Biblioteca Digital

**Autoria(s):** Abazov, V. M.; Abbott, B.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Alton, A.; Alverson, G.; Alves, G. A.; Ancu, L. S.; Aoki, M.; Arov, M.; Askew, A.; Asman, B.; Atramentov, O.; Avila, C.; BackusMayes, J.; Badaud, F.; Bagby, L.; Baldin, B.; Bandurin, D. V.; Banerjee, S.; Barberis, E.; Baringer, R.; Barreto, J.; Bartlett, J. F.; Bassler, U.; Bazterra, V.; Beale, S.; Bean, A.; Begalli, M.; Begel, M.; Belanger-Champagne, C.; Bellantoni, L.; Beri, S. B.; Bernardi, G.; Bernhard, R.; Bertram, I.; Besancon, M.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Bhatnagar, V.; Blazey, G.; Blessing, S.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Boline, D.; Boos, E. E.; Borissov, G.; Bose, T.; Brandt, A.; Brandt, O.; Brock, R.; Brooijmans, G.; Bross, A.; Brown, D.; Brown, J.; Bu, X. B.; Buehler, M.; Buescher, V.; Bunichev, V.; Burdin, S.; Burnett, T. H.; Buszello, C. P.; Calpas, B.; Camacho-Perez, E.; Carrasco-Lizarraga, M. A.; Casey, B. C. K.; Castilla-Valdez, H.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Chan, K. M.; Chandra, A.; Chen, G.; Chevalier-Thery, S.; Cho, D. K.; Cho, S. W.; Choi, S.; Choudhary, B.; Cihangir, S.; Claes, D.; Clutter, J.; Cochran, J.; Cooke, M.; Cooper, W. E.; Corcoran, M.; Couderc, F.; Cousinou, M. -C.; Croc, A.; Cutts, D.; Das, A.; Davies, G.; De, K.; de Jong, S. J.; De La Cruz-Burelo, E.; Deliot, F.; Demarteau, M.; Demina, R.; Denisov, D.; Denisov, S. P.; Desai, S.; Deterre, C.; DeVaughan, K.; Diehl, H. T.; Diesburg, M.; Dominguez, A.; Dorland, T.; Dubey, A.; Dudko, L. V.; Duggan, D.; Duperrin, A.; Dutt, S.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Eller, P.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Evans, H.; Evdokimov, A.; Evdokimov, V. N.; Facini, G.; Ferbel, T.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Focke, C.; Fortner, M.; Fox, H.; Fuess, S.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Gay, P.; Geng, W.; Gerbaudo, D.; Gerber, C. E.; Gershtein, Y.; Ginther, G.; Golovanov, G.; Goussiou, A.; Grannis, P. D.; Greder, S.; Greenlee, H.; Greenwood, Z. D.; Gregores, E. M.; Grenier, G.; Gris, Ph.; Grivaz, J. -F.; Grohsjean, A.; Gruenendahl, S.; Gruenewald, M. W.; Guillemin, T.; Guo, F.; Gutierrez, G.; Gutierrez, P.; Haas, A.; Hagopian, S.; Haley, J.; Han, L.; Harder, K.; Harel, A.; Hauptman, J. M.; Hays, J.; Head, T.; Hebbeker, T.; Hedin, D.; Hegab, H.; Heinson, A. P.; Heintz, U.; Hensel, C.; Heredia-De La Cruz, I.; Herner, K.; Hesketh, G.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hoang, T.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hohlfeld, M.; Hubacek, Z.; Huske, N.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Ito, A. S.; Jabeen, S.; Jaffre, M.; Jamin, D.; Jayasinghe, A.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, M.; Johnston, D.; Jonckheere, A.; Jonsson, P.; Joshi, J.; Jung, A. W.; Juste, A.; Kaadze, K.; Kajfasz, E.; Karmanov, D.; Kasper, P. A.; Katsanos, I.; Kehoe, R.; Kermiche, S.; Khalatyan, N.; Khanov, A.; Kharchilava, A.; Kharzheev, Y. N.; Khatidze, D.; Kirby, M. H.; Kohli, J. M.; Kozelov, A. V.; Kraus, J.; Kulikov, S.; Kumar, A.; Kupco, A.; Kurca, T.; Kuzmin, V. A.; Kvita, J.; Lammers, S.; Landsberg, G.; Lebrun, P.; Lee, H. S.; Lee, S. W.; Lee, W. M.; Lellouch, J.; Li, L.; Li, Q. Z.; Lietti, S. M.; Lim, J. K.; Lincoln, D.; Linnemann, J.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Liu, Y.; Liu, Z.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; de Sa, R. Lopes; Lubatti, H. J.; Luna-Garcia, R.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Mackin, D.; Madar, R.; Magana-Villalba, R.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Maravin, Y.; Martinez-Ortega, J.; McCarthy, R.; McGivern, C. L.; Meijer, M. M.; Melnitchouk, A.; Menezes, D.; Mercadante, P. G.; Merkin, M.; Meyer, A.; Meyer, J.; Miconi, F.; Mondal, N. K.; Muanza, G. S.; Mulhearn, M.; Nagy, E.; Naimuddin, M.; Narain, M.; Nayyar, R.