Professionals: L'experiència d'un titulat que desenvolupa la seva activitat professional dissenyant circuits electrònics

Seguint amb l’objectiu que titulats a l’Escola Politècnica Superior expliquin detalls de la seva inserció laboral i del seu perfil professional, en aquest segon número de la revista entrevistem el Sr. Albert Pijuan Vila. En aquest cas no es tracta d’un titulat recent, ja que l’Albert va finalitzar els estudis l’any 1988. Recordem que, si bé al 1988 ja disposàvem de d’actual edifici P-I de l’EPS, l’escola encara estava vinculada a la Universitat Politècnica de Catalunya. El principal interès que ens ha mogut a entrevistar l’Albert ha estat el fet de poder presentar les característiques d’un tipus de lloc de treball que pot ser adient per a alguns dels titulats actuals de l’EPS, especialment d’Enginyeria Tècnica Industrial, especialitat Electrònica Industrial i Enginyeria Tècnica en Informàtica de Sistemes. L’entrevista també vol explorar quins són els tipus de coneixements i les competències que haurien d’adquirir els estudiants per adequar-se millor a aquest tipus de sortida professional

Two methods for voltage sag source location

This paper presents and compares two approaches to estimate the origin (upstream or downstream) of voltage sag registered in distribution substations. The first approach is based on the application of a single rule dealing with features extracted from the impedances during the fault whereas the second method exploit the variability of waveforms from an statistical point of view. Both approaches have been tested with voltage sags registered in distribution substations and advantages, drawbacks and comparative results are presented

A survey on voltage sag events in power systems

This paper aims to survey the techniques and methods described in literature to analyse and characterise voltage sags and the corresponding objectives of these works. The study has been performed from a data mining point of view

Unusual voltage sag event detection in power systems

Three multivariate statistical tools (principal component analysis, factor analysis, analysis discriminant) have been tested to characterize and model the sags registered in distribution substations. Those models use several features to represent the magnitude, duration and unbalanced grade of sags. They have been obtained from voltage and current waveforms. The techniques are tested and compared using 69 registers of sags. The advantages and drawbacks of each technique are listed

Decentralized model reference control of flexible cable-stayed beam structures

A decentralized model reference controller is designed to reduce the magnitude of the transversal vibration of a flexible cable-stayed beam structure induced by a seismic excitation. The controller design is made based on the principle of sliding mode such that a priori knowledge

Automatic diagnosis of voltage disturbances in power distribution networks

This thesis proposes a framework for identifying the root-cause of a voltage disturbance, as well as, its source location (upstream/downstream) from the monitoring place. The framework works with three-phase voltage and current waveforms collected in radial distribution networks without distributed generation. Real-world and synthetic waveforms are used to test it. The framework involves features that are conceived based on electrical principles, and assuming some hypothesis on the analyzed phenomena. Features considered are based on waveforms and timestamp information. Multivariate analysis of variance and rule induction algorithms are applied to assess the amount of meaningful information explained by each feature, according to the root-cause of the disturbance and its source location. The obtained classification rates show that the proposed framework could be used for automatic diagnosis of voltage disturbances collected in radial distribution networks. Furthermore, the diagnostic results can be subsequently used for supporting power network operation, maintenance and planning.

Case based reasoning as an extension of fault dictionary methods for linear electronic analog circuits diagnosis

El test de circuits és una fase del procés de producció que cada vegada pren més importància quan es desenvolupa un nou producte. Les tècniques de test i diagnosi per a circuits digitals han estat desenvolupades i automatitzades amb èxit, mentre que aquest no és encara el cas dels circuits analògics. D'entre tots els mètodes proposats per diagnosticar circuits analògics els més utilitzats són els diccionaris de falles. En aquesta tesi se'n descriuen alguns, tot analitzant-ne els seus avantatges i inconvenients. Durant aquests últims anys, les tècniques d'Intel·ligència Artificial han esdevingut un dels camps de recerca més importants per a la diagnosi de falles. Aquesta tesi desenvolupa dues d'aquestes tècniques per tal de cobrir algunes de les mancances que presenten els diccionaris de falles. La primera proposta es basa en construir un sistema fuzzy com a eina per identificar. Els resultats obtinguts son força bons, ja que s'aconsegueix localitzar la falla en un elevat tant percent dels casos. Per altra banda, el percentatge d'encerts no és prou bo quan a més a més s'intenta esbrinar la desviació. Com que els diccionaris de falles es poden veure com una aproximació simplificada al Raonament Basat en Casos (CBR), la segona proposta fa una extensió dels diccionaris de falles cap a un sistema CBR. El propòsit no és donar una solució general del problema sinó contribuir amb una nova metodologia. Aquesta consisteix en millorar la diagnosis dels diccionaris de falles mitjançant l'addició i l'adaptació dels nous casos per tal d'esdevenir un sistema de Raonament Basat en Casos. Es descriu l'estructura de la base de casos així com les tasques d'extracció, de reutilització, de revisió i de retenció, fent èmfasi al procés d'aprenentatge. En el transcurs del text s'utilitzen diversos circuits per mostrar exemples dels mètodes de test descrits, però en particular el filtre biquadràtic és l'utilitzat per provar les metodologies plantejades, ja que és un dels benchmarks proposats en el context dels circuits analògics. Les falles considerades son paramètriques, permanents, independents i simples, encara que la metodologia pot ser fàcilment extrapolable per a la diagnosi de falles múltiples i catastròfiques. El mètode es centra en el test dels components passius, encara que també es podria extendre per a falles en els actius.