Case based reasoning as an extension of fault dictionary methods for linear electronic analog circuits diagnosis

El test de circuits és una fase del procés de producció que cada vegada pren més importància quan es desenvolupa un nou producte. Les tècniques de test i diagnosi per a circuits digitals han estat desenvolupades i automatitzades amb èxit, mentre que aquest no és encara el cas dels circuits analògics. D'entre tots els mètodes proposats per diagnosticar circuits analògics els més utilitzats són els diccionaris de falles. En aquesta tesi se'n descriuen alguns, tot analitzant-ne els seus avantatges i inconvenients. Durant aquests últims anys, les tècniques d'Intel·ligència Artificial han esdevingut un dels camps de recerca més importants per a la diagnosi de falles. Aquesta tesi desenvolupa dues d'aquestes tècniques per tal de cobrir algunes de les mancances que presenten els diccionaris de falles. La primera proposta es basa en construir un sistema fuzzy com a eina per identificar. Els resultats obtinguts son força bons, ja que s'aconsegueix localitzar la falla en un elevat tant percent dels casos. Per altra banda, el percentatge d'encerts no és prou bo quan a més a més s'intenta esbrinar la desviació. Com que els diccionaris de falles es poden veure com una aproximació simplificada al Raonament Basat en Casos (CBR), la segona proposta fa una extensió dels diccionaris de falles cap a un sistema CBR. El propòsit no és donar una solució general del problema sinó contribuir amb una nova metodologia. Aquesta consisteix en millorar la diagnosis dels diccionaris de falles mitjançant l'addició i l'adaptació dels nous casos per tal d'esdevenir un sistema de Raonament Basat en Casos. Es descriu l'estructura de la base de casos així com les tasques d'extracció, de reutilització, de revisió i de retenció, fent èmfasi al procés d'aprenentatge. En el transcurs del text s'utilitzen diversos circuits per mostrar exemples dels mètodes de test descrits, però en particular el filtre biquadràtic és l'utilitzat per provar les metodologies plantejades, ja que és un dels benchmarks proposats en el context dels circuits analògics. Les falles considerades son paramètriques, permanents, independents i simples, encara que la metodologia pot ser fàcilment extrapolable per a la diagnosi de falles múltiples i catastròfiques. El mètode es centra en el test dels components passius, encara que també es podria extendre per a falles en els actius.

Disseny d’un circuit analògic reconfigurable

En l’actualitat, l’electrònica digital s’està apoderant de la majoria de camps de desenvolupament, ja que ofereix un gran ventall de possibilitats que permeten fer front a gran quantitat de problemàtiques. Poc a Poc s’ha anat prescindint el màxim possible de l’electrònica analògica i en el seu lloc s’han utilitzat sistemes microprocessats, PLDs o qualsevol altre dispositiu digital, que proporciona beneficis enlluernadors davant la fatigosa tasca d’implementar una solució analògica. Tot i aquesta tendència, és inevitable la utilització de l’electrònica analògica, ja que el mon que ens envolta és l’entorn en el que han de proporcionar servei els diferents dissenys que es realitzen, i aquest entorn no és discret sinó continu. Partint d’aquest punt ben conegut hem de ser conscients que com a mínim els filtres d’entrada i sortida de senyal juntament amb els convertidors D/A A/D mai desapareixeran. Així doncs, aquests circuits analògics, de la mateixa forma que els digitals, han de ser comprovats un cop dissenyats, és en aquest apartat on el nostre projecte desenvoluparà un paper protagonista, ja que serà la eina que ha de permetre obtenir les diferents senyals característiques d’un determinat circuit, per posteriorment realitzar els tests que determinaran si es compleix el rang de correcte funcionament, i en cas de no complir, poder concretar quin paràmetre és el causant del defecte