Propiedades de materiales mediante análisis de radiación aleatoria

Las técnicas de speckle tienen un gran interés científico e ingenieril, ya que son métodos de ejecución rápida y no destructiva, con base en el análisis de las fluctuaciones de intensidad de la radiación producida cuando la luz coherente de un haz láser es esparcida por un material dado. En este caso se produce un patrón aleatorio de interferencia y difracción donde la suma de las componentes desfasadas dará lugar a máximos y mínimos de intensidad en distintos puntos del espacio. Éste, pese a tratarse de un ruido nocivo en multitud de áreas tales como la transmisión de señales o la holografía, tiene importantes propiedades físicas que lo caracterizan y lo hacen útil como medio para analizar sistemas reales de muy diversa índole. En el presente estudio, se ha llevado a cabo un análisis polarimétrico de la radiación aleatoria esparcida por una serie de muestras metálicas y dieléctricas con el objetivo de establecer una base comparativa que nos permita poder distinguir unas de otras. Para este fin se han comparado los parámetros de polarización de Stokes, el grado de polarización de la luz, las distribuciones de intensidad y el tamaño medio del speckle registrado en los distintos patrones de intensidad. Además, se analizará la dependencia de la rugosidad en el grado de polarización de la luz para los distintos medios sometidos a estudio. Abstract Speckle techniques have a great scientific and engineering interest as they are methods of rapid and non-destructive execution, based on the analysis of the fluctuations of intensity of the radiation produced when coherent light of a laser beam is scattered by a material given. In this case, a random pattern of interference and diffraction occurs where the sum of phase shifted components will result in maximum or minimum of intensity at different points in space. This, despite being a harmful noise in many areas such as signal transmission or holography, has important physical properties that characterize it and make it useful as a means to analyze real systems of various kinds. In the present study, we have conducted a polarimetric analysis of the random radiation scattered by a series of metal and dielectric samples in order to establish a comparative basis to allow us to distinguish one from another. To this end we have compared, the stokes polarization parameters, the degree of polarization (DOP), the intensity distributions and the average size of the speckle registered in the different intensity patterns. Furthermore, dependence of roughness in the DOP of light for the different means under study will be analyzed.