Biblioteca Digital

**Autoria(s):** Abazov, V. M.; Abbott, B.; Abolins, M.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Aguilo, E.; Ahn, S. H.; Ahsan, M.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Alton, A.; Alverson, G.; Alves, G. A.; Anastasoaie, M.; Ancu, L. S.; Andeen, T.; Anderson, S.; Andrieu, B.; Anzelc, M. S.; Arnoud, Y.; Arov, M.; Askew, A.; Asman, B.; Assis Jesus, A. C. S.; Atramentov, O.; Autermann, C.; Avila, C.; Ay, C.; Badaud, F.; Baden, A.; Bagby, L.; Baldin, B.; Bandurin, D. V.; Banerjee, P.; Banerjee, S.; Barberis, E.; Bargassa, P.; Baringer, P.; Barnes, C.; Barreto, J.; Bartlett, J. F.; Bassler, U.; Bauer, D.; Beale, S.; Bean, A.; Begalli, M.; Begel, M.; Belanger-Champagne, C.; Bellantoni, L.; Bellavance, A.; Benitez, J. A.; Beri, S. B.; Bernardi, G.; Bernhard, R.; Berntzon, L.; Bertram, I.; Besancon, M.; Beuselinck, R.; Bezzubov, V. A.; Bhat, P. C.; Bhatnagar, V.; Binder, M.; Biscarat, C.; Blackler, I.; Blazey, G.; Blekman, F.; Blessing, S.; Bloch, D.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Boline, D.; Bolton, T. A.; Borissov, G.; Bos, K.; Bose, T.; Brandt, A.; Brock, R.; Brooijmans, G.; Bross, A.; Brown, D.; Buchanan, N. J.; Buchholz, D.; Buehler, M.; Buescher, V.; Burdin, S.; Burke, S.; Burnett, T. H.; Busato, E.; Buszello, C. P.; Butler, J. M.; Calfayan, P.; Calvet, S.; Cammin, J.; Caron, S.; Carvalho, W.; Casey, B. C. K.; Cason, N. M.; Castilla-Valdez, H.; Chakrabarti, S.; Chakraborty, D.; Chan, K. M.; Chandra, A.; Charles, F.; Cheu, E.; Chevallier, F.; Cho, D. K.; Choi, S.; Choudhary, B.; Christofek, L.; Claes, D.; Clement, B.; Clement, C.; Coadou, Y.; Cooke, M.; Cooper, W. E.; Corcoran, M.; Couderc, F.; Cousinou, M.-C.; Cox, B.; Crepe-Renaudin, S.; Cutts, D.; Cwiok, M.; da Motta, H.; Das, A.; Das, M.; Davies, B.; Davies, G.; De, K.; de Jong, P.; de Jong, S. J.; De la Cruz-Burelo, E.; De Oliveira Martins, C.; Degenhardt, J. D.; Deliot, F.; Demarteau, M.; Demina, R.; Denisov, D.; Denisov, S. P.; Desai, S.; Diehl, H. T.; Diesburg, M.; Doidge, M.; Dominguez, A.; Dong, H.; Dudko, L. V.; Duflot, L.; Dugad, S. R.; Duggan, D.; Duperrin, A.; Dyer, J.; Dyshkant, A.; Eads, M.; Edmunds, D.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eno, S.; Ermolov, P.; Evans, H.; Evdokimov, A.; Evdokimov, V. N.; Feligioni, L.; Ferapontov, A. V.; Ferbel, T.; Fiedler, F.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Ford, M.; Fortner, M.; Fox, H.; Fu, S.; Fuess, S.; Gadfort, T.; Galea, C. F.; Gallas, E.; Galyaev, E.; Garcia, C.; Garcia-Bellido, A.; Gavrilov, V.; Gay, A.; Gay, P.; Geist, W.; Gele, D.; Gelhaus, R.; Gerber, C. E.; Gershtein, Y.; Gillberg, D.; Ginther, G.; Gollub, N.; Gomez, B.; Goussiou, A.; Grannis, P. D.; Greenlee, H.; Greenwood, Z. D.; Gregores, E. M.; Grenier, G.; Gris, Ph.; Grivaz, J.-F.; Grohsjean, A.; Gruenendahl, S.; Gruenewald, M. W.; Guo, J.; Gutierrez, G.; Gutierrez, P.; Haas, A.; Hadley, N. J.; Haefner, P.; Hagopian, S.; Haley, J.; Hall, I.; Hall, R. E.; Han, L.; Hanagaki, K.; Hansson, P.; Harder, K.; Harel, A.; Harrington, R.; Hauptman, J. M.; Hauser, R.; Hays, J.; Hebbeker, T.; Hedin, D.; Hegeman, J. G.; Heinmiller, J. M.; Heinson, A. P.; Heintz, U.; Hensel, C.; Herner, K.; Hesketh, G.