominal. Este incremento es de una magnitud mayor que la mejora obtenida mediante el diseño de células de memoria específicamente endurecidas frente a radiación, sugiriendo que la reducción de la variabilidad representaría una mayor mejora. ABSTRACT Reliability is becoming the main concern on integrated circuit as the technology goes beyond 22nm. Small imperfections in the device manufacturing result now in important random differences of the devices at electrical level which must be dealt with during the design. New processes and materials, required to allow the fabrication of the extremely short devices, are making new effects appear resulting ultimately on increased static power consumption, or higher vulnerability to radiation SRAMs have become the most vulnerable part of electronic systems, not only they account for more than half of the chip area of nowadays SoCs and microprocessors, but they are critical as soon as different variation sources are regarded, with failures in a single cell making the whole memory fail. This thesis addresses the different challenges that SRAM design has in the smallest technologies. In a common scenario of increasing variability, issues like energy consumption, design aware of the technology and radiation hardening are considered. First, given the increasing magnitude of device variability in the smallest nodes, as well as new sources of variability appearing as a consequence of new devices and shortened lengths, an accurate modeling of the variability is crucial. We propose to extend the injectors method that models variability at circuit level, abstracting its physical sources, to better model sub-threshold slope and drain induced barrier lowering that are gaining importance in FinFET technology. The two new proposed injectors bring an increased accuracy of figures of merit at different abstraction levels of electronic design, at transistor, gate and circuit levels. The mean square error estimating performance and stability metrics of SRAM cells is reduced by at least 1.5 and up to 7.5 while the yield estimation is improved by orders of magnitude. Low power design is a major constraint given the high-growing market of mobile devices that run on battery. It is also relevant because of the increased power densities of nowadays systems, in order to reduce the thermal dissipation and its impact on aging. The traditional approach of reducing the voltage to lower the energy consumption if challenging in the case of SRAMs given the increased impact of process variations at low voltage supplies. We propose a cell design that makes use of negative bit-line write-assist to overcome write failures as the main supply voltage is lowered. Despite using a second power source for the negative bit-line, the design achieves an energy reduction up to 20% compared to a conventional cell. A new metric, the hold trip point has been introduced to deal with new sources of failures to cells using a negative bit-line voltage, as well as an alternative method to estimate cell speed, requiring less simulations. With the continuous reduction of device sizes, new mechanisms need to be included to ease the fabrication process and to meet the performance targets of the successive nodes. As example we can consider the compressive or tensile strains included in FinFET technology, that alter the mobility of the transistors made out of the concerned fins. The effects of these mechanisms are very dependent on the layout, with transistor being affected by their neighbors, and different types of transistors being affected in a different way. We propose to use complementary SRAM cells with pMOS pass-gates in order to reduce the fin length of nMOS devices and achieve long uncut fins for the pMOS devices when the cell is included in its corresponding array. Once Shallow Trench isolation and SiGe stressors are considered the proposed design improves both kinds of transistor, boosting the performance of complementary SRAM cells by more than 10% for a same failure probability and static power consumption, with no area overhead. While radiation has been a traditional concern in space electronics, the small currents and voltages used in the latest nodes are making them more vulnerable to radiation-induced transient noise, even at ground level. Even if SOI or FinFET technologies reduce the amount of energy transferred from the striking particle to the circuit, the important process variation that the smallest nodes will present will affect their radiation hardening capabilities. We demonstrate that process variations can increase the radiation-induced error rate by up to 40% in the 7nm node compared to the nominal case. This increase is higher than the improvement achieved by radiation-hardened cells suggesting that the reduction of process variations would bring a higher improvement.

