995 resultados para Pt film impurities


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Objetiva verificar se o Partido dos Trabalhadores - (PT) manteve ou não sua coerência programática e ideológica enquanto oposição e enquanto governo em votações das reformas da previdência realizadas na Câmara dos Deputados. Para isso foram analisadas as PECs n.° 33/1995 e n.° 40/2003, o conceito de seguridade social, previdência social, a criação e formação ideológica do PT. Foram estudados a votação das PECs e como PT votou em cada uma delas, e finalmente, conclui este estudo descrevendo o conteúdo analisado e discorrendo sobre as descobertas desse questionamento.

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Analisa o processo de organização dos diretórios regionais do Partido do Movimento Democrático Brasileiro (PMDB) e do Partido dos Trabalhadores (PT) no Distrito Federal (DF). Analisa também o movimento pela autonomia política do DF e inclui pesquisa com filiados para levantar informações de caráter socioeconômico e político. As pesquisas documentais, consultas à literatura e entrevistas demonstram que a atividade político-partidária ocorreu no DF, apesar das proibições vigentes ao longo da década de 1970 até meados da década de 1980. Inicialmente, as atividades eram realizadas sob a coordenação de entidades de caráter suprapartidário. O trabalho apresenta ainda a evolução histórica do pensamento político e do conceito de democracia. Desde Sócrates, Platão e Aristóteles até luminares da teoria política, como Maquiavel, Hobbes, Locke, Montesquieu e Rousseau. Um relato histórico mostra também como surgiram as primeiras agremiações partidárias em países como a Inglaterra, França, Alemanha e Itália e também nos Estados Unidos. Outra parte apresenta a evolução da vida partidária no Brasil ao longo dos anos.

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The information preservation (IP) method and the direct simulation Monte Carlo (DSMC) method are used to simulate the gas flows between the write/read head and the platter of the disk drive (the slider bearing problem). The results of both methods are in good agreement with numerical solution of the Reynolds equation in the cases studied. However, the DSMC method owing to the problem of large sample size demand and the difficulty in regulating boundary conditions at the inlet and outlet was able to simulate only short bearings, while IP simulates the bearing of authentic length ~1000 m ? and can provide more detailed flow information.

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Cohesive zone characterizations of the interface between metal film and ceramic substrate at micro- and nano-scales are performed in the present research. At the nano-scale, a special potential for special material interface (Ag/MgO) is adopted to investigate the interface separation mechanism by using MD simulation, and stress-separation relationship will be obtained. At the micro-scale, peeling experiment is performed for the Al film/Al2O3 substrate system with an adhesive layer at the interface. Adhesive is a mixture of epoxy and polyimide with mass ratio 1:1, by which a brittle cohesive property is obtained. The relationships between energy release rate, the film thickness and the adhesive layer thickness are measured during the steady-state peeling. The experimental result has a similar trend as modeling result for a weak adhesion interface case.

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Two stages have been observed in micro-indentation experiment of a soft film on a hard substrate. In the first stage, the hardness of the thin film decreases with increasing depth of indentation when indentation is shallow; and in the second stage, the hardness of the film increases with increasing depth of indentation when the indenter tip approaches the hard substrate. In this paper, the new strain gradient theory is used to analyze the micro-indentation behavior of a soft film on a hard substrate. Meanwhile, the classic plastic theory is also applied to investigating the problem. Comparing two theoretical results with the experiment data, one can find that the strain gradient theory can describe the experiment data at both the shallow and deep indentation depths quite well, while the classic theory can't explain the experiment results.

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In order to characterize the physical and spatial properties of nano-film pattern on solid substrates, an automatic imaging spectroscopic ellipsometer (ISE) based on a polarizer - compensator - specimen - analyzer configuration in the visible region is presented. It can provide the spectroscopic ellipsometric parameters psi (x, y, lambda) and Delta (x, y, lambda) of a large area specimen with a lateral resolution in the order of some microns. A SiO2 stepped layers pattern is used to demonstrate the function of the ISE which shows potential application in thin film devices' such as high-throughput bio-chips.