Condiciones críticas de medición en las mediciones cuantitativas de reflectancia. Errores sistemticos
| Contribuinte(s) |
Universitat de Barcelona |
|---|---|
| Data(s) |
26/07/2011
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| Resumo |
Se establecen las condiciones criticas que necesariamente tienen que cumplirse cuando se pretende calcular las constantes Opticas (n v k) de un material opaco, mediante las mediciones de reflectancia en dos medios de distinto ndice de refraccion. |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
spa |
| Publicador |
Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA) |
| Direitos |
(c) Vendrell-Saz, et al., 1979 |
| Palavras-Chave | #Difracció #Refracció #Diffraction #Refraction |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/article |
