一种基于Messy GA的结构测试数据自动生成方法

结构性测试是标识测试用例的基本方法之一．由于程序语言的复杂性以及被测程序的多样性，自动生成结构测试数据的一种有效方法是根据程序运行结果指导生成过程，通过不断迭代，生成符合要求的测试数据集．提出一种基于Messy GA的结构测试数据自动生成方法，将测试覆盖率表示为测试输入集X的函数F（X），并利用Messy GA不需要染色体模式排列的先验知识即可进行优化求解的性质对F（X）的进行迭代寻优，进一步提高了搜索的并行性，并最终提高测试覆盖率．对一组标准测试程序和若干实际应用程序的实验结果表明，较之现有基于遗传算法的生成方法，该方法能够以更高的效率生成更高质量的测试数据，并适用于较大规模的程序．

软件质量管理中的统计过程控制

统计过程控制（SPC, Statistical Process Control）是一种借助数理统计工具的过程控制方法，它利用统计工具及技术（如控制图）对过程或过程输出进行分析，找出过程中的不确定因素并及时消除，控制、管理、改进过程产品的质量或过程能力，从而达到保证产品质量的目的。它能帮助用户采取适当措施来保证过程处于统计意义的受控状态，并且帮助用户提高生产能力，以满足或超越顾客的期望。SPC最早是在工业界提出的，在工业界的成功也促使它被应用于其它许多商业领域。本文主要探讨统计过程控制在软件质量管理中的实施。

现代质量管理理论在软件组织的应用

International Software Process Association (ISPA); Chinese Academy of Sciences, Institute of Software (ISCAS); ISCAS Laboratory for Internet Software Technologies (iTechs)

Ambipolar organic field-effect transistors with air stability, high mobility, and balanced transport

Ambipolar organic field-effect transistors (OFETs) based on the organic heterojunction of copper-hexadecafluoro-phthalocyanine (F16CuPc) and 2,5-bis(4-biphenylyl) bithiophene (BP2T) were fabricated. The ambipolar OFETs eliminated the injection barrier for the electrons and holes though symmetrical Au source and drain electrodes were used, and exhibited air stability and balanced ambipolar transport behavior. High field-effect mobilities of 0.04 cm(2)/V s for the holes and 0.036 cm(2)/V s for the electrons were obtained. The capacitance-voltage characteristic of metal-oxide-semiconductor (MOS) diode confirmed that electrons and holes are transported at F16CuPc and BP2T layers, respectively. On this ground, complementary MOS-like inverters comprising two identical ambipolar OFETs were constructed.