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Las Field-Programmable Gate Arrays (FPGAs) SRAM se construyen sobre una memoria de configuración de tecnología RAM Estática (SRAM). Presentan múltiples características que las hacen muy interesantes para diseñar sistemas empotrados complejos. En primer lugar presentan un coste no-recurrente de ingeniería (NRE) bajo, ya que los elementos lógicos y de enrutado están pre-implementados (el diseño de usuario define su conexionado). También, a diferencia de otras tecnologías de FPGA, pueden ser reconfiguradas (incluso en campo) un número ilimitado de veces. Es más, las FPGAs SRAM de Xilinx soportan Reconfiguración Parcial Dinámica (DPR), la cual permite reconfigurar la FPGA sin interrumpir la aplicación. Finalmente, presentan una alta densidad de lógica, una alta capacidad de procesamiento y un rico juego de macro-bloques. Sin embargo, un inconveniente de esta tecnología es su susceptibilidad a la radiación ionizante, la cual aumenta con el grado de integración (geometrías más pequeñas, menores tensiones y mayores frecuencias). Esta es una precupación de primer nivel para aplicaciones en entornos altamente radiativos y con requisitos de alta confiabilidad. Este fenómeno conlleva una degradación a largo plazo y también puede inducir fallos instantáneos, los cuales pueden ser reversibles o producir daños irreversibles. En las FPGAs SRAM, los fallos inducidos por radiación pueden aparecer en en dos capas de arquitectura diferentes, que están físicamente superpuestas en el dado de silicio. La Capa de Aplicación (o A-Layer) contiene el hardware definido por el usuario, y la Capa de Configuración contiene la memoria de configuración y la circuitería de soporte. Los fallos en cualquiera de estas capas pueden hacer fracasar el sistema, lo cual puede ser ás o menos tolerable dependiendo de los requisitos de confiabilidad del sistema. En el caso general, estos fallos deben gestionados de alguna manera. Esta tesis trata sobre la gestión de fallos en FPGAs SRAM a nivel de sistema, en el contexto de sistemas empotrados autónomos y confiables operando en un entorno radiativo. La tesis se centra principalmente en aplicaciones espaciales, pero los mismos principios pueden aplicarse a aplicaciones terrenas. Las principales diferencias entre ambas son el nivel de radiación y la posibilidad de mantenimiento. Las diferentes técnicas para la gestión de fallos en A-Layer y C-Layer son clasificados, y sus implicaciones en la confiabilidad del sistema son analizados. Se proponen varias arquitecturas tanto para Gestores de Fallos de una capa como de doble-capa. Para estos últimos se propone una arquitectura novedosa, flexible y versátil. Gestiona las dos capas concurrentemente de manera coordinada, y permite equilibrar el nivel de redundancia y la confiabilidad. Con el objeto de validar técnicas de gestión de fallos dinámicas, se desarrollan dos diferentes soluciones. La primera es un entorno de simulación para Gestores de Fallos de C-Layer, basado en SystemC como lenguaje de modelado y como simulador basado en eventos. Este entorno y su metodología asociada permite explorar el espacio de diseño del Gestor de Fallos, desacoplando su diseño del desarrollo de la FPGA objetivo. El entorno incluye modelos tanto para la C-Layer de la FPGA como para el Gestor de Fallos, los cuales pueden interactuar a diferentes niveles de abstracción (a nivel de configuration frames y a nivel físico JTAG o SelectMAP). El entorno es configurable, escalable y versátil, e incluye capacidades de inyección de fallos. Los resultados de simulación para algunos escenarios son presentados y comentados. La segunda es una plataforma de validación para Gestores de Fallos de FPGAs Xilinx Virtex. La plataforma hardware aloja tres Módulos de FPGA Xilinx Virtex-4 FX12 y dos Módulos de Unidad de Microcontrolador (MCUs) de 32-bits de propósito general. Los Módulos MCU permiten prototipar Gestores de Fallos de C-Layer y A-Layer basados en software. Cada Módulo FPGA implementa un enlace de A-Layer Ethernet (a través de un switch Ethernet) con uno de los Módulos MCU, y un enlace de C-Layer JTAG con el otro. Además, ambos Módulos MCU intercambian comandos y datos a través de un enlace interno tipo UART. Al igual que para el entorno de simulación, se incluyen capacidades de inyección de fallos. Los resultados de pruebas para algunos escenarios son también presentados y comentados. En resumen, esta tesis cubre el proceso completo desde la descripción de los fallos FPGAs SRAM inducidos por radiación, pasando por la identificación y clasificación de técnicas de