Plataforma de simulación de aberraciones ópticas vía implementación de las características de un SLM y reconstrucción de fase usando algoritmos basados en los sensores de Hartmann-Shack

Dada la importancia que hoy día presenta dentro del ámbito de la óptica, la implementación y conocimiento de dispositivos capaces tanto de generar aberraciones ópticas bien caracterizadas como de censarlas, se presenta a lo largo de este trabajo el desarrollo de una interfaz gráfica en MATLAB, que permita simular el funcionamiento tanto de un sensor de frente de onda de Hartamnn-Shack (HS), así como la simulación de dispositivos capaces de modificar frentes de onda como los SLM, adicionando algoritmos de propagación y cálculo de centroides -- Para ello, se implementarán en primer lugar máscaras de fase que generen frentes de onda aberrados a partir de la modulación en fase de moduladores espaciales de luz o SLM, tanto a través de funciones lente de primer orden en representación de las aberraciones constantes, como de fase cuadrática en representación de las aberraciones de bajo orden y adicionalmente como combinaciones lineales de polinomios de Zernike -- Todo lo anterior se simulará teniendo en cuenta las características técnicas de los SLM, como lo son el número de pixeles en x y en y, el tamaño de estos y la curva de calibración de los moduladores espaciales, tanto para una relación lineal como para una relación no lineal -- Posteriormente se simularán las dos propagaciones sufridas por los haces de luz desde el SLM hasta el CCD (dispositivo de carga acoplada), pasando a través de la matriz de multilentes del HS (MLA), a partir de la implementación de algoritmos de propagación de un solo paso, que nos permitirán observar sobre el plano del CDD el mapa de spots necesario para el censado de las superficies -- Continuaremos con la construcción de algoritmos para determinar los centroides de dicho mapa y sus respectivas coordenadas, seguiremos con la implementación de algoritmos de reconstrucción modal empleados por sensores de frente de onda de Hartmann-Shack, y finalmente compararemos el grado de error existente entre las superficies generadas y las superficies censadas a través del cálculo de su error cuadrático medio

Desarrollo de un protocolo para la aplicación del método de Rietveld y del estándar interno en la caracterización de materiales cerámicos con contenido de amorfos

La técnica de difracción de rayos X de muestras en polvo se ha convertido en una de las herramientas más útiles en el ámbito internacional para el análisis mineralógico cuantitativo de materiales -- Con base en esta técnica se han desarrollado diversos métodos con los cuales no solo es posible obtener información cualitativa y cuantitativa de las fases cristalinas en un material, sino también del contenido de amorfos si el material es semicristalino -- Los métodos de este tipo más difundidos son el método de cuantificación de fases de Rietveld y el método del estándar interno de cuantificación del contenido de amorfos -- En el método de Rietveld se modela todo el perfil de difracción observado a partir de parámetros estructurales de las fases constituyentes, lo que permite refinar parámetros de naturaleza instrumental y cristalográfica, se compara el difractograma calculado y el observado, se reducen las diferencias a través del método de mínimos cuadrados y se obtiene a partir de esto los resultados cuantitativos -- En el método del estándar interno se obtiene un estimativo del contenido de amorfos mezclando con la muestra una cantidad conocida de un estándar interno apropiado y con base en esto, se corrige el contenido de fases en la mezcla cuantificado por el método de Rietveld -- El trabajo consistió en el estudio y evaluación del método de Rietveld y del estándar interno, para lo cual se indagó acerca del efecto en el contenido de amorfos cuantificado al variar el tipo de estándar interno utilizado y su cantidad añadida -- Se estudiaron los factores de distorsión relacionados con la orientación preferencial, la microabsorción y el efecto en los resultados del tipo de parámetros refinados en el modelamiento del perfil de difracción, con el objeto de proponer un protocolo validado de cuantificación del contenido de amorfos en materiales cerámicos con base en los métodos de Rietveld y del estándar interno usando el programa X'Pert High Score Plus® v3.0e de PANalytical®, así como de aplicarlo en la caracterización de ciertos materiales seleccionados

