Auswirkungen des Überganges von der Grundschule in die Sekundarstufe I auf das Wohlbefinden und Selbstkonzept von Schülerinnen und Schülern

Ausgehend von der Annahme, dass der Übergang von der Grundschule in die Sekundarstufe 1 umfassende Auswirkungen auf Wohlbefinden und Selbstkonzept von Kindern haben kann und der geringen Anzahl qualitativer Studien zum Thema, ging die Arbeit der Frage nach, wie der Schulübergang von Kindern selbst diesbezüglich bewertet wird. Ziel waren individuelle Einzelfallanalysen und eine Typisierung unterschiedlicher Bewältigungstypen des Schulübergangs, um Gemeinsamkeiten und Unterschiede in der Einschätzung dieses Transitionsprozesses aus Sicht der Betroffenen darzustellen. Mittels qualitativer Leitfadeninterviews mit acht Kindern vor und nach dem Schulübergang wurden die Ausgangsdaten erhoben und mithilfe eines Diktiergeräts aufgenommen. Diese Aufnahmen wiederum wurden nach dem „TiQ“-Verfahren transkribiert und anschließend in Anlehnung an Mayring und Schmidt kategorisiert und ausgewertet. Die Ergebnisse wurden in einzelnen Fallinterpretationen und in drei unterschiedlichen Bewältigungstypen (positiv, neutral, negativ) dargestellt. Die Untersuchung führte zutage, dass der Schulübergang von den Kindern kritisch reflektiert wird und sowohl Hoffnungen als auch Befürchtungen mit ihm verbunden werden. Wie die drei Bewältigungstypen zeigen, überwiegen teilweise Sorgen, Ängste und Unsicherheit, teils halten sich die verschiedenen Aspekte die Waage und in anderen Fällen wird der Transitionsprozess mehrheitlich positiv bewertet. Das besondere Merkmal der Untersuchung stellt dabei der Vergleich zwischen den Aussagen vor und denen nach dem Schulübergang dar, mittels dessen Bestätigungen bzw. Widerlegungen von Anfangsaussagen deutlich werden.

Experimentelle Untersuchung des Optimierungspotenzials in der kurzkohärenten Interferenzmikroskopie

Die vorliegende Arbeit befasst sich mit dem lateralen Auflösungsvermögen in der kurzkohärenten Interferenzmikroskopie. Das 3D-Auflösungsvermögen von Phasenobjekten ist im Gegensatz zu dem von Intensitätsobjekten stark nichtlinear und vom spezifischen Messverfahren abhängig. In diesem Zusammenhang sind systematische Messfehler von entscheidender Bedeutung. Für die kurzkohärente Interferenzmikroskopie ist das Überschwingen an Kanten von besonderem Belang, da sich der Effekt bei der Messung vieler technischer Oberflächen negativ auswirkt. Er entsteht durch die Überlagerung von Interferenzsignalen lateral benachbarter Objektpunkte von unterschiedlichen Höhenniveaus. Es wird an speziell für diesen Zweck entwickelten Messsystemen untersucht in wie weit dieser Effekt physikalisch reduziert werden kann und wie sich dies auf die laterale Auflösung auswirkt. An einem für den Einsatz in einer Nanomessmaschine optimierten Linnik-Interferometer wird die Justage eines solchen Systems erläutert. Der Sensor verfügt über die Option mit NUV-Licht betrieben zu werden, um die laterale Auflösung zu verbessern. Aufgrund des Einsatzzweckes ist der Arbeitsabstand relativ groß, was die laterale Auflösung einschränkt. Mit einem zweiten auf die Untersuchungen in dieser Arbeit optimierten Versuchsaufbau können die physikalischen Grenzen der kurzkohärenten Interferenzmikroskopie praktisch untersucht werden. Zu diesem Zweck ist der Aufbau mit einem Mikrospiegelarray ausgestattet, um hierüber variable konfokale Blenden zu schaffen. Mit diesem System wird erstmalig konfokale Mikroskopie mit Weißlichtinterferometrie kombiniert. Durch die optische Selektion der konfokalen Mikroskopie soll die Ursache für die Überschwinger an Kanten reduziert werden. Eine weitere Möglichkeit der Einflussnahme stellt die optionale Beleuchtung mit polarisiertem Licht dar, wodurch die laterale Auflösung weiter gesteigert werden kann. Zusätzlich kann auch dieser Aufbau mit kurzwelligem blauem Licht betrieben werden, um die laterale Auflösung zu optimieren. Die Messergebnisse, die mit diesen Versuchsaufbauten gemacht wurden, zeigen, dass im Gegensatz zu den in der derzeitigen Normung genutzten Modellen das Übertragungsverhalten in der Weißlichtinterferometrie bei der Messung von Phasenobjekten stark nichtlinear ist. Das laterale Auflösungsvermögen deckt sich je nach Auswerteverfahren recht gut mit dem von klassischen Mikroskopen bei der Wiedergabe von Intensitätsobjekten. Für die Untersuchungen wurde überwiegend ein Auflösungsnormal mit neun unterschiedlichen eindimensionalen Rechteckstrukturen verwendet, die eine Nominalhöhe im kritischen Bereich kleiner der Kohärenzlänge der verwendeten Lichtquelle aufweisen. Die Ergebnisse bestätigen sich aber auch an technischen Messobjekten aus der Praxis wie beispielsweise einer „digital video disc“.