126 resultados para Códigos lineares


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Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

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A presente invenção refere-se a composições vanstoras à base de óxidos metálicos, mais particularmente à base de diáxido de estanho (SnO~ 2~) com a adição de óxidos metálicos dopantes, preferencialmente óxido de cobalto (CoO), pentóxido de nióbio (Nb~ 2~O~ 5~) e triáxido de cromo (Cr~ 2~O~ 3~), para conformação de e blocos cerâmicos varistores cujas propriedades eletrónicas não-óhmicas finais são independentes das dimensões dos corpos cerâmicos. A independência das propriedades não-óhmicas em relação às dimensões do corpo permite que uma mesma composição varistora seja utilizada em aplicações para baixas, médias e altas tensões.

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A presente invenção refere-se a um processo para aprimoramento e recuperação das propriedades eletrónicas não-óhmicas de peças cerâmicas, particularmente cerâmicas vanstoras à base de áxidos metálicos. Este processo aprimora as propriedades eletrónicas não-óhmicas de peças cerâmicas varistoras como obtidas durante a fabricação e recupera tais propriedades em peças cerâmicas que sofreram degradação, tanto física quanto química, durante o uso.

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The objective of this study was to obtain a mathematical equation to estimate the leaf area of Panicum maximum using linear measures of leaf blade. Correlation studies were conducted involving the real leaf area (Sf), the main vein leaf length (C), and the maximum leaf width (L). The linear and geometric equations related to C provided good leaf area estimates. For practical reasons, the use of an equation involving only the C*L product is suggested. Thus, an estimate of P. maximum leaf area can be obtained by the equation Sf = 0.6058 (C*L), with the coefficient of determination R = 0.8586.

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Pós-graduação em Engenharia Elétrica - FEIS

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Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq)

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Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

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Pós-graduação em Engenharia Elétrica - FEIS

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The purpose of this study was to determine a shape factor to estimate area of leaflets of two peanut cultivars (IAC TATU ST, IAC RUNNER 886). Correlation studies were conducted involving real leaf area (Sf) and leaf length (C), maximum leaf width (L) and the product between C and L. For each cultivar was determined a form factor (f) by means of regression analysis between the product of the length by the width and the actual area of leaves and the correlation between leaf area estimated by the correction factor and direct measurement. All evaluated models (linear, exponential or geometric) provided good estimates of leaf area (above 87%). Linear models had the best fit, passing or not through the origin. From a practical viewpoint, it is suggested to use the linear model involving the C and L product, using a linear coefficient equal to zero, with values of factor f equal to 0.7111 and 0.7266 for IAC RUNNER 886 and IAC TATU ST, respectively. The method of dimensions is feasible for the estimation of leaf area for both peanut cultivars, for showing good r(2) values (0.97), with errors below 3%, even when used with independent data.

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Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

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Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES)

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This research presents the results of a cephalometric radiography study, in frontal norm, that was used to measure the possible linear correlations between several linear dimensions of the face, in a sample of a 140 caucasian brazilians, with an average age of 20 years, who were distributed in 2 groups as follows: Control group - formed of 35 males and 35 females, with no apparent facial deformities and with dental oclusion, not necessarily, in Angle's Class I; Unilateral cleft lip and palate group - formed of 35 males and 35 females with surgical correction of the up in the first year and of the palate until the third year of life, without orthodontic treatment. ln each teleradiography, the following parameters were measured using a computer: - Lateral orbit width or external orbit width (LOe) - Medial orbit width or internal orbit width (LOI) - Zygomatic width or facial width (LZI) - Mastold width (LMa) - Maxilar width (LMx) - Nasal width (LNa) - Condilar width (LCo) - Antigonial width (LGa) The values obtained were treated statistically using quantitative analysis (arithmetic mean, standard deviation, standard mean error, Person's variation factor and Pearson factor linear correlation). Theirs significance was established by Student's t test. The Pearson factor linear correlations determined between transverse linear cephalometric width dimensions of face in frontal norm for individuals of both groups and sex, with an average age of 20 years, were: ...

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Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP)

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