Desenvolvimento de métodos analíticos limpos para determinações forenses: chumbo em resíduos de disparo e furosemida em doping

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

Estudo das propriedades ópticas e estruturais de espinélios do tipo 'ZNAL IND. 2 O IND. 4' contendo 'EU POT. 3+' ou 'TB POT. 3+'

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

'ZN IND.7'SB IND. 2'O IND. 12' contendo Ce(III), Pr(III) ou Eu(III): investigação de suas propriedades estruturais e ópticas para potencial aplicação como cintilador

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

Transporte eletrônico em nanofitas de grafeno sob a influência de fatores externos, via primeiros princípios

O grafeno é a primeira estrutura bidimensional que se obteve experimentalmente. Sua rede cristalina é uma rede hexagonal, conhecida como "Favo de Mel", possui apenas um átomo de espessura. Cortes em folhas de grafeno, privilegiando determinada direção, geram as chamadas nanofitas de grafeno. Embora o grafeno se comporte como um metal, é sabido que as nanofitas podem apresentar comportamentos semicondutor, metálico ou semimetálico, dependendo da direção de corte e/ou largura da fita. No caso de nanofitas semicondutoras, a largura da banda proibida (band gap), entre outros fatores, depende da largura da nanofita. Neste trabalho adotou-se métodos de primeiros princípios como o DFT (Density Functional Theory), afim de se obter as características tais como curvas de dispersão para nanofitas. Neste trabalho, primeiramente, são apresentados diagramas de bandas de energia e curvas de densidade de estados para nanofitas de grafeno semicondutoras, de diferentes larguras, e na ausência de influências externas. Utilizou-se métodos de primeiros princípios para a obtenção destas curvas e o método das funções de Green do Não Equilíbrio para o transporte eletrônico. Posteriormente foi investigado a influência da hidrogenização, temperatura e tensão mecânica sobre sistema, isso além, de se estudar o comportamento de transporte eletrônico com e sem influência destes fatores externos. Vale ressaltar que as nanofitas de grafeno apresentam possibilidades reais de aplicação em nanodispositivos eletrônicos, a exemplo de nanodiodos e nanotransistores. Por esse motivo, é importante se ter o entendimento de como os fatores externos alteram as propriedades de tal material, pois assim, espera-se que as propriedades de dispositivos eletrônicos também sejam influenciadas da mesma maneira que as nanofitas.

Um estudo sobre a influência de defeitos de diferente natureza nas propriedades eletrônicas de nanotubos usando o método das ondas cilindricas linearizadas aumentadas

Os nanotubos de carbono e nitreto de boro são nano estruturas unidimensionais que apresentam comportamento tanto metálico quanto semicondutor, dependendo da sua quiralidade, exceto para os nanotubos de nitreto de boro que apresentam sempre características semicondutoras, caso não estejam dopados. Devido suas características eletrônicas, os nanotubos apresentam grandes possibilidades de aplicação em dispositivos de nanoeletrônica, tais como nanodiodos, nanotransistores e como elementos de interconexão, dentre outros. Por esta razão, é importante compreender como fatores externos agem sobre as propriedades de tais materiais. Um desses fatores externos é a introdução de defeitos nos nanotubos. Tais defeitos são a ausência de um ou mais átomos de carbono, pertencente ao nanotubo de carbono e, de nitrogênio ou boro, para os nanotubos de nitreto de boro, ou ainda, a substituição de átomos de carbono, nitrogênio ou boro por diferentes átomos na estrutura dos correspondentes nanotubos. Este trabalho apresenta um estudo teórico dos efeitos da introdução de defeitos, por substituição, nas propriedades eletrônicas dos nanotubos de carbono e nitreto de boro, via simulação ab-initio. Avaliam-se as estruturas de banda de energia e densidade de estados de nanotubos de carbono semicondutores e metálicos tipos armchair e zig-zag e apenas do tipo armchair para os nanotubos de nitreto de boro usando o método LACW – método das ondas cilíndricas linearizadas aumentadas. Além disso, devido a crescente importância dos nanotubos de nitreto de boro, fazemos um estudo sistematizado da estrutura eletrônica desses nanotubos, para uma supercélula formada por três células unitárias, usando dopagem intrínseca, bem como uma análise quantitativa, baseada na energia total e banda proibida, de estabilidade dessas estruturas.

