Electronic structure and screening dynamics of ethene on single domain Si(001) from resonant inelastic X-ray scattering.
| Data(s) |
22/01/2010
22/01/2010
2004
|
|---|---|
| Formato |
4 p. application/pdf |
| Identificador |
0163-1829 http://hdl.handle.net/2445/10826 530290 |
| Idioma(s) |
eng |
| Publicador |
The American Physical Society |
| Relação |
Reproducció digital del document publicat en format paper, proporcionada per PROLA i http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.69.153408 Physical Review B, 2004, vol. 69, núm. 15, p. 153408-1-153408-4 |
| Direitos |
(c) The American Physical Society, 2004 info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Palavras-Chave | #Superfícies (Física) #Estructura electrònica #Propietats òptiques #Electronic structure #Optical properties #Superfícies (Física) |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/article |