gestión de fallos, y por la propuesta de arquitecturas de Gestores de Fallos, para finalmente validarlas por simulación y pruebas. El trabajo futuro está relacionado sobre todo con la implementación de Gestores de Fallos de Sistema endurecidos para radiación. ABSTRACT SRAM-based Field-Programmable Gate Arrays (FPGAs) are built on Static RAM (SRAM) technology configuration memory. They present a number of features that make them very convenient for building complex embedded systems. First of all, they benefit from low Non-Recurrent Engineering (NRE) costs, as the logic and routing elements are pre-implemented (user design defines their connection). Also, as opposed to other FPGA technologies, they can be reconfigured (even in the field) an unlimited number of times. Moreover, Xilinx SRAM-based FPGAs feature Dynamic Partial Reconfiguration (DPR), which allows to partially reconfigure the FPGA without disrupting de application. Finally, they feature a high logic density, high processing capability and a rich set of hard macros. However, one limitation of this technology is its susceptibility to ionizing radiation, which increases with technology scaling (smaller geometries, lower voltages and higher frequencies). This is a first order concern for applications in harsh radiation environments and requiring high dependability. Ionizing radiation leads to long term degradation as well as instantaneous faults, which can in turn be reversible or produce irreversible damage. In SRAM-based FPGAs, radiation-induced faults can appear at two architectural layers, which are physically overlaid on the silicon die. The Application Layer (or A-Layer) contains the user-defined hardware, and the Configuration Layer (or C-Layer) contains the (volatile) configuration memory and its support circuitry. Faults at either layers can imply a system failure, which may be more ore less tolerated depending on the dependability requirements. In the general case, such faults must be managed in some way. This thesis is about managing SRAM-based FPGA faults at system level, in the context of autonomous and dependable embedded systems operating in a radiative environment. The focus is mainly on space applications, but the same principles can be applied to ground applications. The main differences between them are the radiation level and the possibility for maintenance. The different techniques for A-Layer and C-Layer fault management are classified and their implications in system dependability are assessed. Several architectures are proposed, both for single-layer and dual-layer Fault Managers. For the latter, a novel, flexible and versatile architecture is proposed. It manages both layers concurrently in a coordinated way, and allows balancing redundancy level and dependability. For the purpose of validating dynamic fault management techniques, two different solutions are developed. The first one is a simulation framework for C-Layer Fault Managers, based on SystemC as modeling language and event-driven simulator. This framework and its associated methodology allows exploring the Fault Manager design space, decoupling its design from the target FPGA development. The framework includes models for both the FPGA C-Layer and for the Fault Manager, which can interact at different abstraction levels (at configuration frame level and at JTAG or SelectMAP physical level). The framework is configurable, scalable and versatile, and includes fault injection capabilities. Simulation results for some scenarios are presented and discussed. The second one is a validation platform for Xilinx Virtex FPGA Fault Managers. The platform hosts three Xilinx Virtex-4 FX12 FPGA Modules and two general-purpose 32-bit Microcontroller Unit (MCU) Modules. The MCU Modules allow prototyping software-based CLayer and A-Layer Fault Managers. Each FPGA Module implements one A-Layer Ethernet link (through an Ethernet switch) with one of the MCU Modules, and one C-Layer JTAG link with the other. In addition, both MCU Modules exchange commands and data over an internal UART link. Similarly to the simulation framework, fault injection capabilities are implemented. Test results for some scenarios are also presented and discussed. In summary, this thesis covers the whole process from describing the problem of radiationinduced faults in SRAM-based FPGAs, then identifying and classifying fault management techniques, then proposing Fault Manager architectures and finally validating them by simulation and test. The proposed future work is mainly related to the implementation of radiation-hardened System Fault Managers.

