Servidores públicos del estado con especial protección constitucional. Políticas de prevención del daño antijurídico en relación con su retiro del servicio

El retiro del servicio de los empleados públicos aparece como una facultad reglada en las normas del empleo público que, cuando se da alguna de las hipótesis legales que lo hacen procedente, facultan al nominador para ejercer sus atribuciones legales, persiguiendo, ante todo, razones del servicio: su mejora, renovación, eficiencia y moralidad, entre otras. A partir del concepto de una buena administración del Estado, establecer la procedencia y elementos estructurales de una política de prevención del daño antijurídico en relación con el retiro del servicio de servidores públicos que, conforme al ordenamiento jurídico gozan de una especial protección constitucional. Conocer el concepto, el alcance, la regulación y desarrollo jurisprudencial de esta trascendental atribución para el servicio público, resulta indispensable para la debida aplicación del derecho, del ejercicio de las atribuciones públicas por parte de la Administración, y para la prevención del daño antijurídico.

Cálculo de constantes ópticas de películas delgadas de Cu3BiS3 a través del método de Wolfe

Se calculó la obtención de las constantes ópticas usando el método de Wolfe. Dichas contantes: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y espesor de una película delgada (d ), son de importancia en el proceso de caracterización óptica del material. Se realizó una comparación del método del Wolfe con el método empleado por R. Swanepoel. Se desarrolló un modelo de programación no lineal con restricciones, de manera que fue posible estimar las constantes ópticas de películas delgadas semiconductoras, a partir únicamente, de datos de transmisión conocidos. Se presentó una solución al modelo de programación no lineal para programación cuadrática. Se demostró la confiabilidad del método propuesto, obteniendo valores de α = 10378.34 cm−1, n = 2.4595, d =989.71 nm y Eg = 1.39 Ev, a través de experimentos numéricos con datos de medidas de transmitancia espectral en películas delgadas de Cu3BiS3.