Electronic structure and screening dynamics of ethene on single domain Si(001) from resonant inelastic X-ray scattering.
| Contribuinte(s) |
Universitat de Barcelona |
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| Data(s) |
04/05/2010
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| Identificador | |
| Idioma(s) |
eng |
| Publicador |
The American Physical Society |
| Direitos |
(c) The American Physical Society, 2004 info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Palavras-Chave | #Superfícies (Física) #Estructura electrònica #Propietats òptiques #Electronic structure #Optical properties #Superfícies (Física) |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/article |
