Análise de cobertura de metal-metal por XRF

A proposta do referente estudo foi medir a espessura do depósito de um metal em outro metal base, ou seja, utilizar o processo eletroquímico de Galvanoplastia ou eletrodeposição deste metal, por meio da técnica de fluorescência de raios X (XRF). O uso desta técnica justificou-se pelo interesse em reduzir os custos excessivos durante o processo eletroquímico, bem como, minimizar as possíveis margens de erros para obter resultados satisfatórios nas medidas. Neste trabalho, incluíram-se as medidas da espessura do Níquel (Ni) e análises da intensidade de radiação incidentes e a radiação atenuante, em função da espessura dos elementos Cromo (Cr) e Zinco (Zn), considerando como metal base o elemento Ferro (Fe). Em decorrência disso, em todos os casos foram simulados os processos de deposição do metal onde foram incluídos os resultados de absorção de raios X, além de desprezar a influência de outros fatores como a temperatura, o pH, o tratamento de superfície, entre outros, os quais são necessários para considerar em cada caso.

Spectroscopic, and thermal studies of some new binuclear transition metal(II) complexes with hydrazone ligands containing acetoacetanilide and isoxazole

A new chelating ligand, 2-(2-(5-tert-butylisoxazol-3-yl)hydrazono)-N-(2,4-dimethylphenyl)-3-oxobutanamide (HL), and its four binuclear transition metal complexes, M-2(L)(2) (mu-OCH3)(2) [M = Ni(II), Co(II), Cu(II), Zn(II)], were synthesized using the procedure of diazotization, coupling and metallization. Their structures were postulated based on elemental analysis, H-1 NMR, MALDI-MS, FT-IR spectra and UV-vis electronic absorption spectra. Smooth films of these complexes on K9 glass substrates were prepared using the spin-coating method and their absorption properties were evaluated. The thermal properties of the metal(II) complexes were investigated by thermogravimetry (TG) and differential scanning calorimetry (DSC. Different thermodynamic and kinetic parameters namely activation energy (E

Methods and tools for the assessment of daylight transmittance through expanded metal meshes

306 p.

Simulação com o código GEANT4 de medida de espessura de revestimento metálico em metal por XRF

Nesta dissertação são apresentados resultados de simulações Monte Carlo de fluorescência de raios X (XRF), utilizando o programa GEANT4, para medidas de espessura de revestimento metálico (Ni e Zn) em base metálica (Fe). As simulações foram feitas para dois tamanhos de espessura para cada metal de revestimento, (5μm e 10μm), com passos de 0,1 μm e 0,001 μm e com 106 histórias. No cálculo da espessura do revestimento foram feitas as aproximações de feixe de raios X monoenegético, com a análise da transmissão apenas da energia do K-alfa e para uma geometria compatível com um sistema real de medição (ARTAX-200). Os resultados mostraram a eficiência da metodologia de simulação e do cálculo da espessura do revestimento, o que permitirá futuros cálculos, inclusive para multirevestimentos metálicos em base metálica.