207 resultados para incertitude métallique
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La dialectique pluralisme religieux/incertitude religieuse, sur laquelle porte cette thèse, se révèle être un thème majeur dans la pensée de Peter L. Berger, en sociologie des religions et en théologie protestante. Une analyse systématique et détaillée des concepts-clés qui la constituent débouche sur la question des rapports entre sociologie et théologie à laquelle Berger lui-même s’est confronté. Abordée sous l’angle de l’idée du principe protestant, cette question s’est résolue, dès la fin des années 1960, en un certain « mariage » entre son approche de la sociologie de la connaissance et son approche théologique libérale. Les concepts de foi et théologie « inductives », de « voie médiane entre le fondamentalisme et le relativisme », semblent jaillir de cette dialectique et de ce « mariage ». Si néanmoins cette dialectique se retrace dans la pensée de Berger dès ses premières œuvres, la défense d’une via media théologique appliquée à toutes les religions se révèle être la conséquence de l’abandon (dès 1967), de sa posture théologique néo-orthodoxe. Dans cette posture, la dialectique bergérienne s’appliquait à toutes les religions mais laissait la foi chrétienne intouchée et pensée en termes de certitude. Or, une analyse critique de sa pensée permet de situer au moins à trois niveaux un certain nombre de problèmes : le niveau de sa conception de la religion manifestant une ambiguïté; le niveau des rapports entre sociologie et théologie révélant un biais libéral et une absence de contenu religieux concret pour le principe protestant; enfin le niveau de sa critique des quêtes contemporaines de certitudes religieuses, critique dont le fondement sur sa dialectique peut être questionné par des exemples de conception différente de la religion et de la certitude religieuse. Pour ces trois niveaux, l’exemple de la conception de la certitude religieuse par les protestants évangéliques permet au moins une ébauche d’un tel questionnement. Cette conception, surtout dans son idée de l’« assurance du salut», se fonde, dans son approche surnaturelle de la certitude religieuse, sur une adhésion et une confiance fortes quant aux contenus traditionnels de la foi chrétienne. Si les arguments avancés dans cette perspective demeurent discutables, ils semblent assez pertinents puisque la vitalité contemporaine de la religion à l’ère du pluralisme religieux (voir notamment le protestantisme évangélique aux États-Unis) constitue une indication que la validité empirique de la dialectique bergérienne, et la critique qu’elle fonde, sont largement problématiques si l’on tient compte de l’auto-compréhension des groupes religieux eux-mêmes.
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La synthèse de siliciures métalliques sous la forme de films ultra-minces demeure un enjeu majeur en technologie CMOS. Le contrôle du budget thermique, afin de limiter la diffusion des dopants, est essentiel. Des techniques de recuit ultra-rapide sont alors couramment utilisées. Dans ce contexte, la technique de nanocalorimétrie est employée afin d'étudier, in situ, la formation en phase solide des siliciures de Ni à des taux de chauffage aussi élevés que 10^5 K/s. Des films de Ni, compris entre 9.3 et 0.3 nm sont déposés sur des calorimètres avec un substrat de a-Si ou de Si(100). Des mesures de diffraction de rayons X, balayées en température à 3 K/s, permettent de comparer les séquences de phase obtenues à bas taux de chauffage sur des échantillons de contrôle et à ultra-haut taux de chauffage sur les calorimètres. En premier lieu, il est apparu que l'emploi de calorimètres de type c-NC, munis d'une couche de 340 nm de Si(100), présente un défi majeur : un signal endothermique anormal vient fausser la mesure à haute température. Des micro-défauts au sein de la membrane de SiNx créent des courts-circuits entre la bande chauffante de Pt du calorimètre et l'échantillon métallique. Ce phénomène diminue avec l'épaisseur de l'échantillon et n'a pas d'effet en dessous de 400 °C tant que les porteurs de charge intrinsèques au Si ne sont pas activés. Il est possible de corriger la mesure de taux de chaleur en fonction de la température avec une incertitude de 12 °C. En ce qui a trait à la formation des siliciures de Ni à ultra-haut taux de chauffage, l'étude montre que la séquence de phase est modifiée. Les phases riches en m étal, Ni2Si et théta, ne sont pas détectées sur Si(100) et la cinétique de formation favorise une amorphisation en phase solide en début de réaction. Les enthalpies de formation pour les couches de Ni inférieures à 10 nm sont globalement plus élevées que dans le cas volumique, jusqu' à 66 %. De plus, les mesures calorimétriques montrent clairement un signal endothermique à haute température, témoignant de la compétition que se livrent la réaction de phase et l'agglomération de la couche. Pour les échantillons recuits a 3 K/s sur Si(100), une épaisseur critique telle que décrite par Zhang et Luo, et proche de 4 nm de Ni, est supposée. Un modèle est proposé, basé sur la difficulté de diffusion des composants entre des grains de plus en plus petits, afin d'expliquer la stabilité accrue des couches de plus en plus fines. Cette stabilité est également observée par nanocalorimétrie à travers le signal endothermique. Ce dernier se décale vers les hautes températures quand l'épaisseur du film diminue. En outre, une 2e épaisseur critique, d'environ 1 nm de Ni, est remarquée. En dessous, une seule phase semble se former au-dessus de 400 °C, supposément du NiSi2.
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2me. ser. Poutres en treillis et a ame pleine. 1900.
