9 resultados para Niobium carbide

em Repositório Científico do Instituto Politécnico de Lisboa - Portugal


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The present work concerns a new synthesis approach to prepare niobium based SAPO materials with AEL structure and the characterization ofNb species incorporated within the inorganic matrixes. The SAPO-11 materials were synthesized with or without the help of a small amine, methylamine (MA) as co-template, while Nb was added directly during the preparation of the initial gel. Structural, textural and acidic properties of the different supports were evaluated by XRD, TPR, UV-Vis spectroscopy, pyridine adsorption followed by IR spectroscopy and thermal analyses. Pure and well crystalline Nb based SAPO-11 materials were obtained, either with or without MA, using in the initial gel a low Si content of about 0.6. Increasing the Si content of the gel up to 0.9 led to an important decrease of the samples crystallinity. Niobium was found to incorporate the AEL pores support as small Nb2O5 oxide particles and also as extra framework cationic species (Nb5+), compensating the negative charges from the matrix and generating new Lewis acid sites. (C) 2011 Elsevier Inc. All rights reserved.

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Amorphous and crystalline sputtered boron carbide thin films have a very high hardness even surpassing that of bulk crystalline boron carbide (≈41 GPa). However, magnetron sputtered B-C films have high friction coefficients (C.o.F) which limit their industrial application. Nanopatterning of materials surfaces has been proposed as a solution to decrease the C.o.F. The contact area of the nanopatterned surfaces is decreased due to the nanometre size of the asperities which results in a significant reduction of adhesion and friction. In the present work, the surface of amorphous and polycrystalline B-C thin films deposited by magnetron sputtering was nanopatterned using infrared femtosecond laser radiation. Successive parallel laser tracks 10 μm apart were overlapped in order to obtain a processed area of about 3 mm2. Sinusoidal-like undulations with the same spatial period as the laser tracks were formed on the surface of the amorphous boron carbide films after laser processing. The undulations amplitude increases with increasing laser fluence. The formation of undulations with a 10 μm period was also observed on the surface of the crystalline boron carbide film processed with a pulse energy of 72 μJ. The amplitude of the undulations is about 10 times higher than in the amorphous films processed at the same pulse energy due to the higher roughness of the films and consequent increase in laser radiation absorption. LIPSS formation on the surface of the films was achieved for the three B-C films under study. However, LIPSS are formed under different circumstances. Processing of the amorphous films at low fluence (72 μJ) results in LIPSS formation only on localized spots on the film surface. LIPSS formation was also observed on the top of the undulations formed after laser processing with 78 μJ of the amorphous film deposited at 800 °C. Finally, large-area homogeneous LIPSS coverage of the boron carbide crystalline films surface was achieved within a large range of laser fluences although holes are also formed at higher laser fluences.

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Laser-assisted chemical vapour deposition (LCVD) has been extensively studied in the last two decades. A vast range of applications encompass various areas such as microelectronics, micromechanics, microelectromechanics and integrated optics, and a variety of metals, semiconductors and insulators have been grown by LCVD. In this article, we review briefly the LCVD process and present two case studies of thin film deposition related to laser thermal excitation (e.g., boron carbide) and non-thermal excitation (e.g., CrO(2)) of the gas phase.

