Determinação de parâmetros de criticalidade, fluxo e potência em placas planas pelo método LTSn
Contribuinte(s) |
Borges, Volnei |
---|---|
Data(s) |
06/06/2007
2002
|
Resumo |
O objetivo deste trabalho consiste em aplicar o método LTSn em cálculos de parâmetros críticos como Keff, espessura e concentração atômica e obtenção do fiuxo escalar, da potência específica e do enriquecimento do combustível em placa plana homogenea e heterogênea, considerando modelo multigrupo e em diversas ordens de quadraturas. O método LTSn consiste na aplicação da transformada de Laplace em um conjunto de equações~de ordenadas discretas gerado pela aproximação SN, resultando em um sistema de equações algébricas simbólicas dependentes do parâmetro complexo s e reconstrução dos fluxos angulares pela técnica de expansão de Heaviside. A aplicação do método LTSn reduz a soluçào de um problema de autovalor, a solução de uma equação transcedental, possibilitando a obtenção de parâmetros críticos. Simulações numéricas são apresentadas. |
Formato |
application/pdf |
Identificador |
http://hdl.handle.net/10183/1872 000360639 |
Idioma(s) |
por |
Direitos |
Open Access |
Palavras-Chave | #Método ltsn : Equações de transporte : Criticalidade |
Tipo |
Dissertação |