Process variability-aware proactive reconfiguration technique for mitigating aging effects in nanos scale SRAM lifetime


Autoria(s): Pouyan, Peyman; Amat Bertran, Esteve; Rubio Sola, Jose Antonio
Contribuinte(s)

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica

Universitat Politècnica de Catalunya. HIPICS - Grup de Circuits i Sistemes Integrats d'Altes Prestacions

Resumo

Postprint (published version)

Identificador

http://hdl.handle.net/2117/25966

Idioma(s)

eng

Direitos

Restricted access - publisher's policy

Palavras-Chave #Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions #Nanoelectronics. #Integrated circuits. #Nanotecnologia #Nanoelectrònica #Memòries digitals #Circuits integrats
Tipo

info:eu-repo/semantics/conferenceObject