Phase-modulated ellipsometer using a Fourier transform infrared spectrometer for real time applications


Autoria(s): Canillas i Biosca, Adolf; Pascual Miralles, Esther; Drévillon, B.
Contribuinte(s)

Universitat de Barcelona

Data(s)

08/05/2012

Identificador

http://hdl.handle.net/2445/25058

Idioma(s)

eng

Publicador

American Institute of Physics

Direitos

(c) American Institute of Physics 1993

info:eu-repo/semantics/openAccess

Palavras-Chave #El·lipsometria #Fourier transformations #Espectroscòpia infraroja #Pel·lícules fines #Ellipsometry #Fourier transformations #Infrared spectroscopy #Thin films
Tipo

info:eu-repo/semantics/article