Prevalence and factors associated with dysmenorrheal in health science students

Introduction: Dysmenorrhea has a prevalence between 60 and 93%. Different factors have been associated with it, such as age at menarche, body mass index, exercise, smoking and maternal history of dysmenorrhea, among others. Materials and methods: A cross-sectional study was conducted, based on an anonymous survey applied to a random sample of 127 women from the school of medicine and psychology at the Universidad Del Rosario. Results: The prevalence of  dysmenorrhea was 73%. 67% of participants presenting with menstrual pain, reported having taken pain relief medication (66.7% self medicated). 32.5% of respondents with dysmenorrhea were absent from their academic or social work, with a percentage of school absenteeism due to pain of 74.5% in at least one day. The risk of dysmenorrhoea was 2.36 times higher in women who had mothers with this history (OR = 2.36, 95% CI 1.03 to 5.40). No associations with other factors were found. Conclusions: Dysmenorrhea is a disease with a high prevalence and significant impact on school absenteeism. Maternal history of dysmenorrhea was the only factor positively associated in this study.

Cálculo de constantes ópticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a través del método de Wolfe

Se calculó la obtención de las constantes ópticas usando el método de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterización óptica del material. Se realizó una comparación del método del Wolfe con el método empleado por R. Swanepoel. Se desarrolló un modelo de programación no lineal con restricciones, de manera que fue posible estimar las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras, a partir únicamente, de datos de transmisión conocidos. Se presentó una solución al modelo de programación no lineal para programación cuadrática. Se demostró la confiabilidad del método propuesto, obteniendo valores de α = 10378.34 cm−1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, a través de experimentos numéricos con datos de medidas de transmitancia espectral en películas delgadas de Cu3BiS3.