14 resultados para Relaxors


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Nesta tese, ferroeléctricos relaxor (I dont know uf the order is correct) de base Pb das familias (Pb,La)(Zr,Ti)O3 (PLZT), Pb(Mg1/3,Nb2/3)O3-PbTiO3 (PMN-PT), Pb(Zn1/3,Nb2/3)O3-PbTiO3 (PZN-PT) foram investigados e analisados. As propriedades ferroeléctricas e dieléctricas das amostras foram estudadas por métodos convencionais de macro e localmente por microscopia de força piezoeléctrica (PFM). Nos cerâmicos PLZT 9.75/65/35 o contraste da PFM à escala nanometrica _ foi investigado em função do tamanho e orientação dos grãos. Apurou-se que a intensidade do sinal piezoeléctrico das nanoestruturas diminui com o aumento da temperatura e desaparece a 490 K (La mol. 8%) e 420 K (9,5%). Os ciclos de histerese locais foram obtidos em função da temperatura. A evolução dos parâmetros macroscópicos e locais com a temperatura de superfície sugere um forte efeito de superfície nas transições de fase ferroeléctricas do material investigado. A rugosidade da parede de domínio é determinada por PFM para a estrutura de domínio natural existente neste ferroeléctrico policristalino. Além disso, os domínios ferroeléctricos artificiais foram criados pela aplicação de pulsos eléctricos à ponta do condutor PFM e o tamanho de domínio in-plane foi medido em função da duração do pulso. Todas estas experiências levaram à conclusão de que a parede de domínio em relaxors do tipo PZT é quase uma interface unidimensional. O mecanismo de contraste na superfície de relaxors do tipo PLZT é medido por PFMAs estruturas de domínio versus evolução da profundidade foram estudadas em cristais PZN-4,5%PT, com diferentes orientações através da PFM. Padrões de domínio irregulares com tamanhos típicos de 20-100 nm foram observados nas superfícies com orientação <001> das amostras unpoled?. Pelo contrário, os cortes de cristal <111> exibem domínios regulares de tamanho mícron normal, com os limites do domínio orientados ao longo dos planos cristalográficos permitidos. A existência de nanodomínios em cristais com orientação <001> está provisoriamente (wrong Word) atribuída à natureza relaxor de PZN-PT, onde pequenos grupos polares podem formar-se em coindições de zero-field-cooling (ZFC). Estes nanodomínios são considerados como os núcleos do estado de polarização oposta e podem ser responsáveis pelo menor campo coercitivo para este corte de cristal em particular. No entanto, a histerese local piezoelétrica realizada pelo PFM à escala nanométrica indica uma mudança de comportamento de PZN-PT semelhante para ambas as orientações cristalográficas investigadas. A evolução das estruturas de domínio com polimento abaixo da superfície do cristal foi investigada. O domínio de ramificações e os efeitos de polarização de triagem após o polimento e as medições de temperatura têm sido estudados pela PFM e pela análise SEM. Além disso, verificou-se que a intensidade do sinal piezoeléctrico a partir das estruturas de nanodomínio diminui com o aumento da temperatura, acabando por desaparecer aos 430 K (orientaçáo <111>) e 470 K (orientação <100>). Esta diferença de temperatura nas transições de fase local em cristais de diferentes orientações é explicada pelo forte efeito de superfície na transição da fase ferroelétrica em relaxors.A comutação da polarização em relaxor ergódico e nas fases ferroeléctricas do sistema PMN-PT foram realizadas pela combinação de três métodos, Microscopia de Força Piezoeléctrica, medição de um único ponto de relaxamento eletromecânico e por ultimo mapeamento de espectroscopia de tensão. A dependência do comportamento do relaxamento na amplitude e tempo da tensão de pulso foi encontrada para seguir um comportamento logarítmico universal com uma inclinação quase constante. Este comportamento é indicativo da progressiva população dos estados de relaxamento lento, ao contrário de uma relaxação linear na presença de uma ampla distribuição do tempo de relaxamento. O papel do comportamento de relaxamento, da não-linearidade ferroeléctrica e da heterogeneidade espacial do campo na ponta da sonda de AFM sobre o comportamento do ciclo de histerese é analisada em detalhe. Os ciclos de histerese para ergódica PMN- 10%PT são mostrados como cineticamente limitados, enquanto que no PMN, com maior teor de PT, são observados verdadeiros ciclos de histerese ferroeléctrica com viés de baixa nucleação.

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Tetragonal PbTiO3 under uniaxial stress along the c-axis is investigated from first-principles. The structural parameters, polarization, and squares of the lowest optical phonon frequencies for E(1TO) and A(1)(1TO) modes at Gamma show abrupt changes near a stress sigma(c) of 1.04 GPa, which is related to the dramatic change of elastic constant c(33) resulting from the uniaxial stress applied along the c-axis. We also find that the uniaxial compressive stress could enhance the piezoelectric stress coefficients, whereas the uniaxial tensile stress could enhance the piezoelectric strain coefficients. It is also found that when the magnitude of uniaxial compressive stress sigma(33) is greater than 12 GPa, PbTiO3 is transformed to the paraelectric tetragonal phase.

