Analisi dell'elettromigrazione in circuiti avanzati e possibili strategie per prevederne la comparsa

Il lavoro di tesi si è concentrato sull'applicazione di un innovativo modello per descrivere l'effetto a livello elettrico dell'elettromigrazione nelle linee di interconnessione. Sono stati analizzati gli effetti del guasto in alcuni blocchi circuitali analogici critici per sistemi elettronici ad alta affidabilità. Sono state quindi suggerite alcune soluzioni architetturali che consentano la rilevazione del guasto in tempo reale.