Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza
Contribuinte(s) |
Fiegna, Claudio |
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Data(s) |
10/10/2013
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Resumo |
L'attività di tesi consiste sia nella calibrazione di un banco di misura per analisi di rumore a basse frequenze nei dispositivi MOSFET di potenza, sia nella valutazione dei relativi e successivi dati sperimentali (con particolare attenzione anche ai processi di stress e recupero applicati ai dispositivi). |
Formato |
application/pdf |
Identificador |
http://amslaurea.unibo.it/6009/1/Valmori_Filippo_tesi.pdf Valmori, Filippo (2013) Misure di rumore flicker e affidabilita nei dispositivi mosfet di potenza. [Laurea], Università di Bologna, Corso di Studio in Ingegneria elettronica, informatica e telecomunicazioni [L-DM270] - Cesena <http://amslaurea.unibo.it/view/cds/CDS8196/> |
Relação |
http://amslaurea.unibo.it/6009/ |
Direitos |
_ |
Palavras-Chave | #rumore, flicker, power, MOSFET #scuola :: 843884 :: Ingegneria e Architettura #cds :: 8196 :: Ingegneria elettronica, informatica e telecomunicazioni [L-DM270] - Cesena #sessione :: seconda |
Tipo |
Tesi di laurea NonPeerReviewed |
Idioma(s) |
it |