Käyttöohjeet Zündapp moottoripyörille DB 200, DB 250, DBK 250, DS 350, K 500, KS 500, KS 600

kuv., 14 x 21 cm

D. K. W. (pikku ihme) polkupyörämoottorin montteerausohje

10 x 20 cm

D. K. W. (pikku ihme) polkupyörämoottorin montteerausohje

11 x 20 cm

K. H. Täten on meillä kunnia ilmoittaa

14 x 22 cm

Gargoyle Mobiloil hinnasto no K 16

kuv., 10 x 18 cm

Mobiloil prislista no K 16

kuv., 10 x 18 cm

S.A.K:n pikakartta

kuv., 21 x 29 cm

K-junalla sedulaan : luokkataustaiset makuluokittelut Helsingin yöelämässä

Teema: Luokka.

T&k-toiminnan suorituskyvyn johtaminen: kontekstin vaikutus mittaamiseen pk-yrityksissä

Tutkimuksen päätavoitteena oli ymmärtää, kuinka konteksti vaikuttaa t&k-toiminnan suorituskyvyn mittaamiseen pk-yrityksissä. Tutkimus kartoitti ja kuvaili kontekstin vaikutusta mallilla, joka jaottelee mittaamisen sisältöön, kontekstiin ja prosessiin. Kontekstin vaikutusta sisältöön ja prosessiin tutkittiin sekä suoraan että välillisesti mittaamisen tavoitteen kautta. Tutkimuksessa käytettiin case survey-tutkimusmenetelmää, jossa yhdistyy survey-tutkimuksen ja tapaustutkimuksen strategiat. Empiirisenä aineistona käytettiin olemassa olevia tapaustutkimuksia, joiden laadulliset havainnot muunnettiin systemaattisesti määrällisiksi muuttujiksi koodausjärjestelmällä. Muuttujien yhteyksien ristiintaulukoinnit analysoitiin tilastollisesti merkitsevien riippuvuuksien tunnistamiseksi ja laajempaa joukkoa koskevien päätelmien johtamiseksi. Tulokset olivat yhteneväisiä aiemman tutkimustiedon kanssa, mikä osoittaa kontekstin vaikutuksen t&k-toiminnan suorituskyvyn mittaamiseen olevan samankaltainen pk-yrityksissä kuin suuremmissakin yrityksissä. Empiirisinä yleistyksinä tunnistettiin uusia riippuvuuksia kontekstin ja sisällön sekä kontekstin ja prosessin välillä. Yleistykset suositellaan testattavaksi hypoteeseina jatkotutkimuksessa.

Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) characterization of lanthanum lutetium oxide high-k dielectric thin films

Lanthanum lutetium oxide (LaLuO3) thin films were investigated considering their perspective application for industrial microelectronics. Scanning probe microscopy (SPM) techniques permitted to visualize the surface topography and study the electric properties. This work compared both the material properties (charge behavior for samples of 6 nm and 25 nm width) and the applied SPM modes. Particularly, Kelvin probe force microscopy (KPFM) was applied to characterize local potential difference with high lateral resolution. Measurements showed the difference in morphology, chargeability and charge dissipation time for both samples. The polarity effect was detected for this material for the first time. Lateral spreading of the charged spots indicate the diffusive mechanism to be predominant in charge dissipation. This allowed to estimate the diffusion coefficient and mobility. Using simple electrostatic model it was found that charge is partly leaking into the interface oxide layer.