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El interés por la problemática contemporánea de los espacios agrarios periurbanos ha despertado una nueva conciencia urbana que afianza la importancia de la preservación de estos espacios agrarios por sus valores ambientales, culturales y productivos, y que comienza a reaprender las posibles ventajas de su proximidad urbana. Entre ellas, la calidad alimentaria. En el análisis de las respuestas a esta problemática, aparece un uso recurrente del término ‘Parque Agrario’ materializado en diversas propuestas con dispares objetivos, escalas y dimensiones. Para aclarar la confusión del término, se estudia el Parque Agrario del Bajo Llobregat. De este caso se induce la estructura organizativa básica de su figura, analizándola de manera poliédrica y multiescalar. El objeto último del trabajo es valorar la sostenibilidad de la figura en función del resultado de su aplicación a un espacio agrario periurbano, tipológico y predispuesto. Su aplicación y fusión con el espacio agrario periurbano dará lugar a otro ‘concepto aplicado’ de parque, que creará y fortalecerá sus propias redes productivas para introducirse en el ciclo alimentario de la ciudad próxima, bloqueando la base territorial frente al proceso urbano.

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Esta Tesis Doctoral viene a cubrir el vacío existente referido a la arquitectura religiosa de Luis Cubillo de Arteaga, arquitecto conocido fundamentalmente por su aportación a la vivienda social madrileña en los años 50 y 60, pero con una abundante obra sacra. Para ello se ha estudiado la totalidad de su producción, que abarca desde 1954 hasta 1974. La Tesis analiza su arquitectura religiosa desde varios puntos de vista, que incluyen la implantación de los edificios y sus aspectos formales, constructivos y tipológicos, estos últimos especialmente destacados tras las directrices emanadas del Concilio Vaticano II. Previamente se analizan cuatro ámbitos relevantes en la arquitectura religiosa de Cubillo. En primer lugar se estudia la labor de la Dirección General de Asuntos Eclesiásticos, a la que estaba adscrito el arquitecto y para la que realizó sus primeros trabajos. Dentro de ella se expone la evolución del modelo de Seminario entre los años 40 y 60, para analizar la relevancia de la propuesta de Cubillo para el Seminario de Castellón. A continuación se trata la participación de Cubillo en la construcción de la periferia de Madrid, aunque no referida a sus conocidos trabajos sobre vivienda social, sino a los edificios dotacionales. Así mismo se expone una iniciativa hasta ahora inédita de la Comisaría de Ordenación Urbana de Madrid para dotar de centros parroquiales a los nuevos barrios. Un tercer bloque estudia un tema recurrente a finales de los años 50, la integración de las artes en la nueva arquitectura religiosa, propiciada principalmente por José Luis Fernández del Amo. En el caso de Cubillo, las colaboraciones más notables y objeto de estudio en esta Tesis, fueron las realizadas con los artistas Arcadio Blasco y José Luis Sánchez. Por último se describe la situación de la iglesia madrileña posconciliar y su plan de construcción de nuevos templos, en el que jugó un papel muy destacado Cubillo, convertido en arquitecto de confianza de la Oficina Técnica del Arzobispado-------------------------ABSTRACT------------------------------ This Doctoral Thesis fills the emptiness of knowledge about the religious architecture of Luis Cubillo de Arteaga, architect mainly known for his contribution to Madrid's social housing in the 50s and 60s, but with a wide sacred work. To this end it have been studied his entire production, ranging from 1954 to 1974. The thesis discusses his religious architecture from several points of view, including the implementation of the buildings and their formal, constructive and typological aspects, the latter especially important by following the guidelines issued by Vatican II. Previously, four relevant areas in Cubillo’s religious architecture are analyzed. First of all, it’s studied the work of the Department of Ecclesiastical Affairs, to which the architect was assigned and for whom he made his early works. As a part of it, is exposed the evolution of Seminar model between 40s and 60s, to discuss the relevance of Cubillo’s design for the Seminar of Castellón. Next, it´s studied the participation of Cubillo in the construction of the outskirts of Madrid, although not referring to his well known work on social housing, but to the design of the comunitary buildings. It’s also explained an unpublished initiative from Commissariat for Urban Planning of Madrid to provide parish centers to new neighborhoods. A third section examines a recurring theme in the late 50s, the integration of the arts in the new religious architecture, mainly leaded by José Luis Fernández del Amo. For Cubillo, the most notable collaborations, studied in this thesis, were with the artists Arcadio Blasco and José Luis Sánchez. Finally, it´s described the situation of the post-conciliar church in Madrid and its plan to build new temples, with a prominent role of Cubillo, that became in trusted architect of the Technical Office of the Archbishop.