Non-invasive RF built-in testing using on-chip temperature sensors
| Contribuinte(s) |
Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica |
|---|---|
| Data(s) |
10/05/2012
|
| Resumo |
This poster shows how to efficiently observe high-frequency figures of merit in RF circuits by measuring DC temperature with CMOS-compatible built-in sensors. |
| Identificador | |
| Idioma(s) |
eng |
| Publicador |
IEEE Computer Society Publications |
| Direitos |
Open Access |
| Palavras-Chave | #Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica i telecomunicacions::Circuits electrònics #Radio frequency integrated circuits #Circuits integrats -- Disseny |
| Tipo |
info:eu-repo/semantics/other |
