Proceso automático para la medida de las reflectancias. 1.-Descripción preliminar
| Contribuinte(s) |
Universitat de Barcelona |
|---|---|
| Data(s) |
26/07/2011
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| Resumo |
Para el cálculo de las constantes fsicas n, k, a partir de las medidas de reflectancia en dos medios de índice de refracción conocido y diferente, se necesita emplear criterios estadísticos, lo que obliga a obtener gran cantidad de datos experimentales y por consiguiente el cálculo es muy laborioso. Se describe el método automàtico utilizado para la simplificación de estas operaciones que permiten realizar dichos cálculos en gran rapidez. |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
spa |
| Publicador |
Universitat de Barcelona (UB). Institut de Cincias de la Terra Jaume Almera (ICTJA) |
| Direitos |
(c) Besteiro, et al., 1974 |
| Palavras-Chave | #Microscòpia #Refracció #Microscopy #Refraction |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/article |