Morphological characterization and xps studies of AgInS2 thin films for solar cells applications [Caracterización morfológica y estudios xps de películas delgadas de AgInS2 para aplicación en celdas solares]
| Contribuinte(s) |
Departamento de Física, Universidad Nacional de Colombia, Bogotá, Colombia Departamento de Física Aplicada, CINVESTAV- IPN, Mérida, Yuc., Mexico Ingeniería en Energía, Universidad de Medellín, Colombia |
|---|---|
| Data(s) |
2015
23/06/2016
23/06/2016
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| Identificador |
7984545 |
| Idioma(s) |
spa |
| Publicador |
Interamerican Society for Electron Microscopy (CIASEM) |
| Relação |
Acta Microscopica Volume 24, Issue 2, 2015, Pages 138-145 https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-84948757136&origin=inward&txGid=0 |
| Direitos |
info:eu-repo/semantics/restrictedAccess restrictedAccess |
| Fonte |
Scopus |
| Palavras-Chave | #AFM #Solar cells #Thin films #XPS #XRD |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/article Article |