Numerical analysis of the modal coupling at low resonances in a Colombian Andean Bandola in C using the finite element method

The work presented in this thesis is concerned with the dynamical behavior of a CBandola's acoustical box at low resonances -- Two models consisting of two and three coupled oscillators are proposed in order to analyse the response at the first two and three resonances, respectively -- These models describe the first resonances in a bandola as a combination of the lowest modes of vibration of enclosed air, top and back plates -- Physically, the coupling between these elements is caused by the fluid-structure interaction that gives rise to coupled modes of vibration for the assembled resonance box -- In this sense, the coupling in the models is expressed in terms of the ratio of effective areas and masses of the elements which is an useful parameter to control the coupling -- Numerical models are developed for the analysis of modal coupling which is performed using the Finite Element Method -- First, it is analysed the modal behavior of separate elements: enclosed air, top plate and back plate -- This step is important to identify participating modes in the coupling -- Then, a numerical model of the resonance box is used to compute the coupled modes -- The computation of normal modes of vibration was executed in the frequency range of 0-800Hz -- Although the introduced models of coupled oscillators only predict maximum the first three resonances, they also allow to study qualitatively the coupling between the rest of the computed modes in the range -- Considering that dynamic response of a structure can be described in terms of the modal parameters, this work represents, in a good approach, the basic behavior of a CBandola, although experimental measurements are suggested as further work to verify the obtained results and get more information about some characteristics of the coupled modes, for instance, the phase of vibration of the air mode and the radiation e ciency

Registro de hologramas a partir de objetos planos generados en un LCD

En los últimos años se ha dado un resurgimiento en el desarrollo de técnicas y dispositivos para generar imágenes 3D, algunos fundamentados en la estereoscopía y otros en la holografía -- La estereoscopía holográfica, surge como una propuesta híbrida que aprovechando las ventajas de cada una de ellas, permite registrar conjuntos de pares estereoscópicos de manera holográfica que reconstruyen imágenes 3D con características superiores a los estereogramas convencionales y soluciona algunas de las dificultades inherentes a la holografía -- En este trabajo se hace una propuesta de un sistema óptico alternativo en el que se utiliza un monitor LCD convencional como sistema de proyección, con el fin de generar las condiciones experimentales necesarias que posibiliten el registro de hologramas y la obtención de estereogramas holográficos bajo diferentes configuraciones -- Se evaluaron las condiciones de polarización y del elemento difusor del sistema, para mejorar su desempeño en el registro de hologramas de transmisión de objetos planos proyectados a partir de un LCD -- A partir de estos resultados, se posibilitó la obtención de matrices que permitieron el registro de hologramas de reflexión plano-imagen y estereogramas holográficos para los cuales se generaron las condiciones experimentales necesarias

Holopixel: estudio de la factibilidad de implementar la tecnología para el registro de hologramas de matriz de puntos

En este trabajo se presenta la investigación realizada con el objeto de determinar la factibilidad tecnológica para el registro de los hologramas de matriz de punto utilizados ampliamente en la industria de las artes gráficas como elementos de seguridad en la lucha contra la piratería y la falsificación de productos -- Para ello se estudian y presentan los fundamentos ópticos de las rejillas de difracción que los conforman, derivando los métodos que permiten el cálculo a partir de condiciones establecidas de iluminación y reconstrucción -- A partir de dichos métodos se desarrollan y se ponen en funcionamiento sistemas y arreglos experimentales completos, que involucran el software para el control de los dispositivos mecánicos, para el manejo y diseño de las imágenes, y adicionalmente la óptica propiamente dicha -- Los sistemas de esta forma implementados, que permiten la generación y registro de las rejillas, son puestos a prueba y se presentan los resultados tomando como parámetro la medición de los espectros generados por difracción -- Finalmente se presentan y evalúan varios ejemplos típicos de la aplicación de los hologramas de seguridad generados en el sistema desarrollado