2 resultados para Modified Delphi method

em Universidad del Rosario, Colombia


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Esta investigación descriptiva, tiene como objetivo presentar el diseño y análisis de la validez de contenido de un instrumento que evalúa el nivel en que se encuentran los elementos modeladores de la percepción de riesgo los cuales se han denominado determinantes. La estrategia metodológica contempló la identificación de estos determinantes, con base en una revisión de estudios y planteamientos realizados por expertos en diferentes campos relacionados con la gestión y percepción del riesgo. Una vez identificados se agruparon en cuatro dimensiones: determinantes vinculados a la persona, los vinculados al entorno, los relacionados con la comprensión del riesgo y los asociados a la organización, a partir de esto se diseñó un instrumento que responde a una serie de ítems sobre cada uno de los cuales se manifiesta el nivel de acuerdo o desacuerdo, utilizando una escala tipo Likert. Se espera que con la información resultado de la aplicación del instrumento se obtenga un perfil de la población analizada, a través de este se podrán definir las áreas foco a intervenir, buscando una percepción de riesgos más adecuada. Finalmente se desarrolló una validación de contenido por expertos, siguiendo el método de validación Delphi.

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Se calculó la obtención de las constantes ópticas usando el método de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterización óptica del material. Se realizó una comparación del método del Wolfe con el método empleado por R. Swanepoel. Se desarrolló un modelo de programación no lineal con restricciones, de manera que fue posible estimar las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras, a partir únicamente, de datos de transmisión conocidos. Se presentó una solución al modelo de programación no lineal para programación cuadrática. Se demostró la confiabilidad del método propuesto, obteniendo valores de α = 10378.34 cm−1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, a través de experimentos numéricos con datos de medidas de transmitancia espectral en películas delgadas de Cu3BiS3.