Controlo e Aquisição de Dados no aparelho Posch ToF-SIMS

A espectrometria de massa de iões secundários por tempo-de-voo, ToF-SIMS, é umas das mais importantes e versáteis técnicas de análise de superfícies. As suas características únicas tais como excelente resolução em massa, alta sensibilidade, elevada resolução lateral e em profundidade e ausência de limite da massa superior, justificam a sua adopção como técnica favorita em campos tão diversos como a análise de metais, semicondutores, isoladores e compostos orgânicos. A técnica SIMS com feixe primário duplo (dual beam SIMS) é uma técnica extremamente poderosa para uma variedade de aplicações de análise em profundidade. A utilização de feixes de iões separados para a erosão e análise de uma amostra permite a variação independente de diferentes parâmetros experimentais. Desenvolveram-se duas aplicações em LabVIEWTM que permitem efectuar análises de superfícies com as técnicas SIMS estático, SIMS Imagem e dual beam SIMS. As aplicações desenvolvidas permitiram optimizar o controlo do espectrómetro de massa do tipo ToF-SIMS do laboratório de ciências de superfície do Grupo de Ciências de Superfície e Tecnologia de Vácuo do CEFITEC, a conversão e aquisição de dados e a sua representação e armazenamento. O trabalho efectuado constitui uma grande inovação no sistema de aquisição de dados e no controlo do espectrómetro de ToF-SIMS. As versões actuais das aplicações desenvolvidas estão aptas a responder, com fiabilidade, às necessidades do utilizador.

Dinâmica da população do concelho de Tarrafal entre 1990 e 2000 e o seu impacto socio-económico

O presente trabalho, cujo o tema é «Dinâmica da população do concelho de Tarrafal entre 1990 e 2000 e o seu impacto socio-económico», vem na sequência de investigação para apresentação de um trabalho científico de fim do curso como requisito parcial para a obtenção do grau de licenciatura em Geografia. Este trabalho surgiu, igualmente, da verificação de vários problemas que afectam o concelho, tanto de ordem demográfico, económico, social como ambiental. Não obstante os problemas, que se arrastam desde há muito tempo e que levou na, actualidade, ao posicionamento do concelho de entre os mais pobres do arquipélago de Cabo Verde. O concelho tem vindo a aumentar consideravelmente o seu efectivo populacional ao longo dos tempos. Ao longo da elaboração deste trabalho enfrentamos algumas dificuldades, sobretudo na aquisição de dados, devido à criação do concelho de São Miguel em 1997, que veio separar a freguesia de São Miguel Arcanjo da freguesia da de Santo Amaro Abade, dando assim origem a dois concelhos autónomos. Por isso no segundo capítulo, onde analisamos dinâmica/estado e evolução demográfica enfrentamos algumas dificuldades, dado à ausência de séries estatísticas específicas sobre o actual concelho em estudo. Neste contexto optamos pela análise conjunta (Tarrafal e São Miguel) de alguns indicadores. Como sabemos, a dinâmica de uma população tem implicações directas nas condições sócio-económicas, podendo arrastar consigo alguns problemas que podem influir nas condições de vida das populações. Sendo assim, com estes propósitos procurámos fazer uma abordagem geral sobre a dinâmica da população no concelho do Tarrafal e o seu impacto sócio-económico, em vários ângulos, nomeadamente: os aspectos sócio-culturais, económicos e demográficos. Além da introdução onde procurámos fazer o enquadramento do trabalho, com os objectivos preconizados, a metodologia seguida, a justificação da importância do tema, este trabalho se encontra estruturado em quatro capítulos, mais as conclusões, recomendações, bibliografias e anexos.