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hoeth, H.; Hohlfeld, M.; Hong, S. J.; Hooper, R.; Houben, P.; Hu, Y.; Hubacek, Z.; Hynek, V.; Iashvili, I.; Illingworth, R.; Ito, A. S.; Jabeen, S.; Jaffre, M.; Jain, S.; Jakobs, K.; Jarvis, C.; Jenkins, A.; Jesik, R.; Johns, K.; Johnson, C.; Johnson, M.; Jonckheere, A.; Jonsson, P.; Juste, A.; Kaefer, D.; Kahn, S.; Kajfasz, E.; Kalinin, A. M.; Kalk, J. M.; Kalk, J. R.; Kappler, S.; Karmanov, D.; Kasper, J.; Kasper, P.; Katsanos, I.; Kau, D.; Kaur, R.; Kehoe, R.; Kermiche, S.; Khalatyan, N.; Khanov, A.; Kharchilava, A.; Kharzheev, Y. M.; Khatidze, D.; Kim, H.; Kim, T. J.; Kirby, M. H.; Klima, B.; Kohli, J. M.; Konrath, J.-P.; Kopal, M.; Korablev, V. M.; Kotcher, J.; Kothari, B.; Koubarovsky, A.; Kozelov, A. V.; Krop, D.; Kryemadhi, A.; Kuhl, T.; Kumar, A.; Kunori, S.; Kupco, A.; Kurca, T.; Kvita, J.; Lam, D.; Lammers, S.; Landsberg, G.; Lazoflores, J.; Le Bihan, A.-C.; Lebrun, P.; Lee, W. M.; Leflat, A.; Lehner, F.; Lesne, V.; Leveque, J.; Lewis, P.; Li, J.; Li, L.; Li, Q. Z.; Lietti, S. M.; Lima, J. G. R.; Lincoln, D.; Linnemann, J.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Liu, Z.; Lobo, L.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Lounis, A.; Love, P.; Lubatti, H. J.; Lynker, M.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Madaras, R. J.; Maettig, P.; Magass, C.; Magerkurth, A.; Makovec, N.; Mal, P. K.; Malbouisson, H. B.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Mao, H. S.; Maravin, Y.; McCarthy, R.; Melnitchouk, A.; Mendes, A.; Mendoza, L.; Mercadante, P. G.; Merkin, M.; Merritt, K. W.; Meyer, A.; Meyer, J.; Michaut, M.; Miettinen, H.; Millet, T.; Mitrevski, J.; Molina, J.; Mommsen, R. K.; Mondal, N. K.; Monk, J.; Moore, R. W.; Moulik, T.; Muanza, G. S.; Mulders, M.; Mulhearn, M.; Mundal, O.; Mundim, L.; Nagy, E.; Naimuddin, M.; Narain, M.; Naumann, N. A.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Neustroev, P.; Noeding, C.; Nomerotski, A.; Novaes, Sérgio Ferraz; Nunnemann, T.; O'Dell, V.; O'Neil, D. C.; Obrant, G.; Ochando, C.; Oguri, V.; Oliveira, N.; Onoprienko, D.; Oshima, N.; Osta, J.; Otec, R.; Otero y Garzon, G. J.; Owen, M.; Padley, P.; Pangilinan, M.; Parashar, N.; Park, S.-J.; Park, S. K.; Parsons, J.; Partridge, R.; Parua, N.; Patwa, A.; Pawloski, G.; Perea, P. M.; Peters, K.; Peters, Y.; Petroff, P.; Petteni, M.; Piegaia, R.; Piper, J.; Pleier, M.-A.; Podesta-Lerma, P. L. M.; Podstavkov, V. M.; Pogorelov, Y.; Pol, M.-E.; Pompos, A.; Pope, B. G.; Popov, A. V.; Potter, C.; Prado da Silva, W. L.; Prosper, H. B.; Protopopescu, S.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Rangel, S.; Rani, K. J.; Ranjan, K.; Ratoff, P. N.; Renkel, P.; Reucroft, S.; Rijssenbeek, M.; Ripp-Baudot, I.; Rizatdinova, F.; Robinson, S.; Rodrigues, R. F.; Royon, C.; Rubinov, P.; Ruchti, R.; Sajot, G.; Sanchez-Hernandez, A.; Sanders, M. P.; Santoro, A.; Savage, G.; Sawyer, L.; Scanlon, T.; Schaile, D.