Selvitys kapasitiivisten paikanmittausanturien ominaisuuksista ja suunnitteluvaatimuksista

Kapasitiivinen mittaustekniikka perustuu anturin ja kohteen välisen kapasitanssin muutok-seen: kun kapasitanssi muuttuu, muuttuu myös anturin impedanssi. Tätä yhteyttä hyödyn-tämällä voidaan tuottaa mittaussignaali muuttuvasta parametrista. Tässä työssä esitellään lyhyesti pienen välimatkan tarkkaan paikanmittaukseen käytettäviä tekniikoita ja selvitetään kapasitiivisten paikanmittausanturien perusominaisuuksia sekä käytännön toteutukseen vaadittavia asioita lähdemateriaalin ja simuloinnin avulla. Lisäksi tämän hetken kaupallisia eri tekniikoihin perustuvia mittausjärjestelmiä vertaillaan keskenään. Vertailun perusteella kapasitiiviset mittausjärjestelmät tarjoavat korkeimman mittaustark-kuuden lyhyellä mittausalueella, kun mittausympäristö ja kohde on kapasitiiviselle anturille soveltuva. Induktiiviset anturit tarjoavat suuremman mittauskaistanleveyden ja soveltuvat kapasitiivisia antureita paremmin likaisiin ympäristöihin. Optiset järjestelmät mahdollistavat puolestaan suuremman mittausalueen.