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Thin film capacitor structures in which the dielectric is composed of superlattices of the relaxors [0.2Pb(Zn1/3Nb2/3)O- 3-0.8BaTiO(3)] and Pb(Mg1/3Nb2/3)O-3 have been fabricated by pulsed laser deposition. Superlattice wavelength (Lambda) was varied between similar to3 and similar to 600 nm, and dielectric properties were investigated as a function of Lambda. Progressive enhancement of the dielectric constant was observed on decreasing Lambda, and, in contrast to previous work, this was not associated with the onset of Maxwell-Wagner behavior. Polarization measurements as a function of temperature suggested that the observed enhancement in dielectric constant was associated with the onset of a coupled response. The superlattice wavelength (Lambda =20 nm) at which coupled functional behavior became apparent is comparable to that found in literature for the onset of coupled structural behavior (between Lambda =5 nm and Lambda =10 nm). (C) 2001 American Institute of Physics.

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Domain microstructures in single crystal lamellae of 88%Pb(Zn1/3Nb2/3)O3-12%PbTiO3 (cut from bulk using focused ion beam milling) have been mapped using both piezoresponse force microscopy and transmission electron microscopy. Dramatic changes from mottled microstructures typical of relaxors to larger scale domains typical of ferroelectrics have been noted. Stresses associated with substrate clamping are suspected as the cause for the transition from short- to long-range polar order, akin to effects induced by cation ordering achieved by thermal quenching.

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Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

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Recent investigations on the non-linear (NL) dielectric properties of relaxor ferroelectrics systems, not only as ceramic bodies, but also, in thin films, have showed a significant technological and scientific interest. The most common practical applications of relaxors include multilayer capacitors and actuators. In this work, non-linear dielectric properties of hot-pressed (1-x)[Pb1 -(3/2) yLayMg1/3Nb2/3O3]-xPbTiO3 (PLMN-PT) ferroelectric ceramics were investigated. The NL properties were obtained by using the measurements of the dielectric permittivity of the material as a function of the AC electric field with variable amplitude in the frequency and temperature range of 100 Hz-1 MHz and 50-450 K, respectively. An anomalous behavior of the non-linear dielectric response was observed when submitted to high electric fields levels. The obtained results were analyzed concerning one of the models for the dielectric response of relaxors ferroelectrics materials currently discussed in the literature.

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Sr0.5Ba0.5Bi2Nb2O 9 ceramic was prepared by a conventional solid state reaction method and studied using X-ray powder diffraction and dielectric measurements. At room temperature, an orthorhombic structure was confirmed and their parameters were obtained using the Rietveld method. Dielectric properties were studied in a broad range of temperatures and frequencies. Typical relaxor behaviour was observed with strong dispersion of the complex relative dielectric permittivity. The temperature of the maximum dielectric constant Tm decreases with increasing frequency, and shifts towards higher temperature side. The activation energy Ea≈0·194±0·03 eV and freezing temperature Ta≈371±2 K values were found using the Vogel-Fulcher relationship. Conduction process in the material may be due to the hopping of charge carriers at low temperatures and small polarons and/or singly ionised oxygen vacancies at higher temperatures. © 2010 Maney Publishing.

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This paper reports on the structural characterization of Pb 1-xLaxZr0.40Ti0.60O3 (PLZT) ferroelectric ceramic compositions prepared by the conventional solid state reaction method. X-ray absorption spectroscopy (XAS) and Raman spectroscopy were used to probe the local structure of PLZT samples that exhibits a normal and relaxor ferroelectric behavior. From the Zr K-edge and Pb LIII-edge EXAFS spectra, a considerable dissymmetry of Zr and Pb sites was observed in all samples, including those showing a long-range order cubic symmetry and a relaxor behavior. The Raman spectroscopy results confirmed the existence of a local disorder in all PLZT samples through the observation of Raman active vibrational modes. The variation in the intensity of the E(TO 3) mode in the PLZT relaxor samples indicates that the process of correlation between nanodomains stabilizes at temperatures lower than T m. © 2013 Elsevier B.V. All rights reserved.

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Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

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Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

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Ferroelectric strontium barium niobate solid solutions had received great attention due to their excellent pyroelectric, electrooptic and photorefractive properties. Furthermore, they usually also present very interesting phase transition characteristics. In this work, polycrystalline single phase Sr 0.75 Ba 0.25 Nb 2 O 6 thin films were prepared by a hybrid chemical method and deposited on Pt/Ti/SiO 2 /Si substrates. The temperature dependence of dielectric constant was measured at different frequencies and bias field levels. The presence of two dielectric dispersion regions with relaxor characteristics was observed at distinct temperature ranges, corresponding to the ferro-paraelectric and to a structural phase transition at low temperatures, respectively. A specific dielectric dispersion region, associated with an incommensurate superstructure frequently observed in bulk samples, was not observed in this films probably due to their small grain sizes. © 2002 Taylor & Francis.