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Ao longo deste trabalho é apresentada a caracterização optoelectrónica de uma estrutura semicondutora empilhada de fotodíodos PIN (Positive-Intrinsic-Negative), baseados em silício amorfo hidrogenado (a-Si:H - Hydrogenated Amorphous Silicon) e siliceto de carbono amorfo hi-drogenado (a-SiC:H - Hydrogenated Amorphous Silicon Carbide), em que ambos funcionam como filtros ópticos na zona visível do espectro electromagnético e cuja sensibilidade espectral na região do visível é modulada pelo sinal de tensão eléctrico aplicado e pela presença de polarização óptica adicional (radiação de fundo). Pretende-se utilizar a característica de sensor de cor destes dispositivos semicondutores para realizar a demultiplexagem de sinais ópticos e desenvolver um algoritmo que permita fazer o reco-nhecimento autónomo do sinal transmitido em cada canal, tendo em vista a utilização de vários ca-nais para a transmissão de sinais a curta distância. A transmissão destes sinais deverá ser suportada no meio de transmissão fibra óptica, que constituirá uma importante mais-valia na optimização do sistema WDM (Wavelength Division Mul-tiplexing), permitindo optimizar a transmissão de sinais. Pelas suas capacidades intrínsecas, as fi-bras ópticas de plástico (POF - Plastic Optical Fibers) são uma solução adequada para a transmis-são de sinais no domínio visível do espectro electromagnético a curtas distâncias. Foi realizada uma sucinta caracterização optoelectrónica da estrutura semicondutora sob diferentes condições de iluminação, variando o comprimento de onda e a iluminação de fundo que influencia a resposta espectral do dispositivo semicondutor, variando as cores dos fundos inciden-tes, variando o lado incidente do fundo sobre a estrutura semicondutora, variando a intensidade des-ses mesmos fundos incidentes e também variando a frequência do sinal de dados. Para a transmissão dos sinais de dados foram utilizados três dispositivos LED (Light-Emitting Diode) com as cores vermelho (626nm), verde (525nm) e azul (470nm) a emitir os respec-tivos sinais de dados sobre a estrutura semicondutora e onde foram aplicadas diversas configurações de radiação de fundo incidente, variando as cores dos fundos incidentes, variando o lado incidente do fundo sobre a estrutura semicondutora e variando também a intensidade desses mesmos fundos incidentes. Com base nos resultados obtidos ao longo deste trabalho, foi possível aferir sobre a influên-cia da presença da radiação de fundo aplicada ao dispositivo, usando diferentes sequências de dados transmitidos nos vários canais. Sob polarização inversa, e com a aplicação de um fundo incidente no lado frontal da estrutura semicondutora os valores de fotocorrente gerada são amplificados face aos valores no escuro, sendo que os valores mais altos foram encontrados com a aplicação do fundo de cor violeta, contribuindo para tal, o facto do sinal do canal vermelho e canal verde serem bastan-te amplificados com a aplicação deste fundo. Por outro lado, com a aplicação dos fundos incidentes no lado posterior da estrutura semi-condutora, o sinal gerado não é amplificado com nenhuma cor, no entanto, a aplicação do fundo de cor azul proporciona a distinção do sinal proveniente do canal azul e do canal vermelho, sendo que quando está presente um sinal do canal vermelho, o sinal é fortemente atenuado e com a presença do sinal do canal azul o sinal gerado aproxima-se mais do valor de fotocorrente gerada com a estru-tura no escuro. O algoritmo implementado ao longo deste trabalho, permite efectuar o reconhecimento au-tónomo da informação transmitida por cada canal através da leitura do sinal da fotocorrente forne-cida pelo dispositivo quando sujeito a uma radiação de fundo incidente violeta no lado frontal e uma radiação de fundo incidente azul no lado posterior. Este algoritmo para a descodificação dos sinais WDM utiliza uma aplicação gráfica desenvolvida em Matlab que com base em cálculos e compara-ções de sinal permite determinar a sequência de sinal dos três canais ópticos incidentes. O trabalho proposto nesta tese é um módulo que se enquadra no desenvolvimento de um sistema integrado de comunicação óptica a curta distância, que tem sido alvo de estudo e que resulta das conclusões de trabalhos anteriores, em que este dispositivo e outros de configuração idêntica foram analisados, de forma a explorar a sua utilização na implementação da tecnologia WDM den-tro do domínio do espectro visível e utilizando as POF como meio de transmissão.

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This work reports on the optoelectronic properties and device application of hydrogenated amorphous silicon carbide (a-Si(1-x)C(x):H) films grown by plasma-enhanced chemical vapour deposition (PECVD). The films with an optical bandgap ranging from about 1.8 to 2.0 eV were deposited in hydrogen diluted silane-methane plasma by varying the radio frequency power. Several n-i-p structures with an intrinsic a-Si(1-x)C(x):H layer of different optical gaps were also fabricated. The optimized devices exhibited a diode ideality factor of 1.4-1.8, and a leakage current of 190-470 pA/cm(2) at -5 V. The density of deep defect states in a-Si(1-x)C(x):H was estimated from the transient dark current measurements and correlated with the optical bandgap and carbon content. Urbach energies for the valence band tail were also determined by analyzing the spectral response within sub-bandgap energy range. (C) 2010 WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim

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In this paper we present results on the use of a multilayered a-SiC:H heterostructure as a wavelength-division demultiplexing device (WDM) for the visible light spectrum. The WDM device is a glass/ITO/a-SiC:H (p-i-n)/ a-SiC:H(-p) /Si:H(-i)/SiC:H (-n)/ITO heterostructure in which the generated photocurrent at different values of the applied bias can be assigned to the different optical signals. The device was characterized through spectral response measurements, under different electrical bias. Demonstration of the device functionality for WDM applications was done with three different input channels covering wavelengths within the visible range. The recovery of the input channels is explained using the photocurrent spectral dependence on the applied voltage. The influence of the optical power density was also analysed. An electrical model, supported by a numerical simulation explains the device operation. Short range optical communications constitute the major application field, however other applications are also foreseen.

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Trabalho Final de Mestrado para obtenção do grau de Mestre em Engenharia de Electrónica e Telecomunicações

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Trabalho Final de Mestrado para obtenção do grau de Mestre em Engenharia de Electrónica e Telecomunicações

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Dissertação para a obtenção do grau de Mestre em Engenharia Electrotécnica Ramo de Energia