Structure of 60° dislocations at the GaAs/Si interface
| Contribuinte(s) |
Universitat de Barcelona |
|---|---|
| Data(s) |
02/05/2012
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| Identificador | |
| Idioma(s) |
eng |
| Publicador |
American Institute of Physics |
| Direitos |
(c) American Institute of Physics, 1996 info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Palavras-Chave | #Microscòpia electrònica #Feixos moleculars #Electron microscopy #Molecular beams |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/article |
