Controlo e Aquisição de Dados no aparelho Posch ToF-SIMS

A espectrometria de massa de iões secundários por tempo-de-voo, ToF-SIMS, é umas das mais importantes e versáteis técnicas de análise de superfícies. As suas características únicas tais como excelente resolução em massa, alta sensibilidade, elevada resolução lateral e em profundidade e ausência de limite da massa superior, justificam a sua adopção como técnica favorita em campos tão diversos como a análise de metais, semicondutores, isoladores e compostos orgânicos. A técnica SIMS com feixe primário duplo (dual beam SIMS) é uma técnica extremamente poderosa para uma variedade de aplicações de análise em profundidade. A utilização de feixes de iões separados para a erosão e análise de uma amostra permite a variação independente de diferentes parâmetros experimentais. Desenvolveram-se duas aplicações em LabVIEWTM que permitem efectuar análises de superfícies com as técnicas SIMS estático, SIMS Imagem e dual beam SIMS. As aplicações desenvolvidas permitiram optimizar o controlo do espectrómetro de massa do tipo ToF-SIMS do laboratório de ciências de superfície do Grupo de Ciências de Superfície e Tecnologia de Vácuo do CEFITEC, a conversão e aquisição de dados e a sua representação e armazenamento. O trabalho efectuado constitui uma grande inovação no sistema de aquisição de dados e no controlo do espectrómetro de ToF-SIMS. As versões actuais das aplicações desenvolvidas estão aptas a responder, com fiabilidade, às necessidades do utilizador.

A refutation of sundry reprehensions, cavils, and falses sleigthes, by M. Whitaker laboureth to deface the late english translation, and Catholike annotations of the New Testament, and the books of discovery of heretical corruptions ([Reprod.]) / by William Rainolds

Collection : French books before 1601 ; 210.3

Puheenvuoro eduskunnassa 14.12.1936

Puhe

[Berliini] [Olympisches Dorf, den] 29.7.1936

Kirje

Kuokkala 20.7.1936

Kirje

Odontopus brevirostris (Hustache, 1936) (Coleoptera, Curculionidae) associated with new host plants belonging to Annona (Annonaceae)

Odontopus brevirostris (Hustache, 1936) feeding on Annona squamosa L., A. cherimola Mill., A. glabra L., and A. muricata L. was observed. The last three host plants are recorded for the first time. The endophitic oviposition occurs in the veins of the ventral surface of the young leaves. The larvae, leaf miners, eat the parenchyma and the adults make small holes in the leaves. The pupation occurs in spherical cocoons protected by a sort of nest (pupation chamber) between the two epidermal layers.

Puheenvuoro eduskunnassa 18.12.1936

Puhe