1000 resultados para espectrometria de fluorescência de raios-X (FRX)


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Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

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Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

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Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

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O rápido crescimento do mercado de dispositivos eletrônicos portáteis, com aplicações em diferentes áreas (telecomunicações, medicina, engenharia), criou uma grande demanda por fontes de potência compactas leves e, sobretudo, de baixo custo. Essa demanda levou ao desenvolvimento de tecnologia de filmes finos nanoestruturados para a obtenção de componentes eletroeletrônicos, por exemplo, memórias de computador. Estes dispositivos são empregados em “notebooks”, circuitos integrados, telefones celulares. O estudo de cristalização de filmes finos ferroelétricos nanoestruturados será feito através da cristalização induzida por rotas convencionais tal como cristalização em forno mufla. A modulação entre os diferentes cátions (Pb, Ca e Ba) para formar o sistema Pb1-x(Ca,Ba)xTiO3 serão analisadas, visando obter filmes com propriedades compatíveis para uso em memórias ferroelétricas. Para isso, os filmes finos serão depositados em substratos adequados controlando-se a homogeneidade química, a microestrutura e a interação filme-substrato

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The increasing demand for devices for solid state applications in many technological areas has resulted in a high demand for new materials. Among these material have the advantage of being manufactured with different chemical compositions, and may have physical properties equal to or higher than the corresponding crystalline material. The aim of this paper was to produce borate glass system 50B2O3 – 15CuO – 20Li2O – 15X (X = Na2O, K2O, RbCl e Cs2O) to analyze the influence of the atomic radius of alkali in the physical properties of this glass system. The glasses were synthesized by the process of melting and molding. The characteristic temperatures were determined by the technique of scanning calorimetry (DSC). The non-crystalline was determined by x-ray diffraction. In order to determine the molar volume a density measurement by using the Archimedes method was used. The structural characterization was carried out using the technique of infrared spectroscopy

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Pós-graduação em Ciência dos Materiais - FEIS

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Pós-graduação em Ciência dos Materiais - FEIS

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Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

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Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)