Biblioteca Digital

**Autoria(s):** Abazov, V. M.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Aguilo, E.; Ahn, S. H.; Ahsan, M.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Pol, M. -E.; Polozov, P.; Pope, B. G.; Popov, A. V.; Potter, C.; Gutierrez, P.; da Silva, W. L. Prado; Prosper, H. B.; Bargassa, P.; Kharchilava, A.; Mendoza, L.; Das, A.; Protopopescu, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Rakitine, A.; Rangel, M. S.; Gutierrez, G.; Ranjan, K.; Ratoff, P. N.; Mercadante, P. G.; Cihangir, S.; Renkel, P.; Reucroft, S.; Davies, G.; Baringer, P.; Rich, P.; Rieger, J.; Rijssenbeek, M.; Ripp-Baudot, I.; Haas, A.; Merkin, M.; Rizatdinova, F.; Goussiou, A.; Robinson, S.; Rodrigues, R. F.; Rominsky, M.; Royon, C.; De, K.; Rubinov, P.; Barreto, J.; Ruchti, R.; Merritt, K. W.; Safronov, G.; Hadley, N. J.; Kharzheev, Y. M.; Sajot, G.; Sanchez-Hernandez, A.; Sanders, M. P.; Santoro, A.; Savage, G.; Sawyer, L.; de Jong, S. J.; Meyer, J.; Scanlon, T.; Schaile, D.; Bartlett, J. F.; Khatidze, D.; Haefner, P.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schliephake, T.; Schwanenberger, C.; Couderc, F.; Schwartzman, A.; Schwienhorst, R.; De la Cruz-Burelo, E.; Sekaric, J.; Kim, T. J.; Severini, H.; Hagopian, S.; Shabalina, E.; Bassler, U.; Shamim, M.; Meyer, A.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Shivpuri, R. K.; Siccardi, V.; Simak, V.; Kirby, M. H.; Martins, C. de Oliveira; Sirotenko, V.; Cheu, E.; Skubic, P.; Millet, T.; Slattery, P.; Smirnov, D.; Bauer, D.; Snow, J.; Snow, G. R.; Snyder, S.; Kirsch, M.; Soldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Degenhardt, J. D.; Mitrevski, J.; Arnoud, Y.; Sopczak, A.; Sosebee, M.; Soustruznik, K.; Spurlock, B.; Stark, J.; Beale, S.; Klima, B.; Steele, J.; Stolin, V.; Grohsjean, A.; Stoyanova, D. A.; Strandberg, J.; Haley, J.; Deliot, F.; Strandberg, S.; Strang, M. A.; Strauss, M.; Strauss, E.; Kohli, J. M.; Stroehmer, R.; Kau, D.; Strom, D.; Bean, A.; Stutte, L.; Sumowidagdo, S.; Hall, I.; Svoisky, P.; Demarteau, M.; Sznajder, A.; Talby, M.; Autermann, C.; Baldin, B.; Tamburello, P.; Tanasijczuk, A.; Taylor, W.; Temple, J.; Tiller, B.; Begalli, M.; Hall, R. E.; Tissandier, F.; Titov, M.; Demina, R.; Molina, J.; Konrath, J. -P.; Tokmenin, V. V.; Toole, T.; Torchiani, I.; Trefzger, T.; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Han, L.; Tuts, P. M.; Mommsen, R. K.; Begel, M.; Korablev, V. M.; Unalan, R.; Alves, G. A.; Uvarov, S.; Uvarov, L.; Uzunyan, S.; Vachon, B.; van den Berg, P. J.; van Kooten, R.; Mondal, N. K.; Hansson, P.; van Leeuwen, W. M.; Grannis, P. D.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Belanger-Champagne, C.; Denisov, D.; Vasilyev, I. A.; Vaupel, M.; Verdier, P.; Moore, R. W.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Harder, K.; Claes, D.; Villeneuve-Seguier, F.; Vint, P.; Vokac, P.; Von Toerne, E.; Vorwerk, V.; Denisov, S. P.; Moulik, T.; Bellantoni, L.; Voutilainen, M.; Wagner, R.; Wahl, H. D.; Kozelov, A. V.; Harel, A.; Wang, L.