2 resultados para Wu, Yifeng, 1742-1819.

em Universidad del Rosario, Colombia


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El objetivo de la presente investigación fue identificar la relación entre ideación suicida y desesperanza en 160 pacientes con cáncer. La ideación suicida se midió a través de dos ítems de una entrevista semiestructurada, la escala de ideación suicida (ISS), el ítem 9 del inventario de depresión de Beck (BDI-IA). La desesperanza se midió con la escala de desesperanza de Beck (BHS). Los resultados obtenidos indicaron una relación significativa (p=.000) entre ideación suicida y desesperanza; una prevalencia de ideación suicida en los pacientes con cáncer entre 4.4% y 13.8% y de riesgo de suicidio entre 5.6% y 30.6%; y algún grado de desesperanza en 31.9 % de los participantes. De acuerdo con lo anterior, se confirma que existe relación entre la desesperanza y la ideación suicida en pacientes oncológicos adultos. Adicionalmente, que estas variables están presentes en los pacientes y que ameritan atención en la intervención interdisciplinaria.

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Se presentan los modelos de hopping de rango variable (variable range hopping; VRH), vecinos cercanos (nearest neighbor hopping; NNH) y barreras de potencial presentes en las fronteras de grano; como mecanismos de transporte eléctrico predominantes en los materiales semiconductores para aplicaciones fotovoltaicas. Las medidas de conductividad a oscuras en función de temperatura fueron realizadas para región de bajas temperaturas entre 120 y 400 K con Si y compuestos Cu3BiS2 y Cu2ZnSnSe4. Siguiendo la teoría de percolación, se obtuvieron parámetros hopping y la densidad de estados cerca del nivel de Fermi, N(EF), para todas las muestras. A partir de los planteamientos dados por Mott para VRH, se presentó el modelo difusional, que permitió establecer la relación entre la conductividad y la densidad de estados de defecto o estados localizados en el gap del material. El análisis comparativo entre modelos, evidenció, que es posible obtener mejora hasta de un orden de magnitud en valores para cada uno de los parámetros hopping que caracterizan el material.