Localización de fallas en sistemas muestreados.


Autoria(s): Tovar Luna, Alma Cristina
Data(s)

19/05/2015

19/05/2015

2011

Resumo

Tesis (Maestro en Ciencias de la Ingeniería Eléctrica con Orientación en Control Automático) UANL, 2011.

UANL

http://www.uanl.mx/

Identificador

http://cd.dgb.uanl.mx/handle/201504211/5282

Relação

Codigo de barras;1080211201

http://cdigital.dgb.uanl.mx/te/1080211201.PDF

Direitos

Atribución-NoComercial-SinDerivadas 2.5 México

http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/2.5/mx/

Palavras-Chave #Sin materia asignada