Analysis of electronic structure of boron nitride nanotubes with different positions of intrinsic impurities

The pristine boron nitride nanotubes have a large direct band gap around 5 eV. This band gap can be engineered by doping. We investigate electronic structure of the doped hexagonal boron nitride (5,5) nanotubes using the linearized augmented cylindrical wave method. In particular, this work focuses on systematical study of the band gap and the density of states around the Fermi-level when the nanotubes are doped by intrinsic impurities of two substitutional boron atoms in a super cell and a comparative analysis of the relative stability of three structures studied here. This corresponds to 3.3% of impurity concentration. We calculate 29 configurations of the nanotubes with different positions of the intrinsic impurities in the nanotube. The band gap and density of states around the Fermi level show strong dependence on the relative positions of the impurity atoms. The two defect sub bands called D^∏(B) appear in the band gap of the pristine nanotube. The doped nanotubes possess p-type semiconductor properties with the band gap of 1.3-1.9 eV.

Processamento sonoquímico de materiais mesoestruturados de óxido de zinco dopados com terras-raras

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

Estudo de mecanismos de transporte em nanofios de óxido de índio dopado com estanho

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

CoO doping effects on the ZnO films through EBPDV technique

Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

Influence of Sm3+ doping on the dielectric properties of CaCu3Ti4O12 ceramics synthesized via autocombustion

Ca-1 -xSmxCu3Ti4O12 (x = 0.0, 0.2, 03) electronic ceramics were fabricated via the chemical route using metal nitrate solutions in order to improve the dielectric properties of this ceramic. X-ray diffraction (XRD) analysis indicated the formation of a single CaCu3Ti4O12 (CCTO). Grain size of the samples doped with Sm3+ was in the range of 1-2 mu m, as opposed to 50-100 mu m in the pure samples of CCTO. The cutoff frequency with the doping was remarkably shifted, from 1 MHz (pure CCTO) to 10 MHz (doped CCTO). Meanwhile, the real dielectric (epsilon(r)) and imaginary dielectric (epsilon '') constants showed a decrease as the doping was increased. (C) 2013 Elsevier B.V. All rights reserved.

Storage moduli, loss moduli and damping factor of GaAs and Ga1-xMnxAs thin films using DMA 2980

The spin injector part of spintronic FET and diodes suffers from fatigue due to rising heat on the depletion layer. In this study the stiffness of Ga1-xMnxAs spin injector in terms of storage modulus with respect to a varying temperature, 45 degrees C <= T <= 70 degrees C was determined. It was observed that the storage modulus for MDLs (Manganese Doping Levels) of 0%, 1% and 10% decreased with increase in temperature while that with MDLs of 20% and 50% increase with increase in temperature. MDLs of 20% and 50% appear not to allow for damping but MDLs <= 20% allow damping at temperature range of 45 degrees C <= T <= 70 degrees C. The magnitude of storage moduli of GaAs is smaller than that for ferromagnetic Ga1-xMnxAs systems. The loss moduli for GaAs were found to reduce with increase in temperature. Its magnitude of reducing gradient is smaller than Ga1-xMnxAs systems. The two temperature extremes show a general reduction in loss moduli for different MDLs at the study temperature range. From damping factor analysis, damping factors for ferromagnetic Ga1-xMnxAs was found to increase with decrease in MDLs contrary to GaAs which recorded the largest damping factor at 45 degrees C <= T <= 70 degrees C Hence, MDL of 20% shows little damping followed by 50% while MDL of 0% has the most damping in an increasing trend with temperature. (C) 2013 Elsevier Ltd. All rights reserved.

Phenomenological model for the interpretation of impedance/admittance spectroscopy results in polymer light-emitting electrochemical cells

Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

Effect of Fe-doping on the structural, microstructural, optical, and ferroeletric properties of Pb1/2Sr1/2Ti1-xFexO3 oxide prepared by spin coating technique

Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

Electroanalytical determination of bumetanide employing a biomimetic sensor for detection of doping in sports

Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

Estudo, construção e caracterização de diodos orgânicos tipo Schttky

During the twentieth century the inorganic electronics was largely developed being present in various industrial equipment or household use. However, at the end of that century were verified electronic properties in organic compounds, giving rise to the field of organic electronics. Since then, the physical properties of elementary devices such as diodes and organic transistors have been studied. In this work was studied the properties of diode devices fabricated with a semiconductor polymer, the poly-o-methoxyaniline (POMA). Devices containing electrodes of Au and Al were fabricated with semiconductor polymer of different doping levels. We found that the rectifying behavior for the heterojunctions metal/polimer are reached only for high doping level (with conductivity greater than 1,77. 10-9 S / cm), which gives the devices characteristic of a Schottky diode. The rectifying behavior was observed for electric fields of low magnitude, below the operating field (~ 600 V/cm), while for electric field greater than 600 V/cm the a linear behavior I vs.V was obtained. We determined that this Ohmic behavior arises from the charge transport over the volume of the semiconductor material after the lowering of the metal/semiconductor barrier. In devices with weakly doped semiconductor, the electrical resistance of the volume becomes high and the process of charge transportation is dominated by the volume, for any intensity of the applied electric field