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Muanza, G. S.; Wayne, M.; Weber, M.; Desai, S.; Weber, G.; Bellavance, A.; Krop, D.; Welty-Rieger, L.; Harrington, R.; Wenger, A.; Wermes, N.; Cousinou, M. -C.; Wetstein, M.; White, A.; Wicke, D.; Wilson, G. W.; Wimpenny, S. J.; Diehl, H. T.; Kuhl, T.; Wobisch, M.; Wood, D. R.; Hauptman, J. M.; Mulders, M.; Benitez, J. A.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Yan, M.; Yasuda, T.; Kumar, A.; Yatsunenko, Y. A.; Diesburg, M.; Mulhearn, M.; Yip, K.; Chevallier, F.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Beri, S. B.; Yu, J.; Zatserklyaniy, A.; Zeitnitz, C.; Kunori, S.; Zhao, T.; Kaur, R.; Zhou, B.; Zhu, J.; Dominguez, A.; Hauser, R.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zieminski, A.; Zivkovic, L.; Bernardi, G.; Kupco, A.; Anzelc, M. S.; Zutshi, V.; Zverev, E. G.; Bernhard, R.; Bertram, I.; Besancon, M.; Arov, M.; Dong, H.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Mundal, O.; Kurca, T.; Bhatnagar, V.; Biscarat, C.; Blazey, G.; Blekman, F.; Blessing, S.; Bloch, D.; Hays, J.; Bloom, K.; Dudko, L. V.; Mundim, L.; Boehnlein, A.; Kvita, J.; Boline, D.; Bolton, T. A.; Borissov, G.; Bose, T.; Brandt, A.; Brock, R.; Brooijmans, G.; Hebbeker, T.; Bandurin, D. V.; Bross, A.; Brown, D.; Avila, C.; Duflot, L.; Buchanan, N. J.; Buchholz, D.; Buehler, M.; Buescher, V.; Bunichev, V.; Burdin, S.; Nagy, E.; Burke, S.; Hedin, D.; Burnett, T. H.; Greenlee, H.; Buszello, C. P.; Butler, J. M.; Dugad, S. R.; Calfayan, P.; Calvet, S.; Cammin, J.; Naimuddin, M.; Carvalho, W.; Casey, B. C. K.; Cason, N. M.; Hegeman, J. G.; Lacroix, F.; Castilla-Valdez, H.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Chan, K. M.; Anastasoaie, M.; Narain, M.; Chan, K.; Chandra, A.; Duggan, D.; Duperrin, A.; Dyer, J.; Alton, A.; Heinmiller, J. M.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Naumann, N. A.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Ancu, L. S.; Ermolov, P.; Lam, D.; Evans, H.; Heinson, A. P.; Evdokimov, A.; Neal, H. A.; Evdokimov, V. N.; Ferapontov, A. V.; Ferbel, T.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Lammers, S.; Andeen, T.; Ford, M.; Crepe-Renaudin, S.; Heintz, U.; Fortner, M.; Fox, H.; Fu, S.; Fuess, S.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gallas, E.; Landsberg, G.; Galyaev, E.; Kaushik, V.; Garcia, C.; Anderson, S.; Hensel, C.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Gay, P.; Geist, W.; Gele, D.; Gerber, C. E.; Lebrun, P.; Negret, J. P.; Gershtein, Y.; Gillberg, D.; Ginther, G.; Gollub, N.; Cho, D. K.; Andrieu, B.; Gomez, B.; Herner, K.; Hesketh, G.; Arthaud, M.; Charles, F.; Lee, W. M.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hoeth, H.; Hohlfeld, M.; Hong, S. J.; Choi, S.; Hossain, S.; Neustroev, P.; Houben, P.; Leflat, A.; Hu, Y.; Askew, A.; Hubacek, Z.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Ito, A. S.; Jabeen, S.; Nilsen, H.; Choudhary, B.; Jaffre, M.; Lehner, F.; Jain, S.; Jakobs, K.; Jarvis, C.; Asman, B.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, C.; Nogima, H.; Johnson, M.; Jonckheere, A.; Christofek, L.; Lellouch, J.