Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza


Autoria(s): Valmori, Filippo
Contribuinte(s)

Fiegna, Claudio

Data(s)

10/10/2013

Resumo

L'attività di tesi consiste sia nella calibrazione di un banco di misura per analisi di rumore a basse frequenze nei dispositivi MOSFET di potenza, sia nella valutazione dei relativi e successivi dati sperimentali (con particolare attenzione anche ai processi di stress e recupero applicati ai dispositivi).

Formato

application/pdf

Identificador

http://amslaurea.unibo.it/6009/1/Valmori_Filippo_tesi.pdf

Valmori, Filippo (2013) Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza. [Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica, informatica e telecomunicazioni [L-DM270] - Cesena <http://amslaurea.unibo.it/view/cds/CDS8196/>

Relação

http://amslaurea.unibo.it/6009/

Direitos

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Palavras-Chave #rumore, flicker, power, MOSFET #scuola :: 843884 :: Ingegneria e Architettura #cds :: 8196 :: Ingegneria elettronica, informatica e telecomunicazioni [L-DM270] - Cesena #sessione :: seconda
Tipo

Tesi di laurea

NonPeerReviewed

Idioma(s)

it