Factores críticos de desarrollo de comunidades locales y regionales de la zona pampeana de la Provincia de Córdoba

El proyecto es la primera de tres etapas previstas para determinar factores críticos que inciden en el desarrollo local y regional integrado en la Provincia de Córdoba. Las poblaciones del interior de la Provincia de Córdoba, con exclusión de la Capital y de las principales ciudades del interior, han padecido los procesos de concentración geográfica del ingreso, la riqueza, los presupuestos oficiales y las migraciones. Muchas veces librada a su suerte, la sociedad civil de estas comunidades desarrolló y capitalizó una red de instituciones que prestan los servicios que el Estado no cubrió. Los gobiernos locales, a la vez, intentan, con éxitos limitados, detener el procesos de descapitalización social -financiera y humana de sus comunidades. Las empresas, con ciclos recurrentes de crecimiento y decrecimiento vinculados a los mercados, se debaten en la búsqueda de los escasos recursos, financieros y humanos, que les permitan consolidar un desarrollo a mediano y largo plazo. Juntos tienen, especialmente en la región pampeana de la Provincia, una nueva oportunidad de hacerlo. Según nuestra hipótesis, incidirían en estos procesos como factores críticos: 1. Aspectos exógenos que descapitalizan las comunidades como los tributarios (impuestos y gasto geográfico), financieros (colocaciones y préstamos), educativos (migración de los miembros más capacitados), sanitarios (por la concentración de las prestaciones de mayor complejidad), y de prestación de servicios públicos (por las mayores tarifas y menores prestaciones) de las empresas de capital concentrado. 2. Aspectos endógenos que producen des-economías, ineficiencias y desaprovechamiento de los recursos (humanos, productivos, tecnológicos, organizativos y financieros) locales y regionales, como: la falta de un proyecto local y/o regional común; dinámicas no participativas; insuficiencia, dispersión y desconocimiento de información clave para la planeación; diferencias personales y conflictos de roles; carencia de cadenas productivas integradas verticalmente El proyecto propone como objetivos: 1. Identificar y, en la medida de lo posible, cuantificar los factores críticos exógenos y endógenos para el desarrollo local y regional integrado; 2. elaborar sobre esta base modelos de desarrollo, proyectos interinstitucionales y propuestas de cadenas productivas que disminuyan los problemas y potencien las oportunidades de las comunidades regionales estudiadas

Fallas por radiación en ci y sistemas tolerantes a fallas en tecnologías nanométricas.

En este proyecto se propone: 1- Formular y analizar los problemas actuales en las técnicas de inyección de fallas para estimar SER (Single Event Response) en los circuitos integrados, aplicandolas luego para evaluar la tolerancia a fallos de diferentes circuitos integrados analógicos/digitales. El objetivo general que se persigue es proporcionar una solución que permita realizar, de forma rápida, eficaz y a bajo costo, la inyección de fallos en los circuitos analógicos y digitales. 2- Estudiar una aproximación no intrusita de detección de fallos en CI, combinando técnicas de hardware y software para detectar errores transitorios en circuitos analógicos y digitales. Este tipo de fallos transitorios tienen una influencia importante en sistemas de microprocesadores, que afectan al flujo de datos y a la etapa de control. Con el fin de proteger el sistema, un módulo de hardware orientado a la aplicación se generará automáticamente, reconfigurándose en el sistema durante el tiempo de ejecución. Cuando se combina esto con técnicas de tolerancia a fallas basadas en programación (Software), esta solución ofrece una protección total del sistema contra fallos transitorios. La campaña de inyección de fallas se planea realizar en un microprocesador MIPS, ejecutando algún programa de evaluación, con ayuda de una plataforma genérica y versátil desarrollada en TIMA (Francia). 3- Comparar los resultados obtenidos del estudio de las técnicas de inyección con los resultados experimentales, a partir de ensayos de radiación (aceleradores de partículas, micro rayos, etc.) al exponer a los circuitos a posibles fuentes de fallas.