A built-in self-test technique for high speed analog-to-digital converters
| Contribuinte(s) |
Goes, João Oliveira, Luís |
|---|---|
| Data(s) |
24/02/2015
01/09/2014
01/02/2015
01/02/2018
|
| Resumo |
Fundação para a Ciência e a Tecnologia (FCT) - PhD grant (SFRH/BD/62568/2009) |
| Identificador |
http://hdl.handle.net/10362/14389 101308248 |
| Idioma(s) |
eng |
| Direitos |
embargoedAccess |
| Palavras-Chave | #Analog-to-digital converter (ADC) #Built-in self-test (BIST) #High speed conversion #Oscillator #Phase-locked loop (PLL) |
| Tipo |
doctoralThesis |
