Measurement of the t(t)over-bar production cross section in p(p)over-bar collisions at root s=1.96 TeV


Autoria(s): Abazov, V. M.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Aguilo, E.; Ahn, S. H.; Ahsan, M.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Mitrevski, J.; Molina, J.; Mommsen, R. K.; Mondal, N. K.; Moore, R. W.; Cousinou, M. -C.; Moulik, T.; Muanza, G. S.; Mulders, M.; Guo, F.; Khanov, A.; Baldin, B.; Mulhearn, M.; Mundal, O.; Mundim, L.; Nagy, E.; Naimuddin, M.; Narain, M.; Crepe-Renaudin, S.; Naumann, N. A.; Neal, H. A.; Kharchilava, A.; Anzelc, M. S.; Negret, J. P.; Neustroev, P.; Bandurin, D. V.; Nilsen, H.; Nogima, H.; Novaes, Sérgio Ferraz; Nunnemann, T.; O'Dell, V.; Cutts, D.; Kharzheev, Y. M.; O'Neil, D. C.; Cheu, E.; Obrant, G.; Ochando, C.; Onoprienko, D.; Oshima, N.; Banerjee, P.; Osman, N.; Osta, J.; Otec, R.; Khatidze, D.; Otero y Garzon, G. J.; Cwiok, M.; Guo, J.; Owen, M.; Padley, P.; Pangilinan, M.; Parashar, N.; Park, S. -J.; Park, S. K.; Banerjee, S.; Kim, T. J.; Parsons, J.; Partridge, R.; Parua, N.; Gutierrez, G.; da Motta, H.; Patwa, A.; Pawloski, G.; Penning, B.; Perfilov, M.; Peters, K.; Jesus, A. C. S. Assis; Peters, Y.; Petroff, P.; Barberis, E.; Petteni, M.; Gutierrez, P.; Piegaia, R.; Das, A.; Piper, J.; Pleier, M. -A.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Kirby, M. H.; Podstavkov, V. M.; Pogorelov, Y.; Pol, M. -E.; Polozov, P.; Pope, B. G.; Haas, A.; Barfuss, A. -F.; Popov, A. V.; Alverson, G.; Potter, C.; Kirsch, M.; da Silva, W. L. Prado; Prosper, H. B.; Protopopescu, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Hadley, N. J.; Rakitine, A.; Rangel, M. S.; Bargassa, P.; Klima, B.; Davies, G.; Ranjan, K.; Ratoff, P. N.; Renkel, P.; Reucroft, S.; Rich, P.; Rieger, J.; Haefner, P.; Rijssenbeek, M.; Ripp-Baudot, I.; Claes, D.; Rizatdinova, F.; Robinson, S.; De, K.; Baringer, P.; Rodrigues, R. F.; Rominsky, M.; Royon, C.; Rubinov, P.; Hagopian, S.; Ruchti, R.; Greenwood, Z. D.; Safronov, G.; Sajot, G.; Sanchez-Hernandez, A.; Sanders, M. P.; de Jong, S. J.; Santoro, A.; Barreto, J.; Savage, G.; Sawyer, L.; Haley, J.; Kohli, J. M.; Scanlon, T.; Schaile, D.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schliephake, T.; De La Cruz-Burelo, E.; Schwanenberger, C.; Schwartzman, A.; Bartlett, J. F.; Konrath, J. -P.; Hall, I.; Schwienhorst, R.; Sekaric, J.; Severini, H.; Shabalina, E.; Shamim, M.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Martins, C. de Oliveira; Shivpuri, R. K.; Korablev, V. M.; Siccardi, V.; Hall, R. E.; Simak, V.; Bassler, U.; Sirotenko, V.; Skubic, P.; Slattery, P.; Smirnov, D.; Snow, G. R.; Snow, J.; Kozelov, A. V.; Degenhardt, J. D.; Snyder, S.; Chevallier, F.; Soeldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Sopczak, A.; Bauer, D.; Sosebee, M.; Soustruznik, K.; Spurlock, B.; Kraus, J.; Stark, J.; Steele, J.; Deliot, F.; Aoki, M.; Stolin, V.; Stoyanova, D. A.; Strandberg, J.; Strandberg, S.; Strang, M. A.; Beale, S.; Krop, D.; Strauss, E.; Strauss, M.; Stroehmer, R.; Strom, D.; Han, L.; Demarteau, M.; Stutte, L.; Sumowidagdo, S.; Svoisky, P.; Sznajder, A.; Kuhl, T.; Tamburello, P.; Tanasijczuk, A.; Bean, A.; Taylor, W.; Temple, J.; Harder, K.; Tiller, B.; Demina, R.; Tissandier, F.; Titov, M.; Atramentov, O.; Tokmenin, V. V.; Toole, T.; Torchiani, I.; Trefzger, T.; Tsybychev, D.; Begalli, M.; Harel, A.; Tuchming, B.; Tully, C.; Denisov, D.; Kumar, A.; Tuts, P. M.; Unalan, R.; Uvarov, L.; Uvarov, S.; Uzunyan, S.; Vachon, B.; van den Berg, P. J.; Harrington, R.; Van Kooten, R.; Begel, M.; Kupco, A.; van Leeuwen, W. M.; Alves, G. A.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Vasilyev, I. A.; Vaupel, M.; Verdier, P.; Vertogradov, L. S.; Hauptman, J. M.; Verzocchi, M.; Gregores, E. M.; Villeneuve-Seguier, F.; Vint, P.; Belanger-Champagne, C.; Denisov, S. P.; Vokac, P.; Von Toerne, E.; Voutilainen, M.; Wagner, R.; Wahl, H. D.; Hauser, R.; Coadou, Y.; Wang, L.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Desai, S.; Bellantoni, L.; Weber, G.; Weber, M.; Welty-Rieger, L.; Kurca, T.; Hays, J.; Wenger, A.; Wermes, N.; Wetstein, M.; White, A.; Wicke, D.; Wilson, G. W.; Diehl, H. T.; Wimpenny, S. J.; Bellavance, A.; Kvita, J.; Wobisch, M.; Hebbeker, T.; Wood, D. R.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Yan, M.; Yasuda, T.; Diesburg, M.; Lacroix, F.; Yatsunenko, Y. A.; Yip, K.; Hedin, D.; Benitez, J. A.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Yu, J.; Zatserklyaniy, A.; Zeitnitz, C.; Zhao, T.; Lam, D.; Zhou, B.; Dominguez, A.; Zhu, J.; Cho, D. K.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Beri, S. B.; Zieminski, A.; Zivkovic, L.; Zutshi, V.; Lammers, S.; Zverev, E. G.; Bernardi, G.; Bernhard, R.; Dong, H.; Hegeman, J. G.; Bertram, I.; Besancon, M.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Landsberg, G.; Bhatnagar, V.; Biscarat, C.; Blazey, G.; Blekman, F.; Blessing, S.; Arnoud, Y.; Dudko, L. V.; Bloch, D.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Lebrun, P.; Boline, D.; Bolton, T. A.; Borissov, G.; Bose, T.; Brandt, A.; Brock, R.; Heinmiller, J. M.; Brooijmans, G.; Duflot, L.; Bross, A.; Lee, W. M.; Brown, D.; Buchanan, N. J.; Buchholz, D.; Buehler, M.; Buescher, V.; Bunichev, V.; Burdin, S.; Heinson, A. P.; Burke, S.; Burnett, T. H.; Avila, C.; Dugad, S. R.; Buszello, C. P.; Butler, J. M.; Calfayan, P.; Calvet, S.; Cammin, J.; Carvalho, W.; Casey, B. C. K.; Heintz, U.; Castilla-Valdez, H.; Grenier, G.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Duggan, D.; Chan, K.; Chan, K. M.; Chandra, A.; Charles, F.; Anastasoaie, M.; Duperrin, A.; Hensel, C.; Leflat, A.; Dyer, J.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Ermolov, P.; Ancu, L. S.; Alton, A.; Herner, K.; Evans, H.; Evdokimov, A.; Evdokimov, V. N.; Ferapontov, A. V.; Ferbel, T.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Lellouch, J.; Fortner, M.; Hesketh, G.; Andeen, T.; Fox, H.; Fu, S.; Fuess, S.