Proceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminar


Autoria(s): Besteiro, J.; Vendrell Saz, Màrius; López Soler, Ángel; Bosch Figueroa, J. M.; Font-Altaba, M. (Manuel), 1922-2005
Contribuinte(s)

Universitat de Barcelona

Data(s)

26/07/2011

Resumo

Para el cálculo de las constantes fsicas n, k, a partir de las medidas de reflectancia en dos medios de índice de refracción conocido y diferente, se necesita emplear criterios estadísticos, lo que obliga a obtener gran cantidad de datos experimentales y por consiguiente el cálculo es muy laborioso. Se describe el método automàtico utilizado para la simplificación de estas operaciones que permiten realizar dichos cálculos en gran rapidez.

Identificador

http://hdl.handle.net/2445/18182

Idioma(s)

spa

Publicador

Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA)

Direitos

(c) Besteiro, et al., 1974

Palavras-Chave #Microscòpia #Refracció #Microscopy #Refraction
Tipo

info:eu-repo/semantics/article