2-D ZO CRS stack by considering an acquisition line with smooth topography

Os dados sísmicos terrestres são afetados pela existência de irregularidades na superfície de medição, e.g. a topografia. Neste sentido, para obter uma imagem sísmica de alta resolução, faz-se necessário corrigir estas irregularidades usando técnicas de processamento sísmico, e.g. correições estáticas residuais e de campo. O método de empilhamento Superfície de Reflexão Comum, CRS ("Common-Reflection-Surface", em inglês) é uma nova técnica de processamento para simular seções sísmicas com afastamento-nulo, ZO ("Zero-Offset", em inglês) a partir de dados sísmicos de cobertura múltipla. Este método baseia-se na aproximação hiperbólica de tempos de trânsito paraxiais de segunda ordem referido ao raio (central) normal. O operador de empilhamento CRS para uma superfície de medição planar depende de três parâmetros, denominados o ângulo de emergência do raio normal, a curvatura da onda Ponto de Incidência Normal, NIP ("Normal Incidence Point", em inglês) e a curvatura da onda Normal, N. Neste artigo o método de empilhamento CRS ZO 2-D é modificado com a finalidade de considerar uma superfície de medição com topografia suave também dependente desses parâmetros. Com este novo formalismo CRS, obtemos uma seção sísmica ZO de alta resolução, sem aplicar as correições estáticas, onde em cada ponto desta seção são estimados os três parâmetros relevantes do processo de empilhamento CRS.

ABSTRACT: The land seismic data suffers from effects due to the near surface irregularities and the existence of topography. For obtaining a high resolution seismic image, these effects should be corrected by using seismic processing techniques, e.g. field and residual static corrections. The Common-Reflection-Surface (CRS) stack method is a new processing technique to simulate zero-offset (ZO) seismic sections from multi-coverage seismic data. It is based on a second-order hyperbolic paraxial traveltime approximation referred to a central normal ray. By considering a planar measurement surface, the CRS stacking operator is defined by means of three parameters, namely the emergence angle of the normal ray, the curvature of the normal incidence point (NIP) wave, and the curvature of the normal (N) wave. In this paper the 2-D ZO CRS stack method is modified in order to consider effects due to the smooth topography. By means of this new CRS formalism, we obtain a high resolution ZO seismic section, without applying static corrections. As by-products the 2-D ZO CRS stack method we estimate at each point of the ZO seismic section the three relevant parameters associated to the CRS stack process.