78 resultados para rays


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In this note we report high time resolution V Johnson photometry of the microquasar V4641 Sgr (SAX J1819.3-2525 - XTE J1819-254). This source was discovered as an X-ray transient by BeppoSAX and RossiXTE satellites (In't Zand et al. 1999; Markwardt et al. 1999). On 1999 September, a very fast transient optical and X-ray outburst was observed, reaching up to ...

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Se detalla un método nuevo para la preparación de agregados orientados de arcilla para sus análisis por Difracción de Rayos X. Se trata de emplear un extensor para obtener un grosor constante de material, que por su delgadez seca rápidamente, economizándose tiempo y espacio en el laboratorio, obteniéndose además mejores resultados que con el método convencional.

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Se ha utilizado la evaporación secuencial de Cu, Y2O3 y BaF2 para la obtención de láminas delgadas superconductoras de YBa-CuO sobre substratos de Si monocristalino con orientación [100], recubiertos con una lámina barrera de Zr02. Se han estudiado los efectos de la variación de los espesores relativos de las láminas constituyentes y del espesor total de la lámina resultante. Las láminas se han caracterizado mediante medidas de la variación de la resistencia con la temperatura, microscopía electrónoca de barrido, difractometría de rayos X, microson-da electrónica y espectometría de masas de iones secundarios. Las láminas presentan un ligero carácter semiconductor en el estado normal, con temperaturas de inicio de la transición su-perconductora alrededor de 90 K, y resistencia nula, en el mejor de los casos, a 45 K.