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Neustroev, P.; Novaes, Sérgio Ferraz; Nunnemann, T.; Obrant, G.; Orduna, J.; Osman, N.; Osta, J.; Otero y Garzon, G. J.; Padilla, M.; Pal, A.; Parashar, N.; Parihar, V.; Park, S. K.; Parsons, J.; Partridge, R.; Parua, N.; Patwa, A.; Penning, B.; Perfilov, M.; Peters, K.; Peters, Y.; Petridis, K.; Petrillo, G.; Petroff, P.; Piegaia, R.; Piper, J.; Pleier, M. -A.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podstavkov, V. M.; Polozov, P.; Popov, A. V.; Prewitt, M.; Price, D.; Prokopenko, N.; Protopopescu, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Rangel, M. S.; Ranjan, K.; Ratoff, P. N.; Razumov, I.; Renkel, P.; Rijssenbeek, M.; Ripp-Baudot, I.; Rizatdinova, F.; Rominsky, M.; Ross, A.; Royon, C.; Rubinov, P.; Ruchti, R.; Safronov, G.; Sajot, G.; Salcido, P.; Sanchez-Hernandez, A.; Sanders, M. P.; Sanghi, B.; Santos, A. S.; Savage, G.; Sawyer, L.; Scanlon, T.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schliephake, T.; Schlobohm, S.; Schwanenberger, C.; Schwienhorst, R.; Sekaric, J.; Severini, H.; Shabalina, E.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Shivpuri, R. K.; Simaki, V.; Sirotenko, V.; Skubic, P.; Slattery, P.; Smirnov, D.; Smith, K. J.; Snow, G. R.; Snow, J.; Snyder, S.; Soeldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Soustruznik, K.; Stark, J.; Stolin, V.; Stoyanova, D. A.; Strauss, M.; Strom, D.; Stutte, L.; Suter, L.; Svoisky, P.; Takahashi, M.; Tanasijczuk, A.; Taylor, W.; Titov, M.; Tokmenin, V. V.; Triplett, N.; Tsai, Y. -T.; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Uvarov, L.; Uvarov, S.; Uzunyan, S.; Van Kooten, R.; van Leeuwen, W. M.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Vasilyev, I. A.; Verdier, P.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Vesterinen, M.; Vilanova, D.; Vokac, P.; Wahl, H. D.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Weber, M.; Welty-Rieger, L.; White, A.; Wicke, D.; Williams, M. R. J.; Wilson, G. W.; Wobisch, M.; Wood, D. R.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Xu, C.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Yang, W. -C.; Yasuda, T.; Yatsunenko, Y. A.; Ye, Z.; Yin, H.; Yip, K.; Youn, S. W.; Yu, J.; Zelitch, S.; Zhao, T.; Zhou, B.; Zhu, J.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zivkovic, L.
Contribuinte(s)	Universidade Estadual Paulista (UNESP)
Data(s)	30/09/2013 20/05/2014 30/09/2013 20/05/2014 17/11/2011
Resumo	Conselho Nacional de Desenvolvimento Científico e Tecnológico (CNPq) Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) We present a model-independent measurement of t-channel electroweak production of single top quarks in p collisions at root s = 1.96 TeV. Using 5.4 fb(-1) of integrated luminosity collected by the do detector at the Fermilab Tevatron Collider, and selecting events containing an isolated electron or muon, missing transverse energy and one or two jets originating from the fragmentation of b quarks, we measure a cross section sigma (p (p) over bar -> tqb + X) = 2.90 +/- 0.59 (stat + syst) pb for a top quark mass of 172.5 GeV. The probability of the background to fluctuate and produce a signal as large as the one observed is 1.6 x 10(-8), corresponding to a significance of 5.5 standard deviations. (C) 2011 Elsevier B.V. All rights reserved.
Formato	313-319
Identificador	http://dx.doi.org/10.1016/j.physletb.2011.10.035 Physics Letters B. Amsterdam: Elsevier B.V., v. 705, n. 4, p. 313-319, 2011. 0370-2693 http://hdl.handle.net/11449/24290 10.1016/j.physletb.2011.10.035 WOS:000297234100005
Idioma(s)	eng
Publicador	Elsevier B.V.
Relação	Physics Letters B
Direitos	closedAccess
Tipo	info:eu-repo/semantics/article

Acesso ao item digital