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gallas, E.; Garcia, C.; Leveque, J.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Hildreth, M. D.; Gay, P.; Anderson, S.; Geist, W.; Gele, D.; Gerber, C. E.; Gershtein, Y.; Gillberg, D.; Li, J.; Ginther, G.; Gollub, N.; Gomez, B.; Hirosky, R.; Goussiou, A.; Grannis, P. D.; Andrieu, B.; Greenlee, H.; Choi, S.; Hobbs, J. D.; Li, L.; Hoeneisen, B.; Arov, M.; Hoeth, H.; Hohlfeld, M.; Hong, S. J.; Hossain, S.; Houben, P.; Hu, Y.; Hubacek, Z.; Choudhary, B.; Li, Q. Z.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Arthaud, M.; Ito, A. S.; Jabeen, S.; Jaffre, M.; Jain, S.; Jakobs, K.; Jarvis, C.; Lietti, S. M.; Christofek, L.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, C.; Johnson, M.; Askew, A.; Jonckheere, A.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kajfasz, E.; Lima, J. G. R.; Kalinin, A. M.; Christoudias, T.; Kalk, J. M.; Kappler, S.; Karmanov, D.; Kasper, P. A.; Katsanos, I.; Asman, B.; Kau, D.; Kaushik, V.; Lincoln, D.; Kehoe, R.; Kermiche, S.; Cihangir, S.; Khalatyan, N.; Gris, Ph.; Linnemann, J.; Ay, C.; Cooke, M.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Liu, Y.; Liu, Z.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Love, P.; Grivaz, J. -F.; Lubatti, H. J.; Luna, R.; Lyon, A. L.; Cooper, W. E.; Badaud, F.; Maciel, A. K. A.; Mackin, D.; Madaras, R. J.; Maettig, P.; Magass, C.; Grohsjean, A.; Magerkurth, A.; Mal, P. K.; Malbouisson, H. B.; Malik, S.; Corcoran, M.; Malyshev, V. L.; Baden, A.; Mao, H. S.; Maravin, Y.; Martin, B.; Gruenendahl, S.; McCarthy, R.; Melnitchouk, A.; Mendoza, L.; Mercadante, P. G.; Merkin, M.; Couderc, F.; Merritt, K. W.; Meyer, A.; Bagby, L.; Meyer, J.; Gruenewald, M. W.; Millet, T.
Contribuinte(s)

Universidade Estadual Paulista (UNESP)

Data(s)

30/09/2013

20/05/2014

30/09/2013

20/05/2014

16/05/2008

Resumo

We measure the t (t) over bar production cross section in p (p) over bar collisions at root s = 1.96 TeV in the lepton + jets channel. Two complementary methods discriminate between signal and background: b tagging and a kinematic likelihood discriminant. Based on 0.9 fb(-1) of data collected by the D0 detector at the Fermilab Tevatron Collider, we measure sigma(t (t) over bar) = 7.62 +/- 0.85 pb, assuming the current world average m(t) = 172.6 GeV. We compare our cross section measurement with theory predictions to determine a value for the top-quark mass of 170 +/- 7 GeV.

Formato

7

Identificador

http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.100.192004

Physical Review Letters. College Pk: Amer Physical Soc, v. 100, n. 19, p. 7, 2008.

0031-9007

http://hdl.handle.net/11449/24480

10.1103/PhysRevLett.100.192004

WOS:000255962500016

WOS000255962500016.pdf

Idioma(s)

eng

Publicador

Amer Physical Soc

Relação

Physical Review Letters

Direitos

closedAccess

Tipo

info:eu-repo/semantics/article