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schieferdecker, P.; Schmitt, C.; Schwanenberger, C.; Schwartzman, A.; Schwienhorst, R.; Sekaric, J.; Sengupta, S.; Severini, H.; Shabalina, E.; Shamim, M.; Shary, V.; Shchukin, A. A.; Shivpuri, R. K.; Shpakov, D.; Siccardi, V.; Sidwell, A.; Simak, V.; Sirotenko, V.; Skubic, P.; Slattery, P.; Smith, R. P.; Snow, G. R.; Snow, J.; Snyder, S.; Soeldner-Rembold, S.; Song, X.; Sonnenschein, L.; Sopczak, A.; Sosebee, M.; Soustruznik, K.; Souza, M.; Spurlock, B.; Stark, J.; Steele, J.; Stolin, V.; Stone, A.; Stoyanova, D. A.; Strandberg, J.; Strandberg, S.; Strang, M. A.; Strauss, M.; Stroehmer, R.; Strom, D.; Strovink, M.; Stutte, L.; Sumowidagdo, S.; Svoisky, P.; Sznajder, A.; Talby, M.; Tamburello, P.; Taylor, W.; Telford, P.; Temple, J.; Tiller, B.; Titov, M.; Tokmenin, V. V.; Tomoto, M.; Toole, T.; Torchiani, I.; Trefzger, T.; Trincaz-Duvoid, S.; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Tuts, P. M.; Unalan, R.; Uvarov, L.; Uvarov, S.; Uzunyan, S.; Vachon, B.; van den Berg, P. J.; van Eijk, B.; Van Kooten, R.; van Leeuwen, W. M.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Vartapetian, A.; Vasilyev, I. A.; Vaupel, M.; Verdier, P.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Villeneuve-Seguier, F.; Vint, P.; Vlimant, J.-R.; Von Toerne, E.; Voutilainen, M.; Vreeswijk, M.; Wahl, H. D.; Wang, L.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Weber, G.; Weber, M.; Weerts, H.; Wermes, N.; Wetstein, M.; White, A.; Wicke, D.; Wilson, G. W.; Wimpenny, S. J.; Wobisch, M.; Womersley, J.; Wood, D. R.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Yacoob, S.; Yamada, R.; Yan, M.; Yasuda, T.; Yatsunenko, Y. A.; Yip, K.; Yoo, H. D.; Youn, S. W.; Yu, C.; Yu, J.; Yurkewicz, A.; Zatserklyaniy, A.; Zeitnitz, C.; Zhang, D.; Zhao, T.; Zhou, B.; Zhu, J.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zieminski, A.; Zutshi, V.; Zverev, E. G.; D0 Collaboration
Contribuinte(s)	Universidade Estadual Paulista (UNESP)
Data(s)	20/05/2014 20/05/2014 01/06/2007
Resumo	We search for the technicolor process p(p) over bar ->rho(T)/omega(T)-> W pi(T) in events containing one electron and two jets, in data corresponding to an integrated luminosity of 390 pb(-1), recorded by the D0 experiment at the Fermilab Tevatron. Technicolor predicts that technipions pi(T) decay dominantly into b(b) over bar, b(c) over bar, or (b) over barc, depending on their charge. In these events b and c quarks are identified by their secondary decay vertices within jets. Two analysis methods based on topological variables are presented. Since no excess above the standard model prediction was found, the result is presented as an exclusion in the pi(T) vs rho(T) mass plane for a given set of model parameters.
Formato	7
Identificador	http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.98.221801 Physical Review Letters. College Pk: American Physical Soc, v. 98, n. 22, 7 p., 2007. 0031-9007 http://hdl.handle.net/11449/23996 10.1103/PhysRevLett.98.221801 WOS:000246910100014 WOS000246910100014.pdf
Idioma(s)	eng
Publicador	American Physical Soc
Relação	Physical Review Letters
Direitos	closedAccess
Tipo	info:eu-repo/semantics/article

Acesso ao item digital