Análise de superfícies seletivas de freqüência através do método dos potenciais vetorias de Hertz

This work presents a theoretical and numerical analysis of Frequency Selective Surfaces (FSS) with elements as rectangular patch, thin dipole and crossed dipole mounted on uniaxial anisotropic dielectric substrate layers for orientations of the optical axis along x, y and z directions. The analysis of these structures is accomplished by combination of the Hertz vector potentials method and the Galerkin's technique, in the Fourier transform-domain, using entire¬domain basis functions. This study consists in the use of one more technique for analysis of FSS on anisotropic dielectric substrate. And presents as the main contribution the introduction of one more project parameter to determinate the transmission and reflection characteristics of periodic structures, from the use of anisotropic dielectric with orientations of the crystal optical axis along x, y and z directions. To validate this analysis, the numerical results of this work are compared to those obtained by other authors, for FSS structures on anisotropic and isotropic dielectric substrates. Also are compared experimental results and the numerical correspondent ones for the FSS isotropic case. The technique proposed in this work is accurate and efficient. ln a second moment, curves are presented for the transmission and reflection characteristics of the FSS structures using conducting patch elements mounted on uniaxial anisotropic dielectric substrate layers with optical axis oriented along x, y and z directions. From analysis of these curves, the performance of the considered FSS structures as function of the optical axis orientation is described

Este trabalho apresneta uma análise teórica e numérica de superfícies seletivas de freqüência, ou Frequency Secective Surface (FSS) com elementos do tipo patch retangular, dipolo fino e dipolo cruzado sobre camadas de substratos dielétricos anisotrópicos uniaxiais para orientações de eixo óptico nas direções x, y e z. A análise destas estruturas é realizada através do método dos potenciais vetoriais de Hertz em combinação com a técnica numérica de Galerkin , no domínio da transforma de Fourier, utilizando-se funções de base de domínio inteiro. Este estudo consiste no emprego de mais uma técnica para análise de FSS sobre substratos dielétrico anisotrópicos. E apresenta com o principal constribuição a introdução de mais um parâmetro de projeto para determinação das características de transmissão e reflexão das estruturas periódicas, a partir da utilização de dielétricos anisotrópicos com orientações de eixo óptico nas direções x, y e z do sistema de coordenadas cartesianas. Com o objetivo de validar a técnica utilizada, são realizadas comparações entre os resultados numéricos obtidos neste trabalho e os resultados apresentados por outros autores, para o caso de estruturas de FSS com substratos dielétricos anisotrópicos e isotrópicos. Também são feitas confrontações entre resultados experimentais e os numéricos correspondentes para o caso de FSS com material isotrópicos. O método de análise proposto mostrou-se bastante eficiente e preciso. Em um segundo momento, são apresentadas as curvas das características de transmissão e reflexão de FSS usando patches condutores sobre uma camada dielétrica anisotrópica uniaxial com eixo ópitco orientado nas direções x, y e z. A partir da análise destas curvas, o desempenho das estgruturas de FSS consideradas em função da orientação do eixo óptico é descrito