Preparação e caracterização de filmes finos ferroelétricos nanoestruturados do tipo Pb1-x(Ca,Ba)xTiO3
Contribuinte(s) |
Universidade Estadual Paulista (UNESP) |
---|---|
Data(s) |
23/03/2015
23/03/2015
2009
|
Resumo |
O rápido crescimento do mercado de dispositivos eletrônicos portáteis, com aplicações em diferentes áreas (telecomunicações, medicina, engenharia), criou uma grande demanda por fontes de potência compactas leves e, sobretudo, de baixo custo. Essa demanda levou ao desenvolvimento de tecnologia de filmes finos nanoestruturados para a obtenção de componentes eletroeletrônicos, por exemplo, memórias de computador. Estes dispositivos são empregados em “notebooks”, circuitos integrados, telefones celulares. O estudo de cristalização de filmes finos ferroelétricos nanoestruturados será feito através da cristalização induzida por rotas convencionais tal como cristalização em forno mufla. A modulação entre os diferentes cátions (Pb, Ca e Ba) para formar o sistema Pb1-x(Ca,Ba)xTiO3 serão analisadas, visando obter filmes com propriedades compatíveis para uso em memórias ferroelétricas. Para isso, os filmes finos serão depositados em substratos adequados controlando-se a homogeneidade química, a microestrutura e a interação filme-substrato |
Identificador |
RIBEIRO, Willian Carvalho. Preparação e caracterização de filmes finos ferroelétricos nanoestruturados do tipo Pb1-x(Ca,Ba)xTiO3. 2009. . Trabalho de conclusão de curso (licenciatura - Química) - Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Ciências, 2009. http://hdl.handle.net/11449/120776 000686235 ribeiro_wc_tcc_bauru.pdf |
Idioma(s) |
por |
Publicador |
Universidade Estadual Paulista (UNESP) |
Direitos |
openAccess |
Palavras-Chave | #Filmes finos #Cristalização #Raios X - Difração #Thin films #Crystallization #X-rays - Diffraction |
Tipo |
info:eu-repo/semantics/bachelorThesis |