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kajfasz, E.; Kalinin, A. M.; Kalk, J. R.; Jesus, A. C. S. Assis; Novaes, Sérgio Ferraz; Kalk, J. M.; Kappler, S.; Karmanov, D.; Kasper, P. A.; Greenwood, Z. D.; Christoudias, T.; Katsanos, I.; Leveque, J.; Ay, C.; Coadou, Y.; Banerjee, S.; Li, J.; Li, Q. Z.; Li, L.; Lietti, S. M.; Lima, J. G. R.; Lincoln, D.; Linnemann, J.; Gregores, E. M.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Nunnemann, T.; Liu, Y.; Cooke, M.; Badaud, F.; Liu, Z.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Love, P.; Lubatti, H. J.; Grenier, G.; Luna, R.; O'Dell, V.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Mackin, D.; Cooper, W. E.; Madaras, R. J.; Baden, A.; Maettig, P.; Magass, C.; Magerkurth, A.; Gris, Ph.; O'Neil, D. C.; Mal, P. K.; Malbouisson, H. B.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Mao, H. S.; Corcoran, M.; Maravin, Y.; Martin, B.; Bagby, L.; McCarthy, R.; Kehoe, R.; Grivaz, J. -F.; Melnitchouk, A.; Obrant, G.; Cutts, D.; Grunendahl, S.; Ochando, C.; Onoprienko, D.; Oshima, N.; Osta, J.; Otec, R.; Otero y Garzon, G. J.; Banerjee, P.; Kermiche, S.; Owen, M.; Padley, P.; Pangilinan, M.; Grurnewald, M. W.; Cwiok, M.; Parashar, N.; Park, S. -J.; Park, S. K.; Parsons, J.; Partridge, R.; Atramentov, O.; Parua, N.; Patwa, A.; Barberis, E.; Pawloski, G.; Guo, J.; Penning, B.; da Motta, H.; Perfilov, M.; Peters, K.; Peters, Y.; Khalatyan, N.; Petroff, P.; Petteni, M.; Piegaia, R.; Piper, J.; Pleier, M. -A.; Guo, F.; Barfuss, A. -F.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Alverson, G.; Podstavkov, V. M.; Khanov, A.; Pogorelov, Y.
Contribuinte(s)	Universidade Estadual Paulista (UNESP)
Data(s)	30/09/2013 20/05/2014 30/09/2013 20/05/2014 01/05/2008
Resumo	We present the results of a search for the production of an excited state of the electron, e(), in proton-antiproton collisions at root s = 1.96 TeV. The data were collected with the D0 experiment at the Fermilab Tevatron Collider and correspond to an integrated luminosity of approximately 1 fb(-1). We search for e() in the process p (p) over bar -> e()e, with the e() subsequently decaying to an electron plus photon. No excess above the standard model background is observed. Interpreting our data in the context of a model that describes e() production by four-fermion contact interactions and e() decay via electroweak processes, we set 95% C.L. upper limits on the production cross section ranging from 8.9 to 27 fb, depending on the mass of the excited electron. Choosing the scale for contact interactions to be Lambda = 1 TeV, excited electron masses below 756 GeV are excluded at the 95% C.L.
Formato	8
Identificador	http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevD.77.091102 Physical Review D. College Pk: Amer Physical Soc, v. 77, n. 9, p. 8, 2008. 1550-7998 http://hdl.handle.net/11449/24481 10.1103/PhysRevD.77.091102 WOS:000256297000002 WOS000256297000002.pdf
Idioma(s)	eng
Publicador	Amer Physical Soc
Relação	Physical Review D
Direitos	closedAccess
Tipo	info:eu-repo/semantics/